6 szigma.

Az előadások a következő témára: "6 szigma."— Előadás másolata:

1 6 szigma

2 Gazdasági szervezetek törekvései
Piaci részesedés, és megbízhatóság javítása A termékek értéesítésére új pac szerzés Olyan design kifejlesztése, amely piaci előnyöket biztosít a versenytársakhoz képest Határidőre szállítás A termék üzemi meghíbásodásának csökkentése Elsőre elfogadott termékarány javítás Folyamatszabaályozás a tervezéstől gyártás befelyezéséig Tanúsitás (ISO 9000, QS9000, AS9000)

3 A 6 SZIGMA: rendszerszerűen összeállított módszerek és eszközök gyűjteménye team munkára összpontosít hibát előidéző okok felismerése, és kiküszöbölése a cél mérési adatokat figyel

4 Mire vagyunk kiváncsiak?
6 SZIGMA PROJEKT Tevékenység Mire vagyunk kiváncsiak? Mérés Mia hibák gyakorisága? Elemzés A hibák hogyan és hol fordulnak elő Javítás Hogyan tudjuk a folyamatot javítani Szabályozás Hogyan biztosítjuk, hogy a folyamat a javított állapotban maradjon

5 Korábbi elvárások Megfelelőség: 99,73% (kétoldalas), vagy 99,865% (egyoldalas) s Eloszlás szórása T Cél érték m Eloszlás átlagértéke LSL Alsó specifikációs határ USL Felső specifikációs határ Z A m és a specifikációs határok közti távilság s-ban mérve

6 6 szigma elvárás Egy millió termékből csak lehet nem-megfelelő

7 Folyamat vagy gépképesség
Korábban a Cp =1.3 volt az elvárás!!!!!!

8 s érték és a gépképesség, vagy folyamatképesség és a hibás darabok száma közti összefüggés
Szórás 3s 4s 5s 6s Cp 1 1,33 1,67 2 PPM 66.810 6.210 233 3,4 PPM = millió darabra eső hiba (hosszú távon)

9 Kritikus jellemző (CTQ- Critical to Quality) kiválasztása
A tervezési követelmények fontossága – összevetve a vevői elvárásokkal Műszaki kockázat a tervezési specifikációk kielégítésével kapcsolatban

10 6 szigma folyamat végrehajtása
Az Yi (kimenő jellemzők) CTQ változók és mérésük meghatározása Minden egyes Yi elfogadhatósági tartományának meghatározása (alsó/ felső határ) Jobb megoldás keresése Rendszerterv Minden Yi-hez meghatározni az X (belső jellemző) értékeket, ahol Yi=f(X1,X2,X3,..Xn) Megkeresni a kritikus X-eket , és azok hatásait minden Yi-re Meghatározni a kritikus X értékek tűréseit, hogy Yi az adott határok közé kerüljön A kritikus tűréseknek való megfelelés számítása Nem szabad egyből a Cp= 2 követelményt támasztani Cp>1.5? NEM IGEN OK

11 Nem megfelelőségek Hiba (defect), amely akkor jelentkezik, amikor egy jellemző nem teljesíti az előírást Hibaállapot (fault), akkor jelentkezik, amikor egy jellemző nem felel meg az előírásoknak Hibaesemény (error), arra vonatkozik, amikor egy tevékenység nem felel meg az előírásnak

12 Relatív hibaszám Egységre eső hiba, vagy heba/egység (DPU – Defect per Unit) Ahol D= a hibák száma n= a gyártott egységek száma

13 Relatív hibaszám Egy lehetőségre eső hiba (DPO – Defect per Opportunity) Ahol D= a hibák száma o= lehetőségek száma

14 Relatív hibaszám Egymillió lehetőségre eső hiba DPMO=DPO▪106
Használatára ezért van szükség, hogy az egy lehetőséger eső igen kis hibaszámokat könnyen kezelhető számokkal lehessen kifejezni

15 DPO és DPMO számítása

16 Z érték Az eloszlás átlagérték és a specifikációs határ közti távolság s-ban mérve A szigma mérce nagysága

17 A Z értéket befolyásoló tényezők
A folyamat átlaga m, illetve a célérték T (target) A folyamat szórása sst A kívánt USL (FTH), vagy LSL (ATH), a folyamat alsó és felső tűréshatára Rövid távú folyamatokra a Zst használandó, amely célértéke Zst=6

18 Rövidtávú – hosszú távú folyamat képesség
A folyamat rövid távú képessége a folyamat magából adódó képessége. Rövid időtartamú adatgyűjtéssel és ennek alapján végzett számítások alapján határozzák meg. Nem befolyásolják külső tényezők (pl. kezelő személyzet, hőmérséklet, alapanyag) Értékét kizárólag a technológia határozza meg és Cp-vel írható le Jelölése st, pl. Zst, sst

19 Rövidtávú – hosszú távú folyamat képesség
A folyamat hosszútávú képessége a folyamat fenntatási képessége. Hosszú időtartamú adatgyűjtés Adatgyűjtés ideje annyi, hogy a külső és belső tényezők hatnak, de már jelentősen tovább nem befolyásolják Lehet több rövididejű adatgyűjtés összesítése is A folyamat technológiája és a folyamatszabályozás határozza meg Cpk-val írható le Jelölése it, pl. Zit vagy sit

20 „Eltolás” Ahol Zsh=1.5

21 „Eltolás” grafikus ábrázolása