BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY B IOLÓGIAI ÉRZÉKELŐ FELÜLETEK MINŐSÍTÉSE AFM MÓDSZERREL B ONYÁR A.

Slides:



Advertisements
Hasonló előadás
Szén nanocsövek STM leképezésének elméleti vizsgálata
Advertisements

Verő Balázs Dunaújvárosi Főiskola AGY Kecskemét, 2008 június 4.
Radó Krisztián1, Varga Kálmán1, Schunk János2
A HELYSZÍNI LENYOMATOS TECHNIKA KITERJESZTETT ALKALMAZÁSA
Doktori téma vezetője: Prof. Dr. Romvári Róbert, DSc
AGMI Anyagvizsgáló és Minőségellenőrző Rt. Anyagvizsgálati Üzletág
Hogyan működik az elektronikus nyelv
Budapest University of Technology and Economics Elektronikus Eszközök Tanszéke mikofluidika.eet.bme.hu Nagy átbocsátóképességű nanokalorimetriás Lab-on-a-Chip.
MOS integrált áramkörök alkatelemei
Töltött részecske sugárzások spektroszkópiai alkalmazásai
Közeltéri mikroszkópiák
Felülettudomány és nanotechnológia,
MŰSZEREK.
módszerek (FEM-FIM, LEED, RHEED, SPM-STM-AFM)
Vékonyfilm nm körüli vastagság ultravékonyfilm - 1 nm körüli vastagság CVD (chemical vapour deposition) kémiai gőz leválasztás LPD (laser photo-deposition)
SPM (Scanning Probe Microscopy) Dr. Pungor András Miskolc, 2008 április 2 Nanofelbontású méréstechnika.
MOLNÁR LÁSZLÓ MILÁN adjunktus február 9.
ANYAGTUDOMÁNYI VIZSGÁLATI MÓDSZEREK AZ ELEKTRONIKAI HIBAANALITIKÁBAN
STM nanolitográfia Készítette: VARGA Márton,
Szén erősítésű kerámia kompozitok és grafit nanoréteg előállítása
Nanorészecskék és nanorészecskés bevonatok készítése Készítette: Benedek Ádám Mentor: Fülöp Eszter MFA Nyári Iskola 2010.
Készítette: Dénes Karin (Ipolyság) és Patyi Gábor (Szabadka)
1 Mikrofluidika Atomi rétegleválasztás (ALD) Készítette: Szemenyei F. Orsolya Témavezető: Baji Zsófia
Mérések ellipszométerrel - Fehérjerétegek vizsgálata
DNS chipek, DNS hibridizáció
Dr. Nagy Géza Csóka Balázs PTE TTK Általános és Fizikai Kémia Tanszék
A Raman spektroszkópia alkalmazása fémipari kutatásokban
ŐSZI RADIOKÉMIAI NAPOK 2004
XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia
MFA Nyári Iskola június Ádám Andrea 1 FOTÓLITOGRÁFIA Ádám Andrea Tamási Áron Elméleti Líceum, Székelyudvarhely Témavezetők: Vázsonyi Éva,
Frank György, Berzsenyi Dániel E. Gimnázium, Sopron
Ellipszométeres mérések Fehérjék és aminosavak leválasztása és optikai modell készítése Kovács Kinga Dóra ELTE Apáczai Csere János Gyakorlógimnázium és.
NAGYFELBONTÁSÚ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA és a JEMS SZIMULÁCIÓS PROGRAM
ZnO réteg adalékolása napelemkontaktus céljára
A feloldóképesség határa És ami a határon túl van Csik Gabriella Semmelweis Egyetem, Biofizikai Intézet.
Modern Orvostudományi Technológiák a Semmelweis Egyetemen Terápiás modul Molekuláris medicina Balla András, Erdélyi László, Hunyady László Élettani Intézet.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Integrált mikrorendszerek II. MEMS = Micro-Electro-
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Az elektrosztatikus mozgatás Székely Vladimír Mizsei.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 Integrált mikrorendszerek:
Közeltéri mikroszkópiák
Fehérjerétegek leválasztása és vizsgálata Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet (MTA-MFA), Budapest Lovassy László Gimnázium, Veszprém Janosov.
Nanorészecskék fizikája, kvantumkémiai effektusok
Megalehetőségek a nanovilágban
BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY PRECÍZIÓS, GYÁRTÁSKÖZI OPTIKAI MÓDSZEREK ÉS RENDSZEREK ELEKTRONIKAI.
Spindinamika felületi klaszterekben Balogh L., Udvardi L., Szunyogh L. BME Elméleti Fizika Tanszék, Budapest Lazarovits B. MTA Szilárdtestfizikai és Optikai.
Anyagvizsgálat optikai és magneto-optikai spektroszkópiával Kézsmárki István, Fizika Tanszék, docens Magneto-optikai csoport.
Kutatóegyetemi stratégia - NNA FELÜLETI NANOSTRUKTÚRÁK Dr. Harsányi Gábor Tanszékvezető egyetemi tanár Budapest november 17. Nanofizika, nanotechnológia.
Aktív nanoszerkezetű anyagok
Felbontás és kiértékelés lehetőségei a termográfiában
Tömegspektrométeres automatizált ipari szivárgásvizsgálók
Nanofizika, nanotechnológia, anyagtudomány Mihály György akadémikus Magyar Műszaki Értelmiség Napja május 13. Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi.
Pál Gábor, ELTE TTK Biológiai Intézet, Biokémiai Tanszék
Nanofizika, nanotechnológia és anyagtudomány
A FONTOSABB MÓDSZEREK:
Génexpressziós chipek mérési eredményeinek biklaszter analízise.
NMR-en alapuló pórusvizsgálati módszerek
Intelligens iszappelyhek nanotechnológiai konstrukciója és alkalmazása – nem hagyományos módszerek a biológiai szennyvíztisztításban IASON Dr. Fleit Ernő,
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 10. SNOM TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő képzési.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 9. Litográfia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 12. Raman spektroszkópia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel.
Ellipszometria laboratórium Fehérjerétegek előállítása és optikai minősítése Előadók:Kiss Benjamin Ciszterci Szent István Gimnázium Székesfehérvár Kopacz.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 7. NC-AFM TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 5. AFM – Atomerő mikroszkóp TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel.
Ellipszometria laboratórium ELLIPSZOMETRIÁS MÉRÉSEK Fehérjerétegek előállítása és optikai minősítése Előadók:Kiss Benjamin Ciszterci Szent István Gimnázium.
Nagyfeloldású Mikroszkópia
Nanotechnológiai kísérletek
Pt vékonyrétegek nanomintázása
Fotonikus kristályok előállítása és vizsgálata
Atomerő mikroszkópia.
Balogh Ádám Mentorok: Pothorszky Szilárd Zámbó Dániel
Előadás másolata:

BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY B IOLÓGIAI ÉRZÉKELŐ FELÜLETEK MINŐSÍTÉSE AFM MÓDSZERREL B ONYÁR A TTILA, DR. S ÁNTHA H UNOR február 9.

/ Bevezetés – Bioérzékelők 2. AFM* képalkotás 3. Összefoglalás *AFM – Atomerő mikroszkópia (Atomic Force Microscopy) Áttekintés Biológiai érzékelő felületek minősítése AFM módszerrel

/ Bevezetés - Bioérzékelők Bioérzékelő = Biológiailag aktív receptor + Transzducer Bioérzékelők kutatása és fejlesztése: 1. A bioreceptor réteg fejlesztése 2. A transzducer fejlesztése 3. Az immobilizációs eljárások fejlesztése Technológiai tudást igényel Alkalmazott transzducerek: elektrokémiai optikai piezoelektromos (QCM) arany vékonyréteg elektródok Biológiai érzékelő felületek minősítése AFM módszerrel

/ Bevezetés - Bioérzékelők Bioérzékelők -> biológiailag aktív anyagok alkalmazása érzékelő elemként Affinitás típusú bioérzékelők-> szelektív kémiai megkötés természetben előforduló kulcs-zár mechanizmusok alapján DNS szenzorok: komplementer-DNS szálak összekapcsolódása = hibridizáció Biológiai érzékelő felületek minősítése AFM módszerrel Forrás: Multibioszenzorok – receptormátrixBioérzékelők előnyei: nagyfokú szelektivitás, egyszerű és gyors, DNS szintézis révén tetszőleges receptor szekvencia előállítható:  génanalízis,  rákkutatás,  kórokozó detektálás,  környezeti vizsgálatok.

/13 Forrás: A. B. Steel, T. M. Herne – Biológiai érzékelő felületek minősítése AFM módszerrel Az immobilizáció jelentősége Cél: A DNS szálak hibridizációs képességének megőrzése Mit befolyásol az immobilizáció? A szenzor érzékenységét, szelektivitását, élettartamát, stabilitását (megbízhatóságát), regenerálhatóságát. 1. Bevezetés SAM – Self-Assembled Monolayer (önszerveződő monoréteg technika): a szálas receptor egyik végére egy tiol (SH) csoportot szintetizálunk kén-arany kovalens kötés Célunk a DNS rétegek strukturális vizsgálata  Az immobilizáció és hibridizáció kvalitatív és kvantitatív jellemzése

/13 6 Biológiai érzékelő felületek minősítése AFM módszerrel diI nnova 2. AFM képalkotás A BME-ETT 2008-ban Veeco diInnova típusú SPM-et (pásztázó mikroszkóp) szerzett be ipari kapcsolatok támogatásával Támogatott üzemmódok: AFM (Atomic Force Microscopy),  kontakt mód,  kopogtató (tapping) mód, LFM (Lateral Force Microscopy), STM (Scanning Tunneling Microscopy) EFM (Electric Force Microscopy), MFM (Magnetic Force Microscopy), SCM (Scanning Capacitance Microscopy). Fluidikai cella:  kompatibilitás biológiai mintákkal  DNS nanoborotválás

/13 7 Biológiai érzékelő felületek minősítése AFM módszerrel 2. AFM képalkotás A képalkotás elve a kontakt üzemmód bemutatásán keresztül

/ AFM képalkotás Biológiai érzékelő felületek minősítése AFM módszerrel A pont-spektroszkópia és a nyomóerő szabályozása Hooke törvénye: A nyomóerő szabályozása: Ahol: F: erő [nN], k: rugóállandó [nN/nm], x: Z riányú kitérés [nm], R: a tű és a felület jellemző rugalmassága [nm/mV], U sp : setpoint (referencia) feszültség [mV]

/ AFM képalkotás A DNS nanoborotválás (nanoshaving) és alkalmazása Biológiai érzékelő felületek minősítése AFM módszerrel Hibridizáció után Immobilizáció után Az eljárás elve: a felületre felvitt DNS réteg eltávolítása a pásztázó tű nyomásának növelésével Keresztmetszeti analízis Forrás: M. Castronovo – 2008

/13 10 Biológiai érzékelő felületek minősítése AFM módszerrel 2. AFM képalkotás Nanoborotválás a gyakorlatban Dr. Giampaolo Zuccheri (Bolognai Egyetem) laboratóriumában közösen készített képek MultiMode AFM – képalkotás folyadékcellában DNS réteg nanoborotválása (nanoshaving) A leborotvált DNS réteg vastagsága 1,908 nm. „Kopogtatunk a nanovilág kapuján”

/13 11 Biológiai érzékelő felületek minősítése AFM módszerrel 2. AFM képalkotás A hordozó felületi érdességének jellemzése Vizsgálatukhoz atomi simaságú felület szükséges Alapvető probléma: a DNS monorétegek nm-es tartományban vannak 800 nm X:Y:Z -> 1:1:1/26 a DNS szál hosszúsága: 0,33 nm/bázispár, jellemző receptorhossz bp  5-8 nm Polikristályos üres arany vékonyréteg (200 nm Au, 40 nm Ti üveghordozón) felületi érdessége – kontakt módú AFM kép (BME-ETT)

/13 12 Biológiai érzékelő felületek minősítése AFM módszerrel 2. AFM képalkotás A mica (csillám) replika készítés technológiája Cél: Atomi simaságú (felületi érdességű) arany vékonyréteg előállítása Forrás: M. Hegner, P. Wagner

/13 13 Biológiai érzékelő felületek minősítése AFM módszerrel 3. Összefoglalás Az AFM-es technikák alkalmasak a nanométeres tartományokhoz tartozó bioreceptor rétegek vizsgálatára MICA (csillám) replika készítéssel atomi simaságú arany vékonyréteg elektródfelületeket állíthatunk elő A DNS nanoborotválás technika a BME-ETT-n néhány hónapon belül rutinszerűen alkalmazható lesz. Főbb kézzel fogható eredmények: Au-MICA készítés  Labor SOP (Standard Operation Procedure – technológiai útmutató) AFM mérés fluidikai cellában  Labor SOP (Standard Operation Procedure – technológiai útmutató)