Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 5. AFM – Atomerő mikroszkóp TÁMOP-4.1.1.C-12/1/KONV-2012-0005 projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel.

Slides:



Advertisements
Hasonló előadás
Szén nanocsövek STM leképezésének elméleti vizsgálata
Advertisements

Az ipari komputer tomográfia vizsgálati lehetőségei
Fémkomplexek lumineszcenciája
SO 2, NO x felbontási hatásfokának vizsgálata korona kisülésben Horváth Miklós – Kiss Endre.
Tartalomjegyzék State of the art A probléma
Mágneses lebegtetés: érzékelés és irányítás
Feladatok Mikro és nanotechnika pót ZH-ra na meg pótpótZH-ra 
2012. április 26. Dülk Ivor - (I. évf. PhD hallgató)
Közeltéri mikroszkópiák
A rezgések és tulajdonságaik 3. (III.11)
REZGŐ TÜKRÖK A KVANTUMVILÁG HATÁRÁN
Mérés és adatgyűjtés Szenzorok I. Mingesz Róbert
módszerek (FEM-FIM, LEED, RHEED, SPM-STM-AFM)
SPM (Scanning Probe Microscopy) Dr. Pungor András Miskolc, 2008 április 2 Nanofelbontású méréstechnika.
TRANSZMISSZIÓS ELEKTRONMIKROSZKÓP (TEM)
Fizika 3. Rezgések Rezgések.
Hang, fény jellemzők mérése
NANOMECHANIKAI RENDSZEREK OTT, AHOVA A KVANTUM-KLASSZIKUS HATÁRT VÁRJUK Egyre könnyebb nanomechanikai oszcillátorok - rajtuk a megfigyelést segítő tükörrel.
BUDAPEST UNIVERSITY OF TECHNOLOGY AND ECONOMICS DEPARTMENT OF ELECTRONICS TECHNOLOGY B IOLÓGIAI ÉRZÉKELŐ FELÜLETEK MINŐSÍTÉSE AFM MÓDSZERREL B ONYÁR A.
MOLNÁR LÁSZLÓ MILÁN adjunktus február 9.
mágnesesség Majzik Tibor dr. Gasparics Antal dr. Kádár György
A SPECT képalkotás Szigeti Krisztián. A szeminárium menetrendje dátumtémaelméletiklinikai SPECTSzigeti Krisztián (fizikus)Korom Csaba (orvos,
Ütközések biomechanikája
Lézerspektroszkópia Előadók: Kubinyi Miklós Grofcsik András
Dr. Nagy Géza Csóka Balázs PTE TTK Általános és Fizikai Kémia Tanszék
R&R vizsgálatok fejlesztése trendes jellemző mérési rendszerére
Veszprémi Viktor ATOMKI, Debrecen Supported by OTKA MB
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Integrált mikrorendszerek II. MEMS = Micro-Electro-
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Integrált mikrorendszerek II. MEMS = Micro-Electro-
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 Integrált mikrorendszerek:
Közeltéri mikroszkópiák
Fehérjerétegek leválasztása és vizsgálata Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet (MTA-MFA), Budapest Lovassy László Gimnázium, Veszprém Janosov.
Dinamikus állománymérési módszerek
Zajok és fluktuációk fizikai rendszerekben december 2. Active Delay Implicit szekvencia tanulás.
Felbontás és kiértékelés lehetőségei a termográfiában
Elektronmikroszkópia
Schrödinger-macskák Élő és halott szuperpoziciója, összefonódva azzal, hogy egy radioaktív atom már elbomlott (↓), ill. még nem bomlott el (↑) : Hogy lehet.
Elektromágneses rezgések és hullámok
Spektroszkópia Analitikai kémiai vizsgálatok célja: a vizsgálati
A FONTOSABB MÓDSZEREK:
A félvezető eszközök termikus tulajdonságai
Máté: Orvosi képfeldolgozás1. előadás1 A leképezés tárgya Leképezés Képfeldolgozás Felismerés Leletezés Diagnosztizálás Terápia Orvosi képfeldolgozás Minden.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Termikus hatások analóg integrált áramkörökben Esettanulmány:
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 10. SNOM TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő képzési.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 9. Litográfia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő.
Ütközések Ugyanazt a két testet többször ütköztetve megfigyelhető, hogy a következő összefüggés mindig teljesül: Például a 2-szer akkora tömegű test sebességváltozásának.
IBRIKSZ TAMÁS Fókuszvariációs 3D felületi topográfiai mikroszkóp gyakorlati alkalmazása
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 2. Atomi felbontású technikák TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 1. Bevezetés TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 12. Raman spektroszkópia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 7. NC-AFM TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 3. Térion mikroszkóp és leképező atompróba módszerek TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés.
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 13. Atomi feloldású elektronmikroszkópia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai.
A szünetmentes tápegység
Nagyfeloldású Mikroszkópia
Nanotechnológiai kísérletek
Szerkezet Vázlat Bevezetés Aggregáció kölcsönhatások, erők
Az erőhatás és az erő.
Anyagvizsgálati módszerek 1 Mechanikai anyagvizsgálati módszerek
Anyagvizsgálati módszerek
Anyagvizsgálati módszerek 1 Mechanikai anyagvizsgálati módszerek
Filep Ádám, Dr. Mertinger Valéria
Atomerő mikroszkópia.
Analitikai Kémiai Rendszer
Kísérletek „mezoszkópikus” rendszerekkel!
Automatikai építőelemek 6.
RASZTERES ADATFORRÁSOK A távérzékelés alapjai
A félvezető eszközök termikus tulajdonságai
Automatikai építőelemek 6.
Hőtan.
Előadás másolata:

Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 5. AFM – Atomerő mikroszkóp TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő képzési és K+F feladatokra"

5. AFM Atomerő mikroszkóp Elmélet – Az AFM típusai – AFM méréstechnikai módszerek – A visszacsatoláson alapuló mérés Gyakorlat – Mérések mikroszkópiás felvételen – Képalkotási hibák és korrekciós eljárások Segédanyagok

Az AFM típusai

Az AFM felépítése Minta Visszacsatolás szabályozás Nagyfeszültségű erősítő xy-piezo (oldalirányú mozág) Elhajás érzékelés Próba tűhegy Lemezrúgó z-piezo Tű minta távolság

Lehajlás detektálás Alagútáram Lehajlás fénymutatóval Interferrencia Kapacitív Piezo rezisztív Piezoelektromos lézer Kvadráns detektor

cantilever alapú méréstechnika Cantilever – (lemezrúgó, nyelv, rezgő-nyelv, gerenda) Lézer-deflekciós detekálás Két irányú reflektált folt elmozdulásmérés – Nyomóerő és súrlódás mérés Tipikus érzékenység vertikálisan 0.1 nm / 1nM / 10nm laterális Egyéb alkalmazások – Profilometra – Erőmérés, indentáció – Manipuláció – Tömegmérés, molekuláris szenzor

Lehajlás detektálás Interaktív animáció

Az AFM elemei Detektor – Kantilever: laprúgó – Hegyes próba – érzékelő tű Erőmérés – Lemezrúgó (cantilever) – Lehajlás detektálás (beam deflection) Durva Közelítés Pásztázás – Minta / Tű – X,Y,Z

AFM méréstechnikai módszerek

Tű és minta kölcsönhatás F U Taszító Vonzó z U: a tű minta kölcsönhatás a potenciális energiája F : a tű és minta közt fellépő erőhatás van-der Waals vonzás Pauli taszítás Kémia kölcsönhatás

Kontakt mód AFM tű kiválasztása A tű és a minta közt fellépő erőhatások Képalkotási lehetőségek – Topográfia – Surlódási erő Spektroszkópiás lehetőségek – rugalmas modulusz – indentáció

Kopogtató mód AFM tű kiválasztása Rezonancia frekvencia meghatározása Képalkotási lehetőségek – Topográfia – Fázis kontraszt Spektroszkópiás lehetőségek – rugalmas modulusz – energia veszteség

Nonkontakt mód A tű mindvégig a vonzó kölcsönhatási tartományban marad Magas rezonancia frekvencia és nagyon alacsony csillapítás Frekvencia eltolódás mérése Atomi feloldás elérhető Egyidejű alagútmikroszkópia lehetséges

Elektromos, mágneses erőhatások Tű kiválasztása Rezonancia frekvencia meghatározása Képalkotás két menetes pásztázással – Topográfiai és megemelt tű melletti pásztázás – Fázis / amplitudó kép Spektroszkópiás lehetőségek – Erő gradiens mérés – veszteség mérés

Kombinált mérési technikák AFM és Optikai mikroszkóp: Invertált Optikai mikroszkóp és AFM/SPM – Biológiai vizsgálatok konfokális fluorszcens mikroszkópiával: szerkezet és funkció – Szerves napelemek vizsgálata lokális karakterisztika méréssel photocurrent-AFM ons.shtml ons.shtml AFM és SEM

A visszacsatoláson alapuló mérés

Dinamikus mérés A tű gerjesztése külső mechanikai rezgetéssel. – Frekvencia eltolódás követése és mérése (FM) – Amplitudó változás mérése állandó gerjesztés mellett Frekvencia Amplitudó Kis csillapításnagy csillapítás

Az AFM képalkotás mechanikai modellje A szabadon rezgő tű leírása A tű és a minta közti csatolás modellje A pásztázási paraméterek hatása a leképezésre A csillapítás csökkentése visszacsatolással

Mérések mikroszkópiás felvételen

Alapvető képkorrekciós eljárások A dőlésének korrigálása Görbületi korrekció Medián szűrés Drift és nullszint korrekció

Geometriai paraméterek A felületi érdesség jellemzése Magasság eloszlás függvény Térbeli periodicitás Vonalprofil vizsgálat Korrekciós lehetőség: Tűcsere/ Tűalak mérés/Dekonvolúció

Alapvető képalkotási hibák és korrekciójuk

A pásztázó tű hatása A felületi objektumok túl nagyok Az üregek mérete túl kicsi A tű dőlése a mintához képest Az átmenetek nem élesek Ismétlődő “furcsa” alakzatok

A scanner hatása Minta görbület (csőszkenner) Nem egyenletes térbeli felbontás (scanner nemlineáris viselkedés) A kép elcsúszása új terület pásztázásakor (scanner relaxáció) Élek kiemelése (piezó- visszacsatolás) Korrekció: Képfeldolgozás/kalibrálás

Zajok, környezeti tényezők Környezeti rezgések, hang Elektromos zavarok Visszacsatoló kör gerjedése Szennyezett mintafelület Korrekció: Szűrés, zavar megszüntetése

Gyakorlati feladatok

A GWYDDION program AFM képek beolvasása Megjelenítés Képjavító eljárások Képhibák kiküszöbölése Mérések az AFM képen – Távolság, méret meghatározás profil alapján – Statisztikus jellemzők meghatározása

Ellenőrző kérdések

1.Milyen típusú próbát használunk az AFM esetén az erő mérésére? 2.Hogy történhet a lemezrúgó elmozdulás detektálása? 3.Milyen alkalmazási lehetőségei vannak a kantilever alapú méréstechnikának? 4.Milyen jellegű a minta és tű közti kölcsönhatás? 5.Miért lehet hátrányos a kontakt-mód használata? 6.Mi a különbség a kopoktató és az nc-AFM között? 7.Mik az alapvető üzemmódok az AFM esetén? 8.Milyen mennyiségek mérhetők a topográfián kívül az AFM segítségével? 9.Mik a visszacsatolás hangolását biztosító lehetséges paraméterek? 10.Milyen fő leképezési hibák léphetnek fel?

Segédanyagok

Kiegészítő olvasmányok AFM segítség –

Programok GWYDDION SPM kép megjelenítő és manipuláló program –

Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István KÖSZÖNÖM A FIGYELMET ! TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő képzési és K+F feladatokra"