Az előadás letöltése folymat van. Kérjük, várjon

Az előadás letöltése folymat van. Kérjük, várjon

XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia Az anyag felületi rétegének (0-30-100 nm) roncsolásmentes vizsgálata.

Hasonló előadás


Az előadások a következő témára: "XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia Az anyag felületi rétegének (0-30-100 nm) roncsolásmentes vizsgálata."— Előadás másolata:

1 XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia Az anyag felületi rétegének ( nm) roncsolásmentes vizsgálata

2 Csúcsok energiája – Milyen anyagok vannak a felületen Energia eltolódás (néhány eV) –Kémiai környezet, kötés A csúcsok területének aránya (intenzitás) – Összetétel (illesztés szükséges) –Rétegvastagság (Szögfeloldású XPS) A spektrum alakja –Elektronszerkezeti információk A gerjesztett atomok szerkezetéről A szilárd minta szerkezetéről –Rétegvastagság meghatározás

3

4 Feladat: a spektrumok menetének összehasonlítása Spektrumok: 07_010_n; 07_010, 7nm Ni, 150nm Au, norm. emission 10_017_n, 10_017 05_034_n 10_019_n 10nm Ni, 150nm Au, vékony, felületi réteg Vízszintes tengely (eV) Függőleges: Beütés (beütés) db elektron/elektronvolt Intenzitás: Összes beütés: a spektrum alatti terület 1.Van-e konstans háttér, ha van, kivonni 2.1-re normált-e a terület, ha nem, egyre normálni! 3. egymásra tenni a spektrumnokat! Vessük össze az Au 4d csúcsok alakját!

5 Háttérkorrekció: A fotoelektron energia-veszteségének figyelembe vétele A rétegvastagság paraméter

6

7 Scanning Tunneling Microscopy (STM) Korszerű felületvizsgálati technika –1981 – a cikk –1986 Nobel díj Binnig, Rohrer Alagúthatás –Labda a gödörben –Kvantumfizika A berendezés lényege –Vékony tű tapogatja le a mintát –A mintából az alagúthatás révén a tűre jutnak az elektronok –Atomi felbontású kép készíthető a felszínről


Letölteni ppt "XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia Az anyag felületi rétegének (0-30-100 nm) roncsolásmentes vizsgálata."

Hasonló előadás


Google Hirdetések