TRANSZMISSZIÓS ELEKTRONMIKROSZKÓP (TEM)

Slides:



Advertisements
Hasonló előadás
Az egyenáram hatásai.
Advertisements

Készítette: Bráz Viktória
Az optikai sugárzás Fogalom meghatározások
A kijelzők.
Elektron hullámtermészete
LEO 1540 XB Nanomegmunkáló Rendszer
2010. augusztus 16.Hungarian Teacher Program, CERN1 Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by OTKA MB
SO 2, NO x felbontási hatásfokának vizsgálata korona kisülésben Horváth Miklós – Kiss Endre.
Fizika Bevezető 6. osztály.
Folyadékok vezetése, elektrolízis, galvánelem, Faraday törvényei
Multimédiás segédanyag
Lencsék és tükrök képalkotásai
Töltött részecske sugárzások spektroszkópiai alkalmazásai
Közeltéri mikroszkópiák
Film fénytöréshez Lencsék Film fénytöréshez
Orvosi képfeldolgozás
Redoxi-reakciók, elektrokémia Vizes elektrolitok
12. előadás Elektrosztatikus és mágneses mezők Elektronfizika
ICP (Inductively coupled plasma) Indukciós plazma gerjesztés
SEM Jakab Attila Kis Péter Lorand. Bevezető M. Knoll (nemetorszag) - SEM alapelve -SEM (Scaning Electron Microscopy) = Pasztazo elektron mikroszkop.
Dr. Csurgai József Gyorsítók Dr. Csurgai József
Szén erősítésű kerámia kompozitok és grafit nanoréteg előállítása
Nanoszerkezetű acélok előállítása portechnológiával
Transzmissziós elektronmikroszkóp
Készítette: Dénes Karin (Ipolyság) és Patyi Gábor (Szabadka)
VOLFRÁM-OXID NANOSZÁLAK VIZSGÁLATA ÉS ELŐÁLLÍTÁSA ELECTROSPINNINGEL MFA NYÁRI ISKOLA 2010 BALÁSI SZABOLCS JÚNIUS 25.
A növények ásványianyag-felvétele
Kölcsönhatások.
Töltött részecskesugárzások kölcsönhatása az anyaggal.
Erősítő textíliák pórusméretének meghatározása képfeldolgozó rendszer segítségével Anyagvizsgálat a Gyakorlatban Tengelic, június 1. Gombos Zoltán,
Mit tudunk már az anyagok elektromos tulajdonságairól
Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by OTKA MB
Veszprémi Viktor Wigner Fizikai Kutatóközpont OTKA NK81447
XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia
NAGYFELBONTÁSÚ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA és a JEMS SZIMULÁCIÓS PROGRAM Készítette:Gál Réka, g g g g g ____ rrrr eeee kkkk aaaa yyyy aaaa hhhh oooo oooo....
Ezüst szemcsék vizsgálata TEM-mel
NAGYFELBONTÁSÚ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA és a JEMS SZIMULÁCIÓS PROGRAM
Hidroxiapatit alapú biokompatibilis nanokompozitok előállítása
Rendezett ZnO nanorudak előállítása és vizsgálata Rendezett ZnO nanorudak előállítása és vizsgálata Készítette: Horváth Balázs Batthyány Lajos Gimnázium,
-fényvisszaverődés -fénytörés -leképező eszközök
Különböző spéci mikroszkópok és festési eljárások
A feloldóképesség határa És ami a határon túl van Csik Gabriella Semmelweis Egyetem, Biofizikai Intézet.
Közeltéri mikroszkópiák
Megalehetőségek a nanovilágban
Hő és áram kapcsolata.
Anyagtudományi vizsgálati módszerek
Az élővilág legkisebb egységei
Atom - és Elektronpályák
Elektronmikroszkópia
A mozgás egy E irányú egyenletesen gyorsuló mozgás és a B-re merőleges síkban lezajló ciklois mozgás szuperpoziciója. Ennek igazolására először a nagyobb.
Nanofizika, nanotechnológia, anyagtudomány Mihály György akadémikus Magyar Műszaki Értelmiség Napja május 13. Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi.
A negyedik halmazállapot: A Plazma halmazállapot
Készítette: Baricz Anita - Áprily Lajos Főgimnázium, Brassó Gréczi László – Andrássy Gyula Szakközépiskola, Miskolc Csoportvezetők:dr. Balázsi Katalin.
Az atommag alapvető tulajdonságai
Spektroszkópia Analitikai kémiai vizsgálatok célja: a vizsgálati
48°. 2, Egy 8 cm-es gyújtótávolságú gyűjtő lencsével nézünk egy tárgyat. Hova helyezzük el a tárgyat, hogy az egyenes állású kép a d = 25 cm-es tiszta.
A FONTOSABB MÓDSZEREK:
ATOMOPTIKA atomok terelése: litografált rácsokkal, diafragmákkal stb, erős fényerőkkel (rezonanciától elhangolt erős lézerfény) > 0 („kék elhangolás”)
Máté: Orvosi képfeldolgozás1. előadás1 A leképezés tárgya Leképezés Képfeldolgozás Felismerés Leletezés Diagnosztizálás Terápia Orvosi képfeldolgozás Minden.
Funkcionális eszközök, kijelzők, megjelenítők BME Villamosmérnöki és Informatikai Kar Elektronikus Eszközök Tanszéke Mizsei János 2004 május BME Villamosmérnöki.
RÖNTGENSUGÁRZÁS.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 3. Térion mikroszkóp és leképező atompróba módszerek TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 13. Atomi feloldású elektronmikroszkópia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai.
Az egyenáram hatásai.
Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen
Pt vékonyrétegek nanomintázása
Bevezető Mivel foglalkozik a fizika? Az anyag megjelenési formái a természetben 6. osztály Fizika.
Optikai mérések műszeres analitikusok számára
Különböző spéci mikroszkópok és festési eljárások
Félvezető fizikai alapok
Előadás másolata:

TRANSZMISSZIÓS ELEKTRONMIKROSZKÓP (TEM) Kelemen Zoltán-Előd Székely Géza-Imre

Bevezető Az első TEM-et 1931-ben Ernst Ruska és Max Knol német nérnökök állították össze. A gyakorlatban használt első TEM-et Albert Prebus és James Hillier állította elő 1939-ban Kanadában a torontói egyetemen. Az első TEM 400-szoros nagyítású volt de napjainkban akár az 50 millió szoros nagyításra is képes lehet.

Alapelv A transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM), amint azt a mikroszkóp elnevezés is mutatja, a minta kiragadott sajátságainak nagyított, képszerű megjelenítésére és vizsgálatára alkalmas eszköz. A minta megvilágítását, gerjesztését elektronokkal végezzük, amelyek keresztülhaladnak a mintán, innen a transzmissziós jelző.

A mikroszkópokat kétféle képen csoportosíthatjuk: - teljesítőképességük - működési elvük A legtöbb optikai mikroszkóp 1-2 μm felbontású, a SEM-el 1-2 nm felbontás érhető el. A legjobb minőségű TEM lényegében atomi felbontású 0,14-0,4 nm, az ilyen TEM neve HR-TEM (high resolution electron microscope).

TEM SEM

Működési elv: Elektron súgár létrehozésa vákumban: V-alakban hajlított izzószál, amelyből hevítve elektronok lépnek ki. Ezekből úgy keletkezik sugár, hogy az izzószál (katód) és egy tőle bizonyos távolságban elhelyezett anód között nagy, 80-120 kV úgynevezett gyorsítófeszültséget létesítünk, amely az elektronokat felgyorsítja és az anód felé irányítja. Ezt nevezzük elektronágyúnak. Az elektronok töltött részecskék lévén elvileg mind elektromos, mind mágneses terekkel eltéríthetők, az elektronmikroszkópokban az eltérítést mágneses térrel végezzük. Lencséink így az áram mágneses hatásán alapuló tekercsek.

Amint az elektronsugár a vizsgálandó preparátumba behatol, a kettő között kölcsönhatások lépnek fel. Ha az elektron egy atomot eltalál, az egyik lehetőség az, hogy energiaveszteség nélkül, rugalmasan megváltoztatja irányát. Más elektron az atommal ütközve azonban lefékeződhet, energiát veszít, irányát nem változtatja meg hullámhossza megváltozik. A képalkotásba az áthaladó és írányt nem váltóztató elektronokat hasznájuk.

Felépítése

Mintaelőkeszítes A mintatató egy 3 mm-es rézrács. A rács vastagság kiválasztása, és a rács rézel történő bevonása. Minta felvétele, agyagásványok felvitéle szuszpenziós oldatból történik. A prearált mintát a mikroszópba helyezzük.

Használata Agyagásványok és vas oxidok, hidroxidok meghatározására. Elektron diffrakcióra Biogeokémiai folyamatok vizsgálatára Biológiában állati és növény szövetek vizsgálatára. A mikroszkóp hátránya az hogyha a minta vízet tartalmaz felbomlhat.. Túl vastag minta esetén az elektronok nem mennek keresztül így a kép használhatatlan.

Bibliográfia Dr. Forray Ferenc – előadás O.Brümmer, J.Heydenreich: Szilárd testek vizsgálata elektronokkal. Ionokkal és röntgensugarakkal Kakuk Gyula: Nanoszerkezetű ferrit alapanyagok előállítása mechanikai örléssel 2009 p: 93-95 Egyetemi jegyzet (ELTE) Képek: -egyetemi jegyzet (ELTE), http://en.wikipedia.org/wiki/Transmission_electron_microscopy

Köszönöm a figyelmet!