MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306

Slides:



Advertisements
Hasonló előadás
Műveleti erősítők.
Advertisements

Dr. Turóczi Antal Digitális rendszerek Dr. Turóczi Antal
Digitális elektronika
Logikai alapkapcsolások
Az integrált áramkörökben (IC-kben) használatos alapáramkörök
Digitális rendszerek II.
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
A félvezető dióda (2. rész)
A térvezérelt tranzisztorok I.
MOS integrált áramkörök alkatelemei
Analóg alapkapcsolások
A bipoláris tranzisztor V.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke 1. zárthelyi megoldásai október 18.
Mérés és adatgyűjtés Virtuális méréstechnika
Mérés és adatgyűjtés Virtuális méréstechnika Mingesz Róbert 12. Óra Karakterisztikák mérése November 21., 23.
Kovalens kötés a szilícium-kristályrácsban
Speciális tranzisztorok, FET, Hőmodell
MOS integrált áramkörök Mikroelektronika és Technológia BME Elektronikus Eszközök Tanszéke 1999 október.
MEGÚJULÓ ENERGIAFORRÁSOK BIOMASSZA
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Integrált mikrorendszerek II. MEMS = Micro-Electro-
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Az elektrosztatikus mozgatás Székely Vladimír Mizsei.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke IC layout tervek tesztelése.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke IC layout tervek tesztelése.
A bipoláris tranzisztor IV.
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 Integrált mikrorendszerek:
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
A térvezérelt tranzisztorok I.
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
Monolit technika MOS technológia Mizsei János Hodossy Sándor BME-EET
A bipoláris tranzisztor I.
ELEKTRONIKA I. ALAPÁRAMKÖRÖK, MIKROELEKTRONIKA
Berendezés-orientált IC-k BME Villamosmérnöki és Informatikai Kar Elektronikus Eszközök Tanszéke Székely Vladimír, Mizsei János 2004 április BME Villamosmérnöki.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 MOS áramkörök: CMOS áramkörök,
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 A bipoláris IC technológia.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Mikroelektronika Laboratórium Tájékoztató
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 A bipoláris tranzisztor.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 Integrált áramkörök: áttekintés,
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 Félvezető fizikai alapok.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke 2. zárthelyi megoldásai december 2.
Programmozás Feladatok Telek Miklós BME Híradástechnikai Tanszék
PowerQuattro Rt Budapest, János utca175.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke 1. zárthelyi megoldásai október 11.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke 1. zárthelyi megoldásai október 10.
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Mikroelektronika Laboratórium Tájékoztató
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 A pn átmenet működése: Sztatikus.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Zárthelyi előkészítés október 10.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA /2009 I. félév Követlemények.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA /2012 I. félév Követelmények.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA /2013 I. félév Követelmények.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA /2011 I. félév Követelmények.
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Termikus hatások analóg integrált áramkörökben Esettanulmány:
Technische und Wirtschaftswissenschaftliche Universität Budapest Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente MIKROELEKTRONIK, VIEEAB00.
Technische und Wirtschaftswissenschaftliche Universität Budapest Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente MIKROELEKTRONIK, VIEEAB00.
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
MOS technológia Mizsei János Hodossy Sándor BME-EET
Zárthelyi előkészítés
Előadás másolata:

MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 MOS áramkörök: CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések http://www.eet.bme.hu/~poppe/miel/hu/14-CMOS.ppt

Vizsgált absztrakciós szint RENDSZER (SYSTEM) + RÉSZEGYSÉG (MODULE) KAPU (GATE) Vout Vin ÁRAMKÖR (CIRCUIT) ESZKÖZ (DEVICE) n+ S D G 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

A CMOS inverter VDD GND KI BE n p KI=0 BE=1 KI=1 BE=0 Állandósult állapotban a két tranzisztor közül mindig csak az egyik vezet, a másik lezárt 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

A CMOS inverter karakterisztikája 2 alapeset, a tápfeszültségtől és a tranzisztorok küszöbfeszültségétől függően U BE V Tn Tp DD Felső tranzisztor vezet Alsó tranzisztor Felső tranzisztor Alsó 1. kis tápfeszültség: VDD< VTn+ |VTp| egyszerre csak az egyik tranzisztor vezet 2. nagyobb tápfeszültség VDD> VTn+ |VTp| átkapcsoláskor egyszerre vezet mindkét tranzisztor 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

A CMOS inverter karakterisztikája 1. Kis tápfeszültség: VDD< VTn+ |VTp| = DD KI V U < Tn BE ha . .......... .... - Tp határozatlan ....... ......... a karakterisztika: V DD U BE -V Tp KI Tn U BE V Tn DD -V Tp KI határozatlan A transzfer karakterisztika középső szakasza nagyon meredek, ez a CMOS inverter jellegzetes előnye. 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

A CMOS inverter karakterisztikája 2. Nagy tápfeszültség: VDD> VTn+ |VTp| Átkapcsoláskor? - "egymásba vezetés" Karakterisztika szerkesztése 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

A CMOS inverter Méretezés szimmetrikus működésre: Ha UBE=UK komparálási feszültség, a két tranzisztor árama megegyezik: UGSp=VDD-UK UGSn=UK (lásd: Elektronika jegyzet) A komparálási feszültség a két tranzisztor áramállandójának az arányától függ. Ha a komparálási feszültséget a tápfeszültség felére szeretnék beállítani, és VTn=|VTp|, akkor Kn=Kp -t kell beállítani. mivel a lyukak mozgékonysága kb. 2 ... 2.5x kisebb A komparálási feszültség a W/L arányokkal változtatható 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

A CMOS inverter – dinamikus kar. Kapcsolási idők számítása Mitől függenek? a kimenet áram-meghajtó képességétől a kimenetet terhelő kapacitástól Ha a két tranzisztor pontosan komplementer karakterisztikájú, a kapcsolási idők (fel- és lefutás) is egyformák lesznek (Kn=Kp és VTn=|VTp|) 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

A kapacitások: Meghajtó fokozat tranzisztorainak belső kapacitásai Következő fokozat tranzisztorainak bemeneti kapacitásai Vezetékezés kapacitása Vout1 Vin M2 M1 M4 M3 Vout2 CG4 CG3 CDB2 CDB1 CGD12 intrinsic MOS transistor capacitances Cw extrinsic MOS transistor (fanout) capacitances wiring (interconnect) capacitance 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

A kapacitások A belső kapacitásokat már érintettük: S-G G-D átlapolási kapacitások a csatorna kapacitása a pn átmenetek kapacitásai A vezetékezés kapacitása az összekötő vezetékek geometriájától függ (szélesség, hosszúság) a technológiai fejlődésével jelentősége egyre nő Lásd később 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

A CMOS inverter – dinamikus kar. Kapcsolási idők számítása azonos kapcs. idők, integrálás a kapacitás szélső feszültség értékeire: Ha akkor VLM – a terhelő kapacitás minimális feszültsége Csökkenthető a tápfeszültség vagy W/L növelésével 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

A CMOS inverter fogyasztása Statikus fogyasztás nincs, mert nincs statikus áram Átkapcsoláskor van dinamikus fogyasztás, amely 2 részből áll: Egymásba vezetés: A bemenő jel felfutásának egy szakaszában mindkét tranzisztor egyszerre vezet, ha VTn<UBE<VDD-VTp Töltés-pumpálás: Jelváltásokkor a kimeneten lévő CL terhelést 1-re váltáskor a p tranzisztoron keresztül tápfeszültségre töltjük, majd 0-ra váltáskor az n tranzisztoron keresztül kisütjük. Töltést pumpálunk a tápból a föld felé. 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

A CMOS inverter fogyasztása Egymásba vezetés: A bemenő jel felfutásának egy szakaszában mindkét tranzisztor egyszerre vezet, ha VTn<UBE<VDD-VTp az átfolyó töltés: , ahol tUD az idő, amíg áram folyik, b egy konstans, ami az átkapcsoló jel alakjától függ. b0.1-0.2 P ~ f VDD3 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

A CMOS inverter fogyasztása Töltéspumpálás: Jelváltásokkor a kimeneten lévő CL terhelést 1-re váltáskor a p tranzisztoron keresztül tápfeszültségre töltjük, majd 0-ra váltáskor az n tranzisztoron keresztül kisütjük. Pcp=f CLVDD2 A töltéspumpálás teljesítmény igénye arányos a frekvenciával és a tápfeszültség négyzetével. A teljes fogyasztás a 2 összege (ha egymásba vezetés is van), arányos a frekvenciával és a tápfeszültség 2. ill. 3. hatványával. 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

CMOS áramkörök fogyasztásának összetevői Dinamikus összetevők – minden kapcsolási eseménykor egymásbavezetés, töltéspumpálás eseménysűrűséggel arányos órajel frekvencia az áramkör aktivitása Parazita jelenségek miatt további összetevők: küszöb alatti áramok pn-átmenetek szivárgási áramai – leakage: ma már nagyon jelentős szivárgás a gate dielektrikumon keresztül 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Konstrukciós kérdések CMOS kapuk szerkesztése Gyártás (poli-Si gate-es technológia áttekintése) Layout 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

CMOS kapuk nMOS kapcsolóhálózat szerkesztése: soros áramút: NAND kapcsolat párhuzamos áramút: NOR kapcsolat nMOS kapcsolóhálózat szerkesztése: ezek kombinációja: komplex kapu Kapcsolók helyett nMOS tranzisztorok Load helyett nMOS áramkör duálisa: pMOS hálózat 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

CMOS kapuk A CMOS inverterben mindkét tranzisztort vezéreljük. A kapuk esetében egy "felső" (pMOS) ill. "alsó" (nMOS) hálózat fog megjelenni, mindkét hálózat annyi tranzisztorból áll, ahány bemenete van a függvénynek. Azoknál a bemeneti kombinációknál, ahol a függvény értéke 0, az alsó hálózat rövidzár a kimenet és a föld között, míg a felső hálózat szakadás a kimenet és a táp között ha a függvény értéke 1, akkor az alsó hálózat szakadás, a felső hálózat rövidzár A p ill. n tranzisztorokkal duális hálózatokat kell megvalósítani Azonos bemenetek tranzisztorait össze kell kötni 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

CMOS kapuk NOR kapu NAND kapu Egy n bemenetű CMOS kapuhoz 2n db tranzisztorra van szükség (passzív terhelésű kapuknál csak n+1 kell) 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Komplex CMOS kapuk szerkesztése duális topológia (hurokból vágat, vagatból hurok) duális alkatrészekkel: nMOS helyett pMOS azonos bemenetekhez tartozó tranzisztorok gate-jeit összekötni W/L arányok helyes méretezése 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Vizsgált absztrakciós szint RENDSZER (SYSTEM) + RÉSZEGYSÉG (MODULE) KAPU (GATE) Vout Vin ÁRAMKÖR (CIRCUIT) ESZKÖZ (DEVICE) n+ S D G 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Egy kiürítéses inverter layout rajza Layout = az egymást követő maszkokon kialakítandó 2D-s alakzatok együttese Minden egyes maszkhoz színkódot rendelünk: aktív terület: piros poli-Si: zöld kontaktusok: fekete fémezés: kék Maszk == layout sík (réteg) S G D Hol van tranzisztor? Ahol adalékolt régió között csatorna lehet CHANNEL = ACTIVE AND POLY 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Layout primitívek: egyszerű alakzatok Aktív zóna (ablaknyitó maszk a vékony oxidon) Gate (poli-Si mintázat maszkja) Kontaktusok (ablaknyitó maszk az oxidon) S/D kivezetések (fémezés mintázat maszkja) 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Layout makrok - primitívekből nMOS tranzisztor layout rajza: layout primitívek tényleges maszkoknak megfelelő rétegeken nMOS tranzisztor layout rajza + körvonalrjaz + pinek nMOS tranzisztor makro: körvonalrajz, pinek rajza, feliratok: pszeudo rétegeken nMOS D S G 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Egyszerűsített layout: pálcika diagram (stick diagram) aktív zóna poli fém kontaktus Vdd Out In GND W/L arányokat megadjuk 2/2 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Si-compilerek Logikai séma vagy magasszintű leírás Tranzisztor szintű kapcsolási rajz W/L adatokkal Pálcika diagramos layout Tényleges layout automatikus konverzió az egyes leírásmódok között HARDVERSZINTÉZIS Viselkedési leírásból struktúrális Struktúrális leírás implementációja adott technológiával: technology mapping Most a cél IC megvalósítás alapjait láttuk Lehet FPGA-ra is 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

CMOS struktúra (inverter) p+ p+ n zseb p-Si hordozó 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

CMOS inverter layout rajza p zseb n zseb 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Layout makrok - makrokból és primitívekből nMOS D S G pMOS Kapu szintű layout 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

CMOS struktúrák Többlet maszkok: Több fémréteges CMOS: n-zseb (vagy p-zseb, a szubsztrát típusától függően) p diffúzió (vagy n-diffúzió, a szubsztrát típusától függően) Több fémréteges CMOS: minden fémréteghez saját maszk, kontaktusok, viák Több poli réteg is lehetséges (analóg CMOS) Tipikus: 15..20 maszk Bizonyos szabályok betartandók a gyárthatósághoz: tervezési szabályok a technológiából következnek, IC gyár adja 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Egy CMOS áramkör layout részlete Csak 2 fém réteg INV NAND3 A layout jól visszafejthető: ellenőrzés, valós késleltetések 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Modern vezetékezés 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Példa: Intel 0.25 mikronos technológia 5 metal layers Ti/Al - Cu/Ti/TiN Polysilicon dielectric 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Vezetékek kapacitásai Párhuzamos fegyverzetek: parallel plate capacitance elektromos erővonalak W H tdi dielektrikum (SiO2) hordozó Cpp = (di/tdi) WL áramirány dielektromos állandó (SiO2 => 3.9) L Parallel plate model – the capacitance is proportional to the overlap between the conductors and inversely proportional to their separation. Scaling technology shrinks W (L depends on circuit interconnect lengths) but scaling down H at the same time would negatively affect resistance. Thus, H is not scaled by the same ratio as W leading to a smaller W/H ratio (now approaching unity!) 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

Vezetékek kapacitásai Cwire = Cpp + Cfringe + Cinterwire = (di/tdi)WL + (2di)/log(tdi/H) + (di/tdi)HL szél kapacitás interwire fringe pp vezetékek közötti Cfringe ~ ½ Cpp for 0.5 micron technology Interwire capacitance is responsible for cross-talk When W < 1.75 H the interwire capacitance starts to dominate párhuzamos lemez H 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011

További hatások a vezetékeknél Ellenállás Elosztott paraméteres RC vonal Diffúziós egyenlet 2011-11-11 CMOS áramkörök, konstrukciós kérdések © Poppe András, BME-EET 2008-2011