NAGYFELBONTÁSÚ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA és a JEMS SZIMULÁCIÓS PROGRAM

Az előadások a következő témára: "NAGYFELBONTÁSÚ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA és a JEMS SZIMULÁCIÓS PROGRAM"— Előadás másolata:

1 NAGYFELBONTÁSÚ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA és a JEMS SZIMULÁCIÓS PROGRAM
Készítette: Fehér Áron (Bolyai Farkas Elm. Líc.), Ódor Gergely (Fazekas Mihály Gy. Gimn.) Tanárok: Papp Sándor, Dvorák Cecília Mentor: Fogarassy Zsolt

2 Bevezető A kutatás alatt két az intézetben folyó európai uniós projektbe is bekapcsolódtunk: TEM-es vizsgálattal HIGH-EF ( HRTEM-es vizsgálattal Rodsol ( Mindkét projekt célja újfajta napelem gyártási technológia kialakítása.

3 Ismerkedés Anyagtudományi ismeretek Mintakészítés, vékonyítás
TEM és HRTEM működése és kezelése Diffrakció kiértékelő program (intézetben kifejlesztett Process Diffraction) JEMS szimulációs program

4 Transzmissziós Elektronmikroszkóp Működése
Üzemmódok Képi A képsík leképezése Diffrakciós A fókuszsík leképezése

5 TEM A Vékonyfizika osztály feladata: a minták szerkezetének TEM-es vizsgálata A gyártási folyamat: Üveg hordozó Amorf Si felvitele Epitaxiális kristályosítás Vastagabb amorf Si réteg felvitele Lézeres kezelés (Si kristályosítása)

6 TEM Világos látóterű kép Epitaxiálisan növesztett Si Ragasztó
Ikrek Lézerrel kristályosított Si (mag réteg) Üveg

7 TEM [-1 1 0]-s zóna Diffrakció Extra reflexiók ikresedés hatására Az ikresedés hatására extra reflexiók jelennek meg az (1 1 1) típusú síkokra tükrözötten Az extra reflexiók alátámasztották a epitaxiális rétegben az ikrek jelenlétét

8 HRTEM A Vékonyfizika osztály feladata: a minták szerkezetének TEM-es vizsgálata Gyártási folyamat: Si hordozó Au csepp katalizátor SiH4 gáz Si bejut az Au alá Si szál növekedése A folyamat sikerességét a HRTEM-el vizsgáltuk

9 HRTEM Si szál Au

10 HRTEM Si nagyfelbontású rácsképe Amorf ragasztó

11 JEMS szimulációs program
Szimuláció menete: Kísérleti felvételek segítségével modellalkotás Modell alapján atomi szintű szerkezeti felépítés A kísérletben használt mikroszkóp paramétereivel a szimuláció

12 JEMS szimulációs program
Hőkezelt réteg Szimuláció Magréteg Kísérleti felvételek 0,5nm

13 Összefoglalás Az elektronmikroszkóp segítségével információkat nyertünk a vizsgált minták mikroszkopikus tulajdonságairól A szimuláció hozzájárult az atomi szerkezet jobb megértéséhez. Mindezeket felhasználhatjuk a gyártási technológia optimalizálására.

14 Köszönetnyilvánítás Mentorunknak, Fogarassy Zsoltnak
Tanárainknak, Papp Sándornak és Dvorák Cecíliának MFA Nyári Iskola szervezőinek, és az MFA intézetnek Osztályon dolgozó kollégáknak, külön köszönet Radnóczi György Zoltánnak Szüleinknek

15 Köszönjük a figyelmet!