E. Szilágyi1, E. Kótai1, D. Rata2, G. Vankó1

Slides:



Advertisements
Hasonló előadás
Szén nanocsövek STM leképezésének elméleti vizsgálata
Advertisements

Szakítódiagram órai munkát segítő Szakitódiagram.
Verő Balázs Dunaújvárosi Főiskola AGY Kecskemét, 2008 június 4.
2010. augusztus 16.Hungarian Teacher Program, CERN1 Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by OTKA MB
Nagyenergiájú ionsugarakat felhasználó analitikai technikák
Kábelek Készítette: Mecser Dávid. A kábel: A kábel olyan, villamos energia átvitelére alkalmas szigetelőanyaggal körülvett, víz és mechanikai behatások.
Negatív hidrogénionok keletkezése 7 keV-es OH + + Ar és OH + + aceton ütközésekben: Egy általános mechanizmus hidrogént tartalmazó molekuláris rendszerekre.
Kolozsi Zoltán Fizikus MSc 2. évf. (Alkalmazott fizika)
Atomrácsos kristályok
A folyadékok nyomása.
Rétegmegmunkálás marással
FÉLVEZETŐ-FIZIKAI ÖSSZEFOGLALÓ
1. Anyagvizsgálat Feladat Tervezés számára információt nyújtani.
Felületi plazmonok optikai vizsgálata
Töltött részecske sugárzások spektroszkópiai alkalmazásai
Az Univerzum térképe - ELTE 2001
A lyukas dob hangjai Hagymási Imre Bolyai Kollégium fizikus szakszeminárium november 15.
Vékonyfilm nm körüli vastagság ultravékonyfilm - 1 nm körüli vastagság CVD (chemical vapour deposition) kémiai gőz leválasztás LPD (laser photo-deposition)
100 nm Együtt porlasztott 30 at% Mn + 70 at% Cu minta (CM77) – Árpi bácsi vékonyítása Nagy Cu többletes szemcsék – körülötte vélhetően a második fázis.
VÉKONYRÉTEG LEVÁLASZTÁSA FIZIKAI MÓDSZEREKKEL
Hősugárzás vizsgálata integrált termoelemmel
Transzmissziós elektronmikroszkóp
Készítette: Dénes Karin (Ipolyság) és Patyi Gábor (Szabadka)
1 Mikrofluidika Atomi rétegleválasztás (ALD) Készítette: Szemenyei F. Orsolya Témavezető: Baji Zsófia
A mikrofázisok közötti taszító és vonzó kölcsönhatások: DLVO-elmélet
Ülepítés gravitációs erőtérben Fényszórás (sztatikus és dinamikus)
Pfeifer Judit és Arató Péter
Logisztikai és Gyártástechnikai Intézet
5. GÁZLÉZEREK Lézeranyag: kis nyomású (0, Torr) gáz, vagy gázelegy Lézerátmenet: elektronszintek között (UV és látható lézerek) rezgési szintek.
Veszprémi Viktor Wigner Fizikai Kutatóközpont OTKA NK81447
Kérdésekre válaszok Zoltán Fodor KFKI – Research Institute for Particle and Nuclear Physics CERN.
Vékonyréteg szerkezetek mélységprofil-analízise
Kőzetek gázáteresztő- képességének vizsgálata lézeres fotoakusztikus módszerrel (és egyéb alkalmazások) Bozóki Zoltán 1, Tóth Nikolett 2, Filus Zoltán.
XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia
Rutherford kísérletei
mágneses ellenállás , ahol MR a negatív mágneses ellenállás,
NAGYFELBONTÁSÚ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA és a JEMS SZIMULÁCIÓS PROGRAM Készítette:Gál Réka, g g g g g ____ rrrr eeee kkkk aaaa yyyy aaaa hhhh oooo oooo....
SiC szemcsék TEM vizsgálata Si hordozón Készítette: Bucz Gábor, Földes Ferenc Gimnázium Tanára: dr. Zsúdel László, Földes Ferenc.
Frank György, Berzsenyi Dániel E. Gimnázium, Sopron
NAGYFELBONTÁSÚ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA és a JEMS SZIMULÁCIÓS PROGRAM
ZnO réteg adalékolása napelemkontaktus céljára
Kártyás Bálint MFA nyári iskola Puskás Tivadar Távközlési Technikum
Félvezető fotoellenállások dr. Mizsei János, 2006.
Spintronika (Saláta).
Bipoláris technológia Mizsei János Hodossy Sándor BME-EET
Fehérjerétegek leválasztása és vizsgálata Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet (MTA-MFA), Budapest Lovassy László Gimnázium, Veszprém Janosov.
Nanorészecskék fizikája, kvantumkémiai effektusok
A MAGYAR TUDOMÁNY ÜNNEPE MTA – november 9. Nanoszerkezetek Mihály György BME Fizika Tanszék Spintronika spin polarizált elektron traszport Andrejev-spektroszkópia.
III. Kontaktusok tulajdonságai és számítógépes modellezés 4. előadás: Hertz-kontaktus; ütközés Budapest, szeptember 28.
Optomechatronika II. Vékonyrétegek - bevonatok
A Van der Waals-gáz molekuláris dinamikai modellezése Készítette: Kómár Péter Témavezető: Dr. Tichy Géza TDK konferencia
CCD spektrométerek szerepe ma
Ohm-törvény Az Ohm-törvény egy fizikai törvényszerűség, amely egy elektromos vezetékszakaszon átfolyó áram erőssége és a rajta eső feszültség összefüggését.
Szén nanoszerkezetekkel erősített szilícium nitrid alapú kerámiák vizsgálata Berezvai Orsolya Témavezető Dr. Tapasztó Orsolya Vékonyréteg-fizika osztály.
IN-SITU MIKROMECHANIKAI DEFORMÁCIÓK Hegyi Ádám István május 27.
Elektronmikroszkópia
Készítette: Baricz Anita - Áprily Lajos Főgimnázium, Brassó Gréczi László – Andrássy Gyula Szakközépiskola, Miskolc Csoportvezetők:dr. Balázsi Katalin.
Az atommag alapvető tulajdonságai
Ipari vékonyrétegek Lovics Riku Phd. hallgató.
TÁMOP /1-2F Analitika gyakorlat 12. évfolyam Fizikai és kémiai tulajdonság mérése műszeres vizsgálatokkal Fogarasi József 2009.
HŐMÉRSÉKLETMÉRÉS Udvarhelyi Nándor április 16.
Atomrácsos kristályok
Nanotechnológiai kísérletek
Szerkezet Vázlat Bevezetés Aggregáció kölcsönhatások, erők
8. AGY „Digitális technikák fejlődése az anyagvizsgálatban”
Nagyrugalmas deformáció Vázlat
Debreceni Egyetem Fizikai Intézet.
Filep Ádám, Dr. Mertinger Valéria
Szigetelő anyagok ionnyalábos analízise Fizikus vándorgyűlés, Szeged augusztus Szilágyi Edit, Kótai Endre MTA Wigner FK, Nukleáris Anyagtudományi.
Optikai mérések műszeres analitikusok számára
Előadás másolata:

Deformáció meghatározása epitaxiálisan növesztett La1-xSrxCoO3 rétegekben E. Szilágyi1, E. Kótai1, D. Rata2, G. Vankó1 1MTA Wigner Fizikai Kutatóközpont Részecske- és Magfizikai Intézet, Budapest 2Max-Planck-Institut für Chemische Physik fester Stoffe, Dresden 2013. aug. 23 Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen Vázlat Miért érdekes a deformáció La1-xSrxCoO3 rétegekben? Mire jó az Rutherford-visszaszórásos spektrometria csatornahatással kombinált (RBS/C) mérések? Deformáció meghatározása RBS/C-vel. Eredmények. Összefoglalás. 2013. aug. 23 Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

Miért érdekes a deformáció La1-xSrxCoO3 rétegekben? La1-xSrxCoO3 : különleges vezetési tulajdonságok (CMR, GMR) 30–100 nm La1-xSrxCoO3 epitaxiális rétegeknél az illeszkedési hibából származó feszültség (IHF), illetve ennek hatására kialakuló deformáció során: az összenyomott rétegek fémesek, a meghúzott rétegek pedig szigetelők. Az IHF néhány százaléknyi különbsége több nagyságrendnyi változást okoz! Az elektromos tulajdonságok így egy külső paraméterrel hangolhatók, ami különösen érdekessé teszi ezeket a rétegeket az oxid alapú elektronika egyre fejlődő területén . hordozó Deformáció nyomásnál: ah < ar illetve húzásnál: ah> ar réteg 2013. aug. 23 Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

Rutherford-visszaszórásos spektrometria csatornahatással kombinálva Az RBS egy szóráskísérlet, ahol egy adott térszögbe visszaszórt ionok energiaeloszlását határozzuk meg. a szóró atom tömegétől, a mintában elfoglalt helyzetétől. Egykristályos minta: csatornahatás d 0=0 kristályhibák kimutatása, idegen atomok rácslokalizációja, epitaxiális rétegek vizsgálata, …. 2013. aug. 23 Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

Deformáció meghatározása RBS/C-vel. Deformált epitaxiális rétegeknél a kristályirányok megváltozása mérhető, és ebből a redukált deformációs tenzor meghatározható. dhkl=Q’hkl-Qhkl Kristályirányok {100} köbös rácsnál 2013. aug. 23 Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen Kísérletek Minta készítés: Impulzuslézeres vékonyréteg-leválasztás (PLD) La0.7Sr0.3CoO3 réteg sztöchiometrikus céltárgy, hordozó: 5x5 mm2-es LaAlO3 (001); a=3.789 Å, illetve SrTiO3 (001); a=3.901 Å, Leválasztás hőmérséklete 650 oC, 3.5 x 10-1 mbar O2, 600 mbar O2-ban hűtik szobahőmérsékletre. Utólag 1 mm-es csíkban 1 keV-es Ar-nal leporlasztottuk a rétegeket. mérések: Elemösszetétel, rétegvastagság: RBS. Hibaszerkezet: RBS/C – 1500, 2000 és 2500 keV-en. Redukált deformációs tenzor: RBS/C – szögszken. 2013. aug. 23 Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

Rétegvastagság, hibaszerkezet Hordozó: SrTiO3 Hordozó: LaAlO3 Kiértékelés: RBX program [E. Kótai] 40 nm La0.7Sr0.3Co0.9O3 film, 2.5 nm „amorf” réteg a felületen, 9%, illetve 1 %-nyi ponthiba, valamint deformáció. 2013. aug. 23 Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen Deformáció irányban a nagyon pontos mérés! relatív hiba: 0.01o síkon keresztül nyomó deformálatlan hordozók húzó 2013. aug. 23 Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

Deformáció mélységfüggése 2013. aug. 23 Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen Összefoglalás Az RBS/C mérésekből a rétegvastagság, elemösszetétel mellett meghatározható a hibaszerkezet és a redukált deformációs tenzor a mélység függvényében. A deformációs tenzor ismeretében a rácsparaméterek, cellatérfogatok számolhatók. 2013. aug. 23 Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen Köszönet Sulyok Attilának, a minta porlasztásáért, Zwickl Zoltánnak, a gyorsító üzemeltetéséért, Majthényi Rózsának, a mérésekben nyújtott segítségéért, ERC-StG-259709 és OTKA K 72597 projekteknek, a hallgatóságnak a figyelméért! 2013. aug. 23 Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen