SPM (Scanning Probe Microscopy) Dr. Pungor András Miskolc, 2008 április 2 Nanofelbontású méréstechnika
STM (Scanning Tunneling Microscope) 1983: G. Binnig H. Rohrer megalkotta az STM-et 1983: G. Binnig H. Rohrer megalkotta az STM-et 1986: Megkapták a Nobel dijat 1986: Megkapták a Nobel dijat Mi tette technikailag lehetővé az STM megalkotását? Piezoelektromos vezérlés Mi is a piezoelektromos hatás? Elmozdulás Feszültség
STM A mérés mechanizmusa
STM Constant current modeConstant height mode A két fő méréstechnikai metódus a szabályozásra
STM Képformálás STM képe az HOPG-nek Highly Oriented Pyrolytic Graphite 4 x 4 nm képméret Az atomok közötti távolság : 2.5 angstrom
SPM Képformálás
SPM Mi az STM hátránya? Csak vezető felületeket mér! Megoldás! AFM Atomic Force Microscope
AFM Miért AFM? AFM SFM Scanning Force Microscopy
SFM
SFM Az érzékelés evolúciója
SFM Mérési Módok Constant HeightConstant Force
SFM “műremekek”(artifacts) A rugólemez elhajlása
SFM “műremekek”(artifacts) Tűhatások MérésMért felület
SFM “műremekek”(artifacts) Tű-felszin kölcsönhatás 6 x 6 micrometeres U betű fehérjéből
SFM “műremekek” (artifacts) Tű-felszin kölcsönhatás A mikroseprű működése
SFM “műremekek”(artifacts) Tű-felszin kölcsönhatás Túlszabályozás Súrlódás
AFM, atomic force microscopyatomic force microscopy contact AFM non-contact AFM dynamic contact AFM BEEM, ballistic electron emission microscopyballistic electron emission microscopy EFM, electrostatic force microscopeelectrostatic force microscope ESTM electrochemical scanning tunneling microscopeelectrochemical scanning tunneling microscope FMM, force modulation microscopyforce modulation microscopy KPFM, kelvin probe force microscopykelvin probe force microscopy MFM, magnetic force microscopymagnetic force microscopy MRFM, magnetic resonance force microscopymagnetic resonance force microscopy NSOM, near-field scanning optical microscopy (or SNOM, scanning near-field optical microscopy)near-field scanning optical microscopy PSTM, photon scanning tunneling microscopyphoton scanning tunneling microscopy PTMS, photothermal microspectroscopy/microscopyphotothermal microspectroscopy SECM, scanning electrochemical microscopyscanning electrochemical microscopy SCM, scanning capacitance microscopyscanning capacitance microscopy SGM, scanning gate microscopyscanning gate microscopy SICM, scanning ion-conductance microscopyscanning ion-conductance microscopy SPSM spin polarized scanning tunneling microscopyspin polarized scanning tunneling microscopy SThM, scanning thermal microscopy[1]scanning thermal microscopy[1] STM, scanning tunneling microscopyscanning tunneling microscopy SVM, scanning voltage microscopyscanning voltage microscopy SHPM, scanning Hall probe microscopyscanning Hall probe microscopy
SFM mérések Erő-elmozdulásFelszin keménység
CCFM Constant Compliance Force Modulation
CCFM Constant Compliance Force Modulation
CCFM Constant Compliance Force Modulation
A CCFM mérés felépitése
Más SFM méréstechnikák Non Contact Semi Contact (Tapping Mode)
SPM méréstechnikák SCM (Scanning Capacitance Microscopy) SMFM (Scanning Magnetic Force Microscopy)
Köszönöm a figyelmet