Anyagtudományi vizsgálati módszerek

Slides:



Advertisements
Hasonló előadás
A NAP SZÍNKÉPE Megfigyelés különböző hullámhosszakon
Advertisements

Az optikai sugárzás Fogalom meghatározások
Az optikai sugárzás érzékelése
Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei
Elektron hullámtermészete
LEO 1540 XB Nanomegmunkáló Rendszer
2010. augusztus 16.Hungarian Teacher Program, CERN1 Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by OTKA MB
E képlet akkor ad pontos eredményt, ha az exponenciális tényező kitevőjében álló >>1 feltétel teljesül. Ha a kitevőben a potenciálfal vastagságát nanométerben,
MOS integrált áramkörök alkatelemei
1. Anyagvizsgálat Feladat Tervezés számára információt nyújtani.
Pozitron annihilációs spektroszkópia
Töltött részecske sugárzások spektroszkópiai alkalmazásai
9. Fotoelektron-spektroszkópia
Közeltéri mikroszkópiák
Színképek csoportosítása (ismétlés)
Orvosi képfeldolgozás
TRANSZMISSZIÓS ELEKTRONMIKROSZKÓP (TEM)
SEM Jakab Attila Kis Péter Lorand. Bevezető M. Knoll (nemetorszag) - SEM alapelve -SEM (Scaning Electron Microscopy) = Pasztazo elektron mikroszkop.
Dr. Csurgai József Gyorsítók Dr. Csurgai József
100 nm Együtt porlasztott 30 at% Mn + 70 at% Cu minta (CM77) – Árpi bácsi vékonyítása Nagy Cu többletes szemcsék – körülötte vélhetően a második fázis.
ANYAGTUDOMÁNYI VIZSGÁLATI MÓDSZEREK AZ ELEKTRONIKAI HIBAANALITIKÁBAN
Szén erősítésű kerámia kompozitok és grafit nanoréteg előállítása
VOLFRÁM-OXID NANOSZÁLAK VIZSGÁLATA ÉS ELŐÁLLÍTÁSA ELECTROSPINNINGEL MFA NYÁRI ISKOLA 2010 BALÁSI SZABOLCS JÚNIUS 25.
Elektromágneses színkép
John B. FennKoichi Tanaka The Nobel Prize in Chemistry 2002 "for their development of soft desorption ionisation methods for mass spectrometric analyses.
Röntgensugárzás keltése, ill. keletkezése
IV. Nukleáris sugárzások detektálása
Hordozható neutronforrások működése
Dr. Nagy Géza Csóka Balázs PTE TTK Általános és Fizikai Kémia Tanszék
A Raman spektroszkópia alkalmazása fémipari kutatásokban
5. GÁZLÉZEREK Lézeranyag: kis nyomású (0, Torr) gáz, vagy gázelegy Lézerátmenet: elektronszintek között (UV és látható lézerek) rezgési szintek.
RÖNTGEN FLUORESZCENCIA XRF
Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by OTKA MB
Veszprémi Viktor Wigner Fizikai Kutatóközpont OTKA NK81447
Gáztöltésű detektorok Szcintillátorok Félvezetők
XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia
Radioaktivitás az analitikában
Ezüst szemcsék vizsgálata TEM-mel
Frank György, Berzsenyi Dániel E. Gimnázium, Sopron
Készítette: Páncsics Nikolett Témavezetők: dr. Gergely Gréta Lukács István Endre Nagy Áron.
Hidroxiapatit és polimer alapú biokompatibilis nanokompozitok
Nagyfelbontású transzmissziós elektronmikroszkópia
Hidroxiapatit alapú biokompatibilis nanokompozitok előállítása
Ásványok, kőzetek vizsgálati módszerei
Szilícium szeletek felületi vizsgálata
Közeltéri mikroszkópiák
Fehérjerétegek leválasztása és vizsgálata Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet (MTA-MFA), Budapest Lovassy László Gimnázium, Veszprém Janosov.
Megalehetőségek a nanovilágban
Kristályorientáció-térképezés (SEM-EBSD)
HERTZ HALLWASCHS Ibolyántúli sugárzás hatasára egy Zn lemez negativ elektrokomos töltéssel rendelkező, késöbb elektronok nak elnevezett.
Elektronmikroszkópia
A radioaktivitás és a mikrorészecskék felfedezése
A fény kettős természete. Az elektron hullámtermészete.
Készítette: Baricz Anita - Áprily Lajos Főgimnázium, Brassó Gréczi László – Andrássy Gyula Szakközépiskola, Miskolc Csoportvezetők:dr. Balázsi Katalin.
Kúszási üregképződés – regeneráló hőkezelés
Spektroszkópia Analitikai kémiai vizsgálatok célja: a vizsgálati
A FONTOSABB MÓDSZEREK:
Máté: Orvosi képfeldolgozás1. előadás1 A leképezés tárgya Leképezés Képfeldolgozás Felismerés Leletezés Diagnosztizálás Terápia Orvosi képfeldolgozás Minden.
Röntgensugaras ellenőrzés
RÖNTGENSUGÁRZÁS.
Anyagvizsgálati módszerek
Válogatott fejezetek az anyagvizsgálatok területéről
Gyorsítók Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen
Optikai mérések műszeres analitikusok számára
Optikai mérések műszeres analitikusok számára
Nanotechnológiai kísérletek
Analitikai Kémiai Rendszer
Szigetelő anyagok ionnyalábos analízise Fizikus vándorgyűlés, Szeged augusztus Szilágyi Edit, Kótai Endre MTA Wigner FK, Nukleáris Anyagtudományi.
Digitális röntgen vizsgálati eljárások
Optikai mérések műszeres analitikusok számára
Előadás másolata:

Anyagtudományi vizsgálati módszerek Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA)

Mikroszkópos leképezési technikák összehasonlítása

½ m·v2 = e· U A c sebességű, m mozgási tömegű részecske hullámhossza: E = m·c2 c = λ· de Broglie Az U feszültséggel gyorsított elektron kinetikus energiája: ½ m·v2 = e· U Az elektron hullámhossza: A 20 kV feszültséggel gyorsított elektron hullámhossza:

A pásztázó elektronmikroszkóp (SEM) felépítése

A Wehnelt termoemissziós katód felépítése

Elektromosan nem vezető minták bevonása, a vezető réteg vastagságának hatása a kép minőségére

Az e- sugárzás keltette jelenségek a mintában Szekunder elektronok Visszaszórt elektronok Abszorbeált elektronok Karakterisztikus röntgensugárzás Folytonos röntgensugárzás Fényemisszió Elektronsugár indukálta áram

Szekunder ill. visszaszórt e- keletkezése

A röntgen- ill. elektronsugárzás által kiváltott jelenségek

Everhart-Thornley detektor (szekunder(SE) és visszaszórt(BSE) elektronok detektálására)

Félvezető detektor (visszaszórt elektronok (BSE) detektálására)

Félvezető detektorok kapcsolása A világos terület főleg réz (Cu) a sötétebb pedig főleg alumínium (Al)

Az elektronsugaras mikroanalízis detektálási lehetőségei EDS WDS EDS

Detektorok Környezetszimuláló Energiadiszperzív szekunder elektron-kép (LVSE) Energiadiszperzív analizátor (EDS) Visszaszórt elektron-kép (BEI) Szekunder elektron-kép (SEI)

Technikai jellemzők Termoemissziós volfrám katód Gyorsítófeszültség: 0,5 – 30kV Nagyítás: x 18 – x 300.000 Felbontás: 3,5nm (SEI) ill. 5,0nm (BEI) Munkatávolság: 5 és 48 mm között Mikroanalízis: spektrum, pontanalízis, vonalanalízis, röntgentérkép (szénnél nagyobb rendszámú elemek)

Mintaelőkészítés mintatartó: réz műanyag bevonat: Au/Pd szén

Optikai vizsgálatok Digitális kamera Megvilágítás: alsó felső Hőmérséklet-programozó Fűthető tárgyasztal

Haj morfológiai vizsgálata Novák Csaba

Kristálymorfológia vizsgálata Kodein acetát Kodein bázis Kodein hidroklorid Kodein foszfát Novák Csaba

Polimerek vizsgálata Márton Andrea, Marosi György

Polimerek vizsgálata Pozsgay Tünde, Pozsgay András, Pukánszky Béla

Aktív szenek vizsgálata polietilén tereftalát 6 óra szobahőmérsékleten 3 óra forrponton László Krisztina

Aktív szenek vizsgálata kezeletlen minta SEI kezeletlen minta BEI László Krisztina

Aktív szenek vizsgálata László Krisztina