Az előadás letöltése folymat van. Kérjük, várjon

Az előadás letöltése folymat van. Kérjük, várjon

MODERN MIKROSZKÓPIAI MÓDSZEREK FELÜLETEK VIZSGÁLATÁBAN ÉS A REZGÉSI SPEKTROSZKÓPIÁBAN.

Hasonló előadás


Az előadások a következő témára: "MODERN MIKROSZKÓPIAI MÓDSZEREK FELÜLETEK VIZSGÁLATÁBAN ÉS A REZGÉSI SPEKTROSZKÓPIÁBAN."— Előadás másolata:

1 MODERN MIKROSZKÓPIAI MÓDSZEREK FELÜLETEK VIZSGÁLATÁBAN ÉS A REZGÉSI SPEKTROSZKÓPIÁBAN

2 A FONTOSABB MÓDSZEREK: 1.Felületi alagút-elektron mikroszkópia (surface tunneling microscopy, STM) 2.Atomerő mikroszkópia (atomic force microscopy, AFM) 3.Felületi közeltér optikai mikroszkópia (surface near-field optical microscopy, SNOM) 4.Infravörös spektroszkópiai mikroszkópia 5.Raman spektroszkópiai mikroszkópia

3 A pásztázó alagútelektron mikroszkóp (STM) működési elve Vékony fém csúcs pásztázza az elektromosan vezető felszínt A csúcs és a felszín közötti alagútáram exponenciálisan függ távolságuktól Elektronikus visszacsatolással a kettő távolságot úgy szabályozzák, hogy az alagútáram állandó legyen Így a minta nagyfelbontású topográfiai képét kapjuk Nagyon jó feltételek mellett (pl. szilárd, jól vezető kristály esetén ), az atomi felbontást is el lehet érni.

4 A felületi alagútelektron mikroszkóp (STM) működési elve

5 Kémiai tulajdonságok összehasonlítása Cu(II)ftalocianinCo(II)ftalocianin Mindkettő vékony adszorbeált réteg AU 111 kristálylapon. A Cu(II) nem vesz részt az alagútáram létrehozásában (lyuk), a Co(II) részt vesz (színes). Jól érzékelhető a d pályák viselkedése közötti különbség

6 STM topográfia, réz felület

7 Hibahelyek rézkristály felületen

8 STM „szobrászat” 48 Fe atomból 71,3 A átmérőjű kör, az STM csúcs mozgatásával, alacsony hőmérsékleten

9 Atomerő mikroszkópia (AFM) Eredmény: Felületi topológiai képek atomi léptékű felbontással. Működése: 1. A detektor vékony tűszerű csúcs, vékony rugalmas karra erősítve. 2. A kar a csúccsal végigpásztázza a felületet, 3. a csúcs fel-le elmozdul, ezzel a kar elhajlik. 4. A kar hátsó oldalára egy vékony lézersugár fénye esik. 5. A visszavert fény segítségével mérik a kar, és ezzel a csúcs helyzetét. 6. A magasságjelet visszacsatolják, ezzel emelik vagy süllyesztik a csúcsot. A z tengely irányú elmozdulást regisztrálják a vízszintes (x és y irányú) helyzet függvényében.

10 Az AFM felépítése

11 Kontakt mód A minta felszíne és a csúcs távolsága < 10 Å. A csúcs és a kar Si 3 N 4, a csúcs 5  m hosszú, átlagosan 10 nm átmérőjű, 35 o -os, a kar 120  m hosszú, V keresztmetszetű.

12 Működés nem-kontakt módban F: van der Waals, elektrosztatikus, mágneses és kapilláris erők lépnek fel. f: a kar rezonancia frekvenciájával rezeg. A mintától h távolságra levő csúcs és a felület között fellépő erő h valamilyen negatív hatványával arányos (h -n ). Ez a frekvencia a fellépő F erő hatására eltolódik. Az elhangolás arányos a fellépő erővel.

13 Nem-kontakt mód  f~F~h -n a rezonancia frekvencia eltolódása, A kar 125  m, f=265kHz A csúcs 5  m hosszú, kúp 20 o,átlag átmérője 10 nm

14 Közeltér csúcs (AFM)

15 Atomerő mikroszkóp

16 Proteáz (modell): 15nm magas,11nm átmérő, fehérjebontó katalizátor AFM topografikus kép: Grafitfelszínen nem-specifikusan adszorbeálva, 400 x 400 nm

17 Egy protein, a lizozim tetragonális kristálya 110 lapjának nagyfelbontású AFM képe

18 Pásztázó optikai közeltér mikroszkópia (SNOM) 1.Apertúra: optikailag áteresztő, fémmel bevon t csúcs, átm. <100 nm. 2.Közelteret állít elő, ami a távolsággal exponenciálisan csökken, <10 nm-en hat. 3.Ezt a teret a felület perturbálja, eredmény: fényemisszió 4.Detektálás reflexióban vagy transzmisszióban. 5.A felbontást az apertúra és a fényintenzitás határozza meg, lehet 10 nm is. A klasszikus (távoltér) optikai mikroszkópiában a felbontást a diffrakció határozza meg.

19 Apertúra típusú SNOM, a-SNOM Sima felületek vizsgálatára, különösen víz-levegő határfelületek, így a vízfelületen adszorbeált molekulák (pl. vízoldható proteinek, liposzómák) vizsgálatára alkalmas.

20 Szórás-típusú SNOM, s-SNOM Az apertura nélküli rendszerben 1-10 nm felbontás, mint AFM-mel, a topográfia mellé az abszorpciót és a törésmutatót is feltérképezi. A pontszerű fényforrás oldalán fémmel bevont optikai szál, mint az AFM csúcs. Ez 45 kHz-cel,20 nm amplitudóval rezeg. Intenzitást és fázist mérnek kapcsoló erősítővel.

21 Nano-kolloidok SNOM vizsgálata Topography (Shear-Force SFM) Optical response (reflection mode SNOM)

22 S-SNOM példa Si lapkán Au szigetek és polisztirol szemcse: AFM topográfia és s-SNOM felvétel

23 s-SNIM (apertura nélküli) transzmissziós mérés 3,4  m hullámhosszon: Au réteg Si lapkán (4 x 4  m). A felbontás kb.  10

24

25 Emberi mucin SNIM vizsgálata Balra: A: CH 2 /2850;B:amid II/1550;C:CH 3 /2873;D:cukor/1155; E:amidA/3280;F:minden / :G:minden/ cm -1 Középen:eozinnal festett mucin.Jobbra: főkomponens-analízisek

26 SNIM bemutató 10  m (1000 cm -1 ) hullámhosszú fénnyel világítják meg a mintát, a háttérszórást a fény modulációjával küszöbölik ki, és a moduláló frekvencia felharmonikusain demodulálnak (baloldali ábra). Polsztirol szemcse polimetilmetakrilátban (jobboldali ábra)

27 A foszfát eloszlása emberi fogban: SNIM mérés

28 SNIM mérések Polipropilén karbonil szennyezése: A: 1800 cm -1, B: 1600 cm -1

29 Több egymás feletti réteg mikro-IR színképe

30 Több polimer rétegből álló laminált lemez mikro IR színképe

31 2000 éves freskódarab rómaikori villából A bekarikázott helyekről készítettek mikro-IR képet

32 Mikro-Raman spektrométer

33 Raman mikroszkópos rendszer blokkdiagramja

34 Raman mikroszkóp

35 Raman közeltér csúcsok

36 Polietilén fólia mikro-Raman színképe a mélység függvényében 2876 cm cm cm -1

37 Mikro-Raman: ragasztóréteg Al+ragasztó+politilén

38 A sztirol polimerizációjának nyomonkövetése (a Z tengely egysége perc)

39 AFM topográfia és mikro-Raman színkép Si lapka felületéről (az A-H pontokon)

40 Mikro -CARS 1.

41 Mikro-CARS 2, szövethólyag, 47x47 mm, 2870 cm -1

42 Mikro-CARS: sejtosztódás (29,6x29,6mm,1090cm -1 ) sejthalál (79,6x79,6mm, 2870cm -1 )

43 17.századbeli templomkép

44 A pigmentek mikro- Raman spektruma


Letölteni ppt "MODERN MIKROSZKÓPIAI MÓDSZEREK FELÜLETEK VIZSGÁLATÁBAN ÉS A REZGÉSI SPEKTROSZKÓPIÁBAN."

Hasonló előadás


Google Hirdetések