S UGÁRZÁS KÖLCSÖNHATÁSA AZ ANYAGGAL XPS MÓDSZEREK TÍPUSAI ÉS ANALITIKAI ALKALMAZÁSAI C.S. Fadley - X-ray photoelectron spectroscopy: Progess and perspectives, J. Electron Spectroscopy and Related Phenomena (2010) 2-32 Készítették: Pásztor Diána Mester Dávid vegyészmérnök MSc
XPS ELVI ALAPJAI Fotoionizáció (hυ= eV)
F OTOELEKTRON SPEKTRUM
A LKALMAZÁS Áttekintő spektrumok felvétele Mg vagy Al Kα Spektrumvonalak intenzitása-atom mennyiségével arányos KvalitatívKvantitatív
C ORE LEVEL
C ORE LEVEL KÉMIAI ELTOLÓDÁS Legelőször Na 2 S 2 O 3 A két S különböző kémiai állapotban van jelen Felületen lévő helyek kémiai és szerkezeti tulajdonságairól ad egyedi információt
T OVÁBBI JELENSÉGEK Core level multiplettek felhasadása Betöltetlen vegyértékhéjú rendszerek emissziójakor Mágneses és egyéb komplex anyagok vegyértékállapota és kémiai kötései Fotoelektron diffrakció és holográfia Fotoelektron emisszió irányát és szögét változtatjuk Különböző atomokból kilépő elektron hullámok komponensei miatt fellépő aniztoróp szórás és interferencia
Cirkuláris és lineáris dikroizmus Mindenütt jelen van az XPS-ben
S ZÖGFELOLDOTT FOTOEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA (ARPES)
T OVÁBBI XPS TECHNIKÁK Spinfelbontásos XPS (Spin-resolved XPS, SRXPS) - Detektorok továbbfejlesztése szükséges - Kihasználja a spin-pálya kölcsönhatást - Elektronspin mérhetővé válik - Mágneses anyagoknál nagyon fontos - Nagy mérési idő
T OVÁBBI XPS TECHNIKÁK Kemény röntgensugárzással gerjesztett XPS (XPS with hard X-ray excitation, HXPS) - Korábbi módszerek érzékenységének javítása
T OVÁBBI XPS TECHNIKÁK Időfelbontásos XPS (Time-resolved XPS, TRXPS) - Perturbálás után mérjük a mintában lecsengő folyamat időfüggését - min fs - PH és PD-val alkalmas lehet időfelbontásos atomi szintű képalkotásra
R ÖNTGEN FOTOELEKTRON DIFFRAKCIÓ ALKALMAZÁSA - Komplex rendszerekben atomi pozíciók pontos meghatározása
K ÖSZÖNJÜK A FIGYELMET !