XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia

Az előadások a következő témára: "XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia"— Előadás másolata:

1 XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia
Az anyag felületi rétegének ( nm) roncsolásmentes vizsgálata

2 Energia eltolódás (néhány eV)
Csúcsok energiája Milyen anyagok vannak a felületen Energia eltolódás (néhány eV) Kémiai környezet, kötés A csúcsok területének aránya (intenzitás) Összetétel (illesztés szükséges) Rétegvastagság (Szögfeloldású XPS) A spektrum alakja Elektronszerkezeti információk A gerjesztett atomok szerkezetéről A szilárd minta szerkezetéről Rétegvastagság meghatározás

3

4 Feladat: a spektrumok menetének összehasonlítása
07_010_n; 07_010, 7nm Ni, 150nm Au, norm. emission 10_017_n, 10_017 05_034_n 10_019_n 10nm Ni, 150nm Au, vékony, felületi réteg Vízszintes tengely (eV) Függőleges: Beütés (beütés) db elektron/elektronvolt Intenzitás: Összes beütés: a spektrum alatti terület Van-e konstans háttér, ha van, kivonni 1-re normált-e a terület, ha nem, egyre normálni! egymásra tenni a spektrumnokat! Vessük össze az Au 4d csúcsok alakját!

5 Háttérkorrekció: A fotoelektron energia-veszteségének figyelembe vétele
A rétegvastagság paraméter

6

7 Scanning Tunneling Microscopy (STM)
Korszerű felületvizsgálati technika 1981 – a cikk 1986 Nobel díj Binnig, Rohrer Alagúthatás Labda a gödörben Kvantumfizika A berendezés lényege Vékony tű tapogatja le a mintát A mintából az alagúthatás révén a tűre jutnak az elektronok Atomi felbontású kép készíthető a felszínről