1 Új Ultrahangos PA vizsgálati eljárások a különböző anyagú sínek hegesztési varratainak ellenőrzésére STARMANS electronics, s.r.o., Praha Material Inspector, Technical Expertise,Commercial and Service LTD. Bánki Ede H SZEKSZÁRD. Kossuth Lajos Str. 39. Phone/fax: / Cell: / gmail.com
Különböző anyagú sínek alapanyagainak,hegesztési varratainak ellenőrzésére korszerű Fázisvezérelt ultrahangos vizsgálati módszerrel. Cél a legmegbízhatóbban kimutatni az alapanyagban és a varratokban lévő repedéseket, öntési hibákat, valamint összeolvadási hibákat! A viszgálati technológiát és a vizsgálati kivitelezését mind az előgyártás, mind a helyszíni beépítésnél lévő körülményeket figyelembe kellet venni a vizsgálhatóság szempontjából. Ezért is helyeztük előnybe a Fázivezérelt vizsgálati módszert, hisz rövidebb idő alatt kevesebb fej és program cserével precízebben tudjuk megtalálni a hibákat az anyagok forgatása nélkül! Nem könnyű feladat a tranziens varratok helyes vizsgálata, hisz tudomásom szerint még világviszonylatban sincs 100%-ban megoldva az ultrahangfizika törvényszerűségei végett. Bevezetés, feladatok: Különböző anyagú sínek alapanyagainak,hegesztési varratainak ellenőrzésére korszerű Fázisvezérelt ultrahangos vizsgálati módszerrel. Cél a legmegbízhatóbban kimutatni az alapanyagban és a varratokban lévő repedéseket, öntési hibákat, valamint összeolvadási hibákat! A viszgálati technológiát és a vizsgálati kivitelezését mind az előgyártás, mind a helyszíni beépítésnél lévő körülményeket figyelembe kellet venni a vizsgálhatóság szempontjából. Ezért is helyeztük előnybe a Fázivezérelt vizsgálati módszert, hisz rövidebb idő alatt kevesebb fej és program cserével precízebben tudjuk megtalálni a hibákat az anyagok forgatása nélkül! Nem könnyű feladat a tranziens varratok helyes vizsgálata, hisz tudomásom szerint még világviszonylatban sincs 100%-ban megoldva az ultrahangfizika törvényszerűségei végett. 2
Vizsgáló egység rövid ismertetése: 3 1.-A készülék Cseh : STARMANS DIO 1000 PA típusú EN , ASME 2541, ASTM E2491, ASTM E2700 A-scan, B-scan, C-scan, S-scan, L-scan, Weld -manager 2.-A PA fejek: 0,5; 1; 2; 4MHz Freqvenciájuak, 8 és 16 Kristályosak 36°-os Pa szögelőtéttel. 3.-Hitelesítő Etelonok: V-3 / 25mm vastag, R25; R50; és R100-as Hitelesítő, Hadfield Sín etalon Ø2mm; Ø3mmtest furatokkal és hornyokkal.
Sín etalon rajz. A sín metszeti képe A sín etalon metszeti képe a tesztfuratokkal és a teszt nútokkal
A vizsgáló egység hitelesítései: 1.-Kiválasztjuk a sínfej hitelesítéséhez az 1MHz, 16kristályos Pa fejet, valamint a 36°-os szögelőtétet és a készüléken beállítjuk a fej paramétereit 2.- A következő lépésben a kiválasztjuk DAC módszert és itt választjuk ki a KHF / DSR/ Ø 3mm hibahatár görbe kirajzolási kritériumait. 3.- Majd a készülék programjában lévő automata calibrációs funkcióval a kiválasztott fejet a várható mérési tartományra hangútra a V 3 etalonon hitelesítjük. 4.- A DAC kiválasztása után megkeressük az 1. számú KHF jelét melyet 80%-ra erősítünk és aktiváljuk. Ez lesz a DAC görbe első pontja illetve az alaperősítésünk. 5.- Megkeressük a 2.számú KHF legnagyobb jelét és aktiváljuk, ez lesz a DAC görbe második pontja. 6.- Megkeressük a 3.számú KHF legnagyobb jelét és aktiváljuk, ez lesz a DAC görbe harmadik pontja. 7.- A furatok legnagyobb jeleinek megkereséséhez használjuk az A- SCAN képernyőt! 4
Sínfej felső 1. számú Ø3mm-es KHF teszt furatának „A” és „PA” képe
Sínfej Középső 2. számú Ø3mm-es KHF test furatának „A” és „PA” képe 5
Sínfej Alsó 3.számú Ø3mm-es KHF teszt furatának „A” és „PA” képe 6
Sínfej hátfal jelének „A” és „PA” képe 7
Sínfej hátfali horony jelének „A” és „PA” képe 7
Sínfej oldalsó 4.számú Ø2mm-es KHF test furatának „A” és „PA” képe 8
Sínfej oldalsó 5.számú Ø2mm-es KHF test furatának „A” és „PA” képe 9
12
13 A vizsgáló egység áthitelesítése: 1.-Kiválasztjuk a talp hitelesítéséhez az 4MHz, 8kristályos Pa fejet, valamint a 36°-os szögelőtétet és a készüléken beállítjuk a fej paramétereit 2.- A következő lépésben a kiválasztjuk DAC módszert és itt választjuk ki a KHF / DSR/ Ø 2mm hibahatár görbe kirajzolási kritériumait. 3.- Majd a készülék programjában lévő automata calibrációs funkcióval a kiválasztott fejet a várható mérési tartományra hangútra a V 3 etalonon hitelesítjük. 4.- A DAC kiválasztása után megkeressük az 10. számú KHF jelét melyet 80%-ra erősítünk és aktiváljuk. Ez lesz a DAC görbe első pontja illetve az alaperősítésünk. 5.- Megkeressük a 11.számú KHF legnagyobb jelét és aktiváljuk, ez lesz a DAC görbe második pontja. 6.- Megkeressük a 12.számú KHF legnagyobb jelét és aktiváljuk, ez lesz a DAC görbe harmadik pontja. 7.- A furatok legnagyobb jeleinek megkereséséhez használjuk az A- SCAN képernyőt!
Síntalp felső 10. számú Ø2mm-es KHF teszt furatának „A” és „PA” képe 13
Síntalp középső 11. számú Ø2mm-es KHF teszt furatának „A” és „PA” képe 13
Síntalp alsó 12. számú Ø2mm-es KHF teszt furatának „A” és „PA” képe 13
Síntalp alsó N3. számú 3x2mm-es teszt nútjának „A” és „PA” képe 14
Fényképek a hitelesítésekről 15
Összefoglalás 16 A mai prezentációmmal szerettem volna bemutatni, hogy a hagyományos sínek és a hetfield sínek alapanyag vizsgálata valamint az átmeneti (tranziens ) varratok fázisvezérelt ultrahangos vizsgálati módszerrel eredményesen megoldható. Lényegesen gyorsabban végezhető el a vizsgálat, hisz nem kell fejet cserélni és újra áthitelesíteni a vizsgáló egységet majd újra vizsgálni varratokat, alapanyagot. A hibák megtalálásában nagy segítséget nyújt, hogy a scen gomb megnyomásával oda-vissza válthatjuk a hagyományos „ A” képet és a Pa- szektorális ( térbeli ) képet. A szektorális képen a szögkurzor használatával a regisztrátum optimálisabb nagyságát kapjuk meg. Az értékelést az „A” képen levö DAC görbe és a hangút skála segítségével végezzük el. A hibákról mentést készíthetünk és pendreivon átmásoljuk a PC-re Így már jegyzőkönyvbe másolhatjuk, vagy kinyomtathatjuk.
17 A feladatok kikisérletezését lassította, hogy különböző szabványos etalonokat kellett gyártani a DAC felvételéhez szükséges furatokkal, nútokkal, valamint speciális Pa fejeket és előtéteket egyedi gyártásban kellett elkészítetni a Starmansnál. Szerencsére nagyon segítőkészek voltak és minden kérésünket teljesítették. Most van gyártás alatt egy db 2MHz-es és 1MHz-es 8kritályos kis méretű Pa fej, amely kipróbálásától a síntalpban várhatóan jelentkező anyaghiányokat, ( repedéseket ) még egyértelmübben tudjuk kimutatni és értékelni. A helyszíni varratvizsgálatoknál nem lehet forgatni a síneket ezért is nagyon előnyös fázisvezérelt módszerű vizsgálat. Röviden ennyit kívántam jelenleg bemutatni és természetesen várom hozzászólásaikat, észrevételeiket és kérdéseiket.
1 Material Inspector, Technical Expertise,Commercial and Service LTD. Bánki, Ede H SZEKSZÁRD Kossuth Lajos utca 39. Phone/fax: / Cell: / Köszönöm figyelmüket! További kérdéseikkel várom Önöket Thank you for your attention! I’m waiting for your questions.