Scanning elektonmikroszkóp Radiolaria, FM és SEM Pollen, TEM és SEM.

Slides:



Advertisements
Hasonló előadás
Szén nanocsövek STM leképezésének elméleti vizsgálata
Advertisements

E. Szilágyi1, E. Kótai1, D. Rata2, G. Vankó1
A LEVEGŐ.
Az optikai sugárzás Fogalom meghatározások
Az ezüst és az arany. Tk oldal
Atmoszféra - A Földünk légköre
Gyógyszerhatóanyagok oldhatósága szuperkritikus szén-dioxidban
Készítette: Hokné Zahorecz Dóra 2006.december 3.
Sugárzás kölcsönhatása az anyaggal Készítette: Fehértói Judit (Z0S8CG)
AKTÍV ELEKTROSZTATIKA
Hő- és Áramlástan I. - Kontinuumok mechanikája
Hővezetés Hőáramlás Hősugárzás
6. osztály Mgr. Gyurász Szilvia Balassi Bálint MTNYAI Ipolynyék
Az optikák tulajdonságai
A fotokémiai képrögzítés
MOS integrált áramkörök alkatelemei
Az elektrosztatikus feltöltődés keletkezése
Az elektrosztatikus feltöltődés keletkezése
9. Fotoelektron-spektroszkópia
Napenergia-hasznosítás
Dr. Mizsei János előadásai alapján készítette Balotai Péter
Záridő Blende Fénymérés
Készítette: Kálna Gabriella
Összefoglalás 7. osztály
A HIDROGÉN.
Mangáncsoport elemei.
TRANSZMISSZIÓS ELEKTRONMIKROSZKÓP (TEM)
SEM Jakab Attila Kis Péter Lorand. Bevezető M. Knoll (nemetorszag) - SEM alapelve -SEM (Scaning Electron Microscopy) = Pasztazo elektron mikroszkop.
Adatgyűjtés, mérési alapok, a környezetgazdálkodás fontosabb műszerei KÖRNYEZETGAZDÁLKODÁSI MÉRNÖKI MSc Gazdálkodási modul Gazdaságtudományi ismeretek.
Flotálás.
A bomlást leíró fizikai mennyiségek
100 nm Együtt porlasztott 30 at% Mn + 70 at% Cu minta (CM77) – Árpi bácsi vékonyítása Nagy Cu többletes szemcsék – körülötte vélhetően a második fázis.
1 Mikrofluidika Atomi rétegleválasztás (ALD) Készítette: Szemenyei F. Orsolya Témavezető: Baji Zsófia
Halmazállapot-változások
BIOMECHANIKA.
Elektromágneses színkép
FIZIKA A NYOMÁS.
Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by OTKA MB
Veszprémi Viktor Wigner Fizikai Kutatóközpont OTKA NK81447
Gáztöltésű detektorok Szcintillátorok Félvezetők
TRUEFOOD záró-konferencia április munkacsomag Hagyományos élelmiszerek tápértékének fejlesztése: szárított-érlelt sonkák sótartalmának csökkentése,
FORRASZTÁS.
Halmazállapot-változások 2. óra
A nitrogén és oxidjai 8. osztály.
Ezüst szemcsék vizsgálata TEM-mel
Móra Ferenc Gimnázium (Kiskunfélegyháza)
Optikai rács kialakítása holográfiával
Ellipszométeres mérések Fehérjék és aminosavak leválasztása és optikai modell készítése Kovács Kinga Dóra ELTE Apáczai Csere János Gyakorlógimnázium és.
Hidroxiapatit alapú biokompatibilis nanokompozitok előállítása
BISEL Biotikus Index a Középiskolai Oktatásban.
Anyagtudományi vizsgálati módszerek
1 Adatgyűjtés, mérési alapok, a környezetgazdálkodás fontosabb műszerei KÖRNYEZETGAZDÁLKODÁSI MÉRNÖKI MSc Gazdálkodási modul Gazdaságtudományi ismeretek.
Állandóság és változékonyság a környezetünkben 2.
Röntgen cső Anód feszültség – + katód anód röntgen sugárzás
Elektronmikroszkópia
Fotokémia és Fényképezés
Kémiai reakciók Kémiai reakció feltételei: Aktivált komplexum:
Készítette: Baricz Anita - Áprily Lajos Főgimnázium, Brassó Gréczi László – Andrássy Gyula Szakközépiskola, Miskolc Csoportvezetők:dr. Balázsi Katalin.
A FONTOSABB MÓDSZEREK:
Méréstechnika gyakorlat II/14. évfolyam
Helyük a periódusos rendszerben Felhasználásuk Közös tulajdonságaik Kivételek Szabadon mozgó elektronfelhő Fémes kötés.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 12. Raman spektroszkópia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel.
Halmazállapot-változások
A feladat és a hozzá használható eszközök kiválasztása 2. témakör:
CO2 érzékelők Lőkkös Norbert (FFRQJL).
Optikai mérések műszeres analitikusok számára
Nanotechnológiai kísérletek
Molekuláris biológiai módszerek
Szigetelő anyagok ionnyalábos analízise Fizikus vándorgyűlés, Szeged augusztus Szilágyi Edit, Kótai Endre MTA Wigner FK, Nukleáris Anyagtudományi.
Optikai mérések műszeres analitikusok számára
Előadás másolata:

Scanning elektonmikroszkóp Radiolaria, FM és SEM Pollen, TEM és SEM

14. Scanning electron microscopy: biológiai, anyagszerkezeti, ipari alkalmazás SEM / HV SEM –conventional SEM, high vacuum SEM N SEM – natural SEM E SEM – environmental SEM CP SEM – controlled pressure SEM LV SEM – low voltage SEM LT SEM – low temperature SEM HR SEM – high resolution SEM Minta: mintavétel, fixálás, víztelenítés, szárítás, gőzölés mintavétel – TEM, de izo-ozmotikusság fontos tisztítás/tisztaság preparálás metszés/törés (belső felszín) replikák (belső, külső felszín)

fixálás – TEM, de itt OsO 4 szerepe: fixál e - szóró vezetés víztelenítés – TEM (etanol) szárítás – (víztelenítés nélkül vízből levegőn szárítás) absz. etanol – levegőn szárítás xilol – levegőn szárítás amil-acetát – kritikus pontos szárítás (fagyasztva szárítás: 200 K, Pa) kritikus pontos szárítás:nyomás-hőmérséklet – gőz-folyadék (halmazállapot) átmenet, a határfelület megszűnik megszűnik a felületi feszültség - nincs torzulás dehidratáló folyadék (metanol, etanol, aceton) intermedier folyadék (amil-acetát) folyékony CO 2 : kritikus pont: 304 K, 7,39 MPa (víz: 648 K!!)

fázisdiagram Földigiliszta feji része kritikus pontos és levegőn szárított

14.2. Minta jellemzői: Vezetőképesség: R   - töltődés töltés felhalmozódás -feloldás csökken astigmatizmus instabilitás fényességi egyenetlenségek mérés érzékenysége csökken növelése:gőzölés (Au, Pt, Pd, Ag, Cu, C) nehézfém festés poliamin spray Elektron emisszió: tárgyból kilépő e - mennyiség – képalkotás több – jobb kép (detektorba kell jutniuk!) biológiai minták kis rendszámú elemekből emisszió nő: secunder e - – fém (Au, Pd, Au/Pd) gőzölés HR SEM – Ta, W gőzőlés (1 nm felbontás) backscattered e - – vékony C réteg

Hőkárosodás: mintaáram általában pA – abszorbeált e - miatt, de lehet nagyobb is (detektálás!) nagy sugár áram: minta melegszik, mozog, sérül (lyuk) csökkentés: alacsonyabb sugáráram vékonyabb minta gőzölés jó hővezetővel (Au, Cu, Ag, Al) Mechanikai stabilitás: C, Au, Pd, Pt, Ag, Cu gőzölés javítja 14.3 Gőzölés: jó mindegyik tulajdonság javítására Au, Au/Pd réteg: 2,5-5 nm elég (több már elfed!) tapadási-kiválási gócok, növekedés, összefüggő réteg műtermék:hősugárzás -150 mm távolság szennyezés -fémről, vákumrendszer felől lecsapódási -gőzölt fém nem egyenletesen leválás -tapadási probléma

Vákumgőzölés: alacsony vákum ( Pa) szén – jól tapad (5-10 nm) utána arany – erősebb kötődés, jobb terülés kisebb mértékű vákum mellett (1Pa) – pl. argon (szén – oxigén) Sputter coating: target atomjainak leválasztása és aktív „rácsapása” a minta felszínére bevonat vékonyabb lehet 1 nm-nél target: Au, Au-Pd, Pt, Ta, W, Ni, Cr, Cu, C (Al nem jó, felületi oxid réteg) target tisztasága fontos nyomás: Pa, gáz szivárogtatás (időnként): olaj szennyezést csökkenti gáz: nitrogén, argon jobb a levegőnél műtermék: hő, felületi sérülés, szennyeződés, tapadási problémák

I. ion sugár sputter coating: ionizálás (argon) – gyorsító feszültség (1-3 KeV) II. direkt áram (dióda) sputtering: 1-3 KeV target katód – mintatartó anód HŐ!! III. hideg diódás sputtering: elektromágneses térben e - leszakítása és eltérítése A minta hűtése, ill. hő elleni védelme mindig fontos! Alacsonyhőmérsékletű gőzölés: 0.5 nm már összefüggő réteg /Sík felületen. Irreguláris – vastagabb kell.) Cryo minta előkészítés

Felszíni fémréteg kialakulása gőzöléskor Sputter coating módjai

Légy szárnya

16. Fotózással kapcsolatos műtermékek Eddig: mintavétel, fixálás, víztelenítés, beágyazás, kritikus pontosszárítás, metszés, metszet felvétele, festés, gőzölés, műszer hibái Információ – dokumentálás: kép rögzítés: fényképezés, fimhívás, film szárítás (számítógépes rögzítés) kép készítése: nagyítás, laborálás, szárítás (nyomtatás) Kép rögzítése: kamera, film (vagy lemez) típus, méret, DIN, …) filmérzékenység helyes beállítása!! TEM – élesség, ha nem: kezelő hibája /nincs más közben/ SEM – élesség beállítás CRT-n, fényképezés másik CRT-n ha nem: szerviz vibráció – fényképezésnél, SEM érzékenyebb (hosszú expoziciós idő, akár 1-5 perc), TEM kevésbé (2-3 sec) lencsehibák: nem jellemző, nincs vagy kevés optikai elem

Filmek: TEM: vákuum és e - (nem foton detektálás) SEM: e - és gamma fotonok detektálása, de CRT fluoreszcencia fényképezés (itt film kék fényre érzékeny, közepes érzékenységű, nagy kontraszt-tűrésű, finomszemcsés) Polaroid 52 típus, ill. monokrom 55 típus (negatív is!) – kisebb feloldás, drágábbak, előny: sec kész felvétel (normál film: utómunkák, de jobb feloldás, teljes gradáció) Üveglemez: rövidebb szárítási idő, kisebb szennyezés bevitel, jobb mechanikus stabilitás, drágábbak, óvatosabb kezelést igényel, súlyosabb, tárolásra több hely kell e - : zaj, random e - fluktuáció, egy e - ( kV) több ezüst szemcsével reagál, fény foton (2-3 eV) csak eggyel zaj csökkentése: hosszabb expozíciós idő – stabilabb készülék kell EM nagyítást minimalizálni – tovább fotónegatív hívását jól beállítani Expozició: látens kép – denzitása idővel nő a film előhívásáig instabilitás csökkentése: negatívot gyorsan előhívni

a.) e - és b.) fény exponált fotoanyag Látens kép változása