Amorf fényérzékeny rétegstruktúrák fotonikai alkalmazásokra

Slides:



Advertisements
Hasonló előadás
A NAP SZÍNKÉPE Megfigyelés különböző hullámhosszakon
Advertisements

E. Szilágyi1, E. Kótai1, D. Rata2, G. Vankó1
MIKROELEKTRONIKA Nemlineáris elektromos jelenségek, eszközök
Nanométeres oxidáció gyors hőkezeléssel
Számítógépes mérések fizikai kísérletekben Dr. Almási Gábor Pécsi Tudományegyetem Fizikai Intézet Fizikai Informatika Tanszék.
Tárgy: Számítógépes alapismeretek Készítette: Horti Tamás (HOTSAAI.ELTE)
LEO 1540 XB Nanomegmunkáló Rendszer
DISZKréten az adathordozókról
Folyadékkristályos kijelzők: Folyadékkristály rétegek
MOS integrált áramkörök alkatelemei
CMOS technológia a nanométeres tartományban
Optikai tárolók Segédanyag 9. osztályosok számára Készítette: Dobi Attila,
Optikai adattárolók Készítette: Schuck Krisztián
Optikai lemezek Típusai, jellemzői Rajnai Andrea Rajnai Andrea.
Vékonyfilm nm körüli vastagság ultravékonyfilm - 1 nm körüli vastagság CVD (chemical vapour deposition) kémiai gőz leválasztás LPD (laser photo-deposition)
A projekt az Európai Unió támogatásával, az Európai Szociális Alap társfinanszírozásával valósul meg. TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KONV „A felsőoktatás.
MIKROELEKTRONIKA 3. 1.Felületek, felületi állapotok. 2.Térvezérlés. 3.Kontakt effektusok a félvezetőkben. 4.MES átmenet, eszközök.
MIKROELEKTRONIKA 6. A p-n átmenet kialakítása, típusai és alkalmazásai
A levegőburok anyaga, szerkezete
Puskás Nikoletta Témavezető: Dr. Gömze A. László Miskolci Egyetem
Optikai adattárolás Varga Viktor - VAVSAAI.ELTE. Tartalom Az optikai adattárolás - Jellemzők - Kifejlesztése - Működés - Adatszerkezet - A jövő - Források.
Optikai rács kialakítása holográfiával
Készítette: Dénes Karin (Ipolyság) és Patyi Gábor (Szabadka)
VOLFRÁM-OXID NANOSZÁLAK VIZSGÁLATA ÉS ELŐÁLLÍTÁSA ELECTROSPINNINGEL MFA NYÁRI ISKOLA 2010 BALÁSI SZABOLCS JÚNIUS 25.
Készítette: Aranyos Edit & Fazekas Sarolta A CD-rom története.
4. Félvezetőlézerek Lézerközeg: p-szennyezett és n-szennyezett félvezető anyag közötti határréteg Az elektromos vezetés szilárdtestfizikai alapjai szükségesek.
4. Félvezetőlézerek Lézerközeg: p-szennyezett és n-szennyezett félvezető anyag közötti határréteg Az elektromos vezetés szilárdtest-fizikai alapjai szükségesek.
2. Félvezetőlézerek Lézerközeg: p-szennyezett és n-szennyezett félvezető anyag közötti határréteg Az elektromos vezetés szilárdtest-fizikai alapjai szükségesek.
Pfeifer Judit és Arató Péter
5. GÁZLÉZEREK Lézeranyag: kis nyomású (0, Torr) gáz, vagy gázelegy Lézerátmenet: elektronszintek között (UV és látható lézerek) rezgési szintek.
Vékonyréteg szerkezetek mélységprofil-analízise
Auger és fotoelektron spektrumok –az inelasztikus háttér modellezése Egri Sándor Debreceni Egyetem, Kísérleti Fizika Tanszék ATOMKI.
Fázisnövekedés amorf Si – Cu rendszerben; SNMS, XPS, XRD valamint APT technikák kombinált alkalmazása B. PARDITKA 1,2,M. VEREZHAK 1,3, M. IBRAHIM 4 1 Aix-Marseille.
NAGYFELBONTÁSÚ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA és a JEMS SZIMULÁCIÓS PROGRAM Készítette:Gál Réka, g g g g g ____ rrrr eeee kkkk aaaa yyyy aaaa hhhh oooo oooo....
Grafit vizsgálata STM-mel és AFM-mel Készítette: Kovács Máté, Tanára:Győri István, Ságvári Endre Gyakorló Gimnázium, Szeged.
Súrlódási jelenségek vizsgálata (Tribológia)
NAGYFELBONTÁSÚ ELEKTRONMIKROSZKÓPIA és a JEMS SZIMULÁCIÓS PROGRAM
ZnO réteg adalékolása napelemkontaktus céljára
Félvezető fotoellenállások dr. Mizsei János, 2006.
Nanorészecskék fizikája, kvantumkémiai effektusok
Megalehetőségek a nanovilágban
Memória: - elektromos - mágneses -optikai -MEMS
Háttértárak és adathordozók
Kristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD)
LED chip fénykicsatolásának vizsgálata
A MAGYAR TUDOMÁNY ÜNNEPE MTA – november 9. Nanoszerkezetek Mihály György BME Fizika Tanszék Spintronika spin polarizált elektron traszport Andrejev-spektroszkópia.
Anyagvizsgálat optikai és magneto-optikai spektroszkópiával Kézsmárki István, Fizika Tanszék, docens Magneto-optikai csoport.
Kutatóegyetemi stratégia - NNA FELÜLETI NANOSTRUKTÚRÁK Dr. Harsányi Gábor Tanszékvezető egyetemi tanár Budapest november 17. Nanofizika, nanotechnológia.
A projekt az Európai Unió támogatásával, az Európai Szociális Alap társfinanszírozásával valósul meg. TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KONV „A felsőoktatás.
A projekt az Európai Unió támogatásával, az Európai Szociális Alap társfinanszírozásával valósul meg. TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KONV „A felsőoktatás.
A projekt az Európai Unió támogatásával, az Európai Szociális Alap társfinanszírozásával valósul meg. TÁMOP-4.2.1/B-09/1/KONV „A felsőoktatás.
Optomechatronika II. Vékonyrétegek - bevonatok
Optomechatronika II. Vékonyrétegek - bevonatok
Dr. Nagy Erzsébet, Gyenes Anett, Vargáné Molnár Alíz,
 A ROM angolul: Read-Only-Memory. ( csak olvasható memória)  Egy olyan elechtronikai eszköz, amely csak olvasható adatok tárolására alkalmas.  Programok.
Anyagtudományi vizsgálati módszerek
Szén nanoszerkezetekkel erősített szilícium nitrid alapú kerámiák vizsgálata Berezvai Orsolya Témavezető Dr. Tapasztó Orsolya Vékonyréteg-fizika osztály.
Optikai lemezek Készítette: Tóth Gábor TOGSABI.ELTE.
Optikai lemezek jellemzői, típusai
Készítette: Baricz Anita - Áprily Lajos Főgimnázium, Brassó Gréczi László – Andrássy Gyula Szakközépiskola, Miskolc Csoportvezetők:dr. Balázsi Katalin.
Fotonika Vékonyrétegek - bevonatok
Kialakulásuk  1960-as évek közepétől több cég egymástól függetlenül fejleszti  Katonai célokra készül  Létrehozás célja: A mágneses tárolóknál nagyobb.
6. Optikai adattárolás Alapfogalmak, eljárások Fényérzékeny anyagok, fotográfia Holográfia Alakfelismerés Digitális jelírás,
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 9. Litográfia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő.
FOTONIKA Tartalom és bevezetés. TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő képzési és K+F feladatokra"
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 12. Raman spektroszkópia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel.
Napelemek laboratórium 1. gyakorlat
Nanotechnológiai kísérletek
Direct Metal Laser Sintering – DMLS Fémporok lézeres szinterezése
Félvezető fizikai alapok
Előadás másolata:

Amorf fényérzékeny rétegstruktúrák fotonikai alkalmazásokra Csarnovics István Debreceni Egyetem, Fizika Intézet, Kísérleti Fizikai Tanszék Az Eötvös Loránd Fizikai Társulat Anyagtudományi és Diffrakciós Szakcsoportjának Őszi Iskolája 2012.10.03. Mátrafüred

Amorf fényérzékeny rétegstruktúrák fotonikai alkalmazásokra Tartalom Miért épp a kalkogenidek? Kalkogenid üvegek, mint funkcionális anyagok: tulajdonságok, alkalmazások. Optikai írás, tárolás fajtái és jellemzői. Technológia. Fényindukált változások. Plazmon hatás vizsgálata.

Mik is azok a kalkogenidek?: A S, Se és Te vegyületei. Amorf kalkogenidek - olyan nem oxid üvegek, vagy amorf rétegek, amelyek a periódusos rendszer IV és V főcsoportjába tartozó elemek vegyületei (As2S3, As2Se3, Sb2S3, GeS, Ge2Sb2Te5 ), illetve több komponenses keverékei. Ezek mind különböző tiltott sávval rendelkező félvezetők. Vékony rétegek és struktúrák

Tulajdonságok és alkalmazási területek 1 A fény infravörös tartományában áttetszők Infravörös optikai – és szenzorikai eszközök, Anti-reflexiós rétegek, éjjel látó eszközök, optikai szálak, nem lineáris eszközök.

Tulajdonságok és alkalmazási területek 2 Viszonylag magas (n > 2) törésmutatóval rendelkeznek – a fény infravörös tartományában használandó több rétegű tükrök, fotonikai kristályok, hullámvezetők, nem-lineáris optikai eszközök. Elnyelik a fényt annak látható tartományában – fotovezetők, optikai memória elemek, fotorezisztorok, holografikus eszközök.

Fény indukált változások 1. Lokális sötétedés vagy világosodás (α,n) - a legszélesebb körben kutatott effektus – amplitudó-fázis optikai relief jöhet létre. Δn/n = 1-5 % Δ T /T = 5-80 %

Fény indukált változások 2 Lokális kristály-amorf fázisok közötti átalakulások - (R)- a legszélesebb körben alkalmazott – amplitudó fázis optikai relief létrehozása - (RW CD, DVD) K. Tanaka, K. Shimakawa – Amorphous Chalcogenide Semiconductor and Related Materials, Springer, 2o11.

Optikai írás fajtái, jellemzői Olv. 1.3. ChG 1 Írás Törlés Maratás, másolás 2. ChG 2 ChG, 1,2? Olv, Törlés ? NML Optikai írás fajtái, jellemzői 1.1. 1.2. 3. 4. Indentáció ,n,R ,n,R , d Lézer, e-sugár vagy ionok

Anyagok és technológiák Főképp Asx Se 100-x (0≤x ≤ 60 ) és As 40S 60 tömbi üvegekből állítottuk elő vékonyrétegeket termikus párologtatással üveg vagy más szubsztrátumra. De ezeken kívül vizsgáltunk más struktúrákat is. A vékonyrétegek vastagsága 0.2 – 3.0 m volt. A hőkezelésüket a lágyulási hőmérséklet közelében végeztük. Az elektonsugaras kísérletekhez készített mintákat 50 nm vastagságú arany réteggel fedtük be. E-sugár: 5-30 kV, I = 0.5-10 nA, (Hitachi 4300 SEM), 10 nmre fúkuszált Lézerek: 535, 630 nm. I = 0.3-50 W/cm2 Kalkogenid réteg Szubsztrátum e-sugár v. lézer Holografikus írás Amorf nanomultirétegeket számítógép vezérelt ciklikus termikus párologtatással hoztuk léttre, melyek alapjául szintén ezek a kalkogenidek szolgáltak, valamint Sb és Bi. A struktúrák modulációs periódusa =3-6 nm volt, a teljes vastagsága pedig 0.5 – 1.5 m a-Se, AsSe, GeSe, Sb, Bi, In As2S3 Szubsztrátum , GeS

In situ felületi változások vizsgálata kalkogenid vékonyrétegekben M. TRUNOV, P. LYTVYN, V. TAKATS, I. CHARNOVICH, S. KOKENYESI, Journal of Optoelectronics and Advanced Materials 12 (2oo9) 1959

2 m vastagságú As0.2Se0.8 rétegen előállított holografikus rácsok atom-erőmikroszkópos felvételei.

laser off A holografikus rács kialakulásának és időbeli változásának vizsgálata in situ bevilágítás során 2 m vastagságú As0.2Se0.8 vékonyrétegen. A rács magasságának időbeli változását összevetettük a rács diffrakciós hatásfokának változásával is. A térfogat változásnak két komponense van: szabad térfogat változás és laterális tömegtranszport.

Stimulált tömeg transzport amorf nanomultirétegekben Se/As2S3 nanomultiréteg XRD spektruma a bevilágítás előtt (1) és után (2) Diffuziós együttható He-Ne lézerrel (P=0.1 W/cm2) történő bevilágytás során : D= 7,210-23 m2/s x = 1000 nm, y = 1000 nm, z = 100 nm

Elektron sugárral történő írás kalkogenid rétegekben Az elektronsugár okozta változások profiljai a As20Se80 rétegen különböző bevilágítási idő alatt: 10 s (A), 30s (B) és 60 s (C). (20 kV, 7 nA) A réteg felületének változásához a vízszintes ( mikrométeres tartományban) és a függőleges ( nanométeres tartományban) változás tartozik, A legjobb eredményeket a 2 m vastagságú AsxSe100-x (10 x 30) és 3 m As40S60 vékony rétegekben értük el. Az elektronsugaras írás (7 nA, 20 kV) gigantikus, 10-30 %-os felületi változásokhoz vezetett

Ion implantáció kalkogenid rétegekben

Plazmonok hatása a fotoindukált változásokban Kalkogenid: Δn/n = 0,5 % Δd/d= 4,3 % Kalkogenid + Arany nanorészecskék: Δn/n = 1 % Δd/d= 8,2 %

Köszönettel tartozom a velem együttműködő kollégáknak: Dr. Kökényesi Sándor, Dr. Szabó István, Dr. Beke Dezső, Dr. Cserháti Csaba, Dr. Csík Attila, Dr. Erdélyi Gábor, Dr. Takáts Viktor, Glodán Györgyi, valamint egy sor külföldi kollegának . Köszönöm figyelmüket ! A kutatásunkat a TAMOP 4.2.1./B-09/1/KONV-2010-0007 és a TAMOP 4.2.2./B-10/1-2010-0024  számú programjainak keretein belül végezzük, amelyet az Európai Unió és az Európai Szociális Alap támogat.