SPM (Scanning Probe Microscopy) Dr. Pungor András Miskolc, 2008 április 2 Nanofelbontású méréstechnika.

Slides:



Advertisements
Hasonló előadás
Szén nanocsövek STM leképezésének elméleti vizsgálata
Advertisements

Hullámcsomag terjedés grafénen Márk Géza István MTA Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet, Budapest
Scherübl Zoltán Nanofizika Szeminárium - JC Okt 18. BME.
Közeltéri mikroszkópiák
Kísérleti módszerek a reakciókinetikában
Havancsák Károly-Kojnok József Kondenzált anyagok vizsgálati módszerei
Elektródok.
Felülettudomány és nanotechnológia,
módszerek (FEM-FIM, LEED, RHEED, SPM-STM-AFM)
Pásztázó elektrokémiai mikroszkópia az elektrokémia alkalmazásának új területe.
Kerámia- és Szilikátmérnöki Tanszék
TRANSZMISSZIÓS ELEKTRONMIKROSZKÓP (TEM)
SEM Jakab Attila Kis Péter Lorand. Bevezető M. Knoll (nemetorszag) - SEM alapelve -SEM (Scaning Electron Microscopy) = Pasztazo elektron mikroszkop.
A sejtműködés jellemzése az elektromos töltések, áramok változásán keresztül Dr. Zsembery Ákos Budapest, október 10.
BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY B IOLÓGIAI ÉRZÉKELŐ FELÜLETEK MINŐSÍTÉSE AFM MÓDSZERREL B ONYÁR A.
MOLNÁR LÁSZLÓ MILÁN adjunktus február 9.
STM nanolitográfia Készítette: VARGA Márton,
Utazások alagúteffektussal
Mágnesesség Készítette: Todor Andrei Ludovic
Diszperziók (nanorészecskék) előállítása
Dr. Nagy Géza Csóka Balázs PTE TTK Általános és Fizikai Kémia Tanszék
Ismétlő kérdések 1. Mennyi helyzeti energiát veszít a húgod, ha leejted őt valahonnan? Hegedül-e közben? 2. Számold ki az Einstein tétel segítségével a.
XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia
XPS – röntgen gerjesztésű fotoelektron spektroszkópia
SiC szemcsék TEM vizsgálata Si hordozón Készítette: Bucz Gábor, Földes Ferenc Gimnázium Tanára: dr. Zsúdel László, Földes Ferenc.
Bemutatjuk a híres/fontos W  és Z 0 Bozonokat Sheldon Glashow Steven WeinbergAbdus Salam Ők jósolták meg elméletileg. Nobel díj: 1979 Ők pedig felfedezték.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Integrált mikrorendszerek II. MEMS = Micro-Electro-
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Az elektrosztatikus mozgatás Székely Vladimír Mizsei.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 Integrált mikrorendszerek:
Közeltéri mikroszkópiák
Fehérjerétegek leválasztása és vizsgálata Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet (MTA-MFA), Budapest Lovassy László Gimnázium, Veszprém Janosov.
Megalehetőségek a nanovilágban
BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY PRECÍZIÓS, GYÁRTÁSKÖZI OPTIKAI MÓDSZEREK ÉS RENDSZEREK ELEKTRONIKAI.
Spindinamika felületi klaszterekben Balogh L., Udvardi L., Szunyogh L. BME Elméleti Fizika Tanszék, Budapest Lazarovits B. MTA Szilárdtestfizikai és Optikai.
Kutatóegyetemi stratégia - NNA FELÜLETI NANOSTRUKTÚRÁK Dr. Harsányi Gábor Tanszékvezető egyetemi tanár Budapest november 17. Nanofizika, nanotechnológia.
Kép- és modellalkotó eszközök az orvosi gyakorlatban A DICOM-ról néhány gondolat.
A súrlódás és közegellenállás
IN-SITU MIKROMECHANIKAI DEFORMÁCIÓK Hegyi Ádám István május 27.
Elektronmikroszkópia
Ismétlő kérdések 1. Mennyi helyzeti energiát veszít a húgod, ha leejted őt valahonnan? Hegedül-e közben? 2. Számold ki az Einstein tétel segítségével a.
Mágneses anyagvizsgálat
ITK kinect alkalmazások közösségi terekben DR. BOHUS MIHÁLY NJSZT, SZTE
Készült a HEFOP P /1.0 projekt keretében Az információtechnika fizikai alapjai XIII. Előadás Nanoáramkör - esettanulmányok Törzsanyag.
A FONTOSABB MÓDSZEREK:
Mikroszkópia és lokális kémiai analízis
NMR-en alapuló pórusvizsgálati módszerek
FULLERÉNEK ÉS SZÉN NANOCSÖVEK előadás fizikus és vegyész hallgatóknak (2008 tavaszi félév – április 16.) Kürti Jenő ELTE Biológiai Fizika Tanszék
Mágneses rezonancia módszerek: spinek tánca mágneses mezőben
BRIGHT „NEW” WORLD Norbert Kroo Wigner Physics Research Center of the Hungarian Academy of Sciences Budapest,
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 10. SNOM TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő képzési.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 9. Litográfia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő.
Klepács Márk 10.b Debrecen, Mechwart András Gépipari és Informatikai SzKI. Témavezető: Takács Máté Módszerek: Reakcióhő mérése alapján Vezetőképesség változása.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 1. Bevezetés TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 12. Raman spektroszkópia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 4. Pásztázó alagút mikroszkópia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 7. NC-AFM TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 5. AFM – Atomerő mikroszkóp TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel.
2014. április 16. Udvarhelyi Nándor NYOMÁSMÉRÉS. Nyomás: Definició: A nyomás egy intenzív állapothatározó, megadja az egységnyi felületre merőlegesen.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 8. MFM TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő képzési.
The untold story of House Bonder
Nagyfeloldású Mikroszkópia
Optikai mikroszkópok II.
Nanotechnológiai kísérletek
Pt vékonyrétegek nanomintázása
Gázérzékelők Módszerek: Reakcióhő mérése alapján
Atomerő mikroszkópia.
Másodrendű kötések molekulák között ható, gyenge erők.
Atomi rétegleválasztás
Fény és elektronmikroszkópos kvantitatív vizsgálatok, morfometria
Bartha Beáta Lőrincz Kincső
Előadás másolata:

SPM (Scanning Probe Microscopy) Dr. Pungor András Miskolc, 2008 április 2 Nanofelbontású méréstechnika

STM (Scanning Tunneling Microscope) 1983: G. Binnig H. Rohrer megalkotta az STM-et 1983: G. Binnig H. Rohrer megalkotta az STM-et 1986: Megkapták a Nobel dijat 1986: Megkapták a Nobel dijat Mi tette technikailag lehetővé az STM megalkotását? Piezoelektromos vezérlés Mi is a piezoelektromos hatás? Elmozdulás Feszültség

STM A mérés mechanizmusa

STM Constant current modeConstant height mode A két fő méréstechnikai metódus a szabályozásra

STM Képformálás STM képe az HOPG-nek Highly Oriented Pyrolytic Graphite 4 x 4 nm képméret Az atomok közötti távolság : 2.5 angstrom

SPM Képformálás

SPM Mi az STM hátránya? Csak vezető felületeket mér! Megoldás! AFM Atomic Force Microscope

AFM Miért AFM? AFM SFM Scanning Force Microscopy

SFM

SFM Az érzékelés evolúciója

SFM Mérési Módok Constant HeightConstant Force

SFM “műremekek”(artifacts) A rugólemez elhajlása

SFM “műremekek”(artifacts) Tűhatások MérésMért felület

SFM “műremekek”(artifacts) Tű-felszin kölcsönhatás 6 x 6 micrometeres U betű fehérjéből

SFM “műremekek” (artifacts) Tű-felszin kölcsönhatás A mikroseprű működése

SFM “műremekek”(artifacts) Tű-felszin kölcsönhatás Túlszabályozás Súrlódás

AFM, atomic force microscopyatomic force microscopy contact AFM non-contact AFM dynamic contact AFM BEEM, ballistic electron emission microscopyballistic electron emission microscopy EFM, electrostatic force microscopeelectrostatic force microscope ESTM electrochemical scanning tunneling microscopeelectrochemical scanning tunneling microscope FMM, force modulation microscopyforce modulation microscopy KPFM, kelvin probe force microscopykelvin probe force microscopy MFM, magnetic force microscopymagnetic force microscopy MRFM, magnetic resonance force microscopymagnetic resonance force microscopy NSOM, near-field scanning optical microscopy (or SNOM, scanning near-field optical microscopy)near-field scanning optical microscopy PSTM, photon scanning tunneling microscopyphoton scanning tunneling microscopy PTMS, photothermal microspectroscopy/microscopyphotothermal microspectroscopy SECM, scanning electrochemical microscopyscanning electrochemical microscopy SCM, scanning capacitance microscopyscanning capacitance microscopy SGM, scanning gate microscopyscanning gate microscopy SICM, scanning ion-conductance microscopyscanning ion-conductance microscopy SPSM spin polarized scanning tunneling microscopyspin polarized scanning tunneling microscopy SThM, scanning thermal microscopy[1]scanning thermal microscopy[1] STM, scanning tunneling microscopyscanning tunneling microscopy SVM, scanning voltage microscopyscanning voltage microscopy SHPM, scanning Hall probe microscopyscanning Hall probe microscopy

SFM mérések Erő-elmozdulásFelszin keménység

CCFM Constant Compliance Force Modulation

CCFM Constant Compliance Force Modulation

CCFM Constant Compliance Force Modulation

A CCFM mérés felépitése

Más SFM méréstechnikák Non Contact Semi Contact (Tapping Mode)

SPM méréstechnikák SCM (Scanning Capacitance Microscopy) SMFM (Scanning Magnetic Force Microscopy)

Köszönöm a figyelmet