Előadást letölteni
Az előadás letöltése folymat van. Kérjük, várjon
KiadtaEtelka Bartané Megváltozta több, mint 10 éve
1
Kihozatal és redundancia Élettartam: Annak a valószínűsége, hogy az eszköz t idő elteltével még működőképes lesz: Három alkatrész esetében:
2
Kihozatali modellek Price: A : a chip területe [mm 2 ] D 0 : hibasűrűség [ ] Poisson:
3
Kihozatali modellek A kihozatali modell figyelembe veheti a redundanciát is Kétparaméteres,,clustering’’ modell: Ez feltételezi, hogy a hibák fürtökben vannak. C: fürtösödési együttható (C=1 esetén nincsen fürtösödés)
4
Kihozatali modellek Phillips féle modell: P j : annak a valószínűsége, hogy az A j területen bajt okoz a hiba Ha többféle hibát is figyelembe veszünk és feltételezzük, hogy nincs köztük korreláció:
5
A kihozatal javítása Minél több a hibás chip, annál többet tudunk javítani a redundanciával.
6
Kihozatal javítása
7
A kihozatal javítása
8
A Toshiba feltette, hogy nem minden hiba javítható helyettesítéssel P r : a kijavíthatósági faktor D : chipenkénti átlagos kritikus hibák száma n : tartalék cellák száma Y 0 =A D 0
9
A kihozatal javítása
10
A kihozatal javítása A Nipon NTT modellje: a chip területét felosztották több részre Helyettesíthető elemek Nem helyettesíthető elemek Redundáns elemek
11
11 Példa redundanciára SRAM esetében
12
12 Sebesség és fogyasztás Hibás elemek áramszivárgát okozhatnak Toshiba: hibás vonalakról lekapcsolja a tápfeszültséget Flag-gel jelzik, hogy volt-e a chip javítva (ha javítva volt, akkor már nem az igazi) Sorok, oszlopok, dekóderek és az érzékelő erősítők is lehetnek redundánsak
13
13 Javítási módszerek Lézeres megszakítás Diffúziókat lehet lézeres hőkezeléssel aktiválni (interstíciális atomokat lehet így aktiválni, lecsökken a fajlagos ellenállás) EPROM segítségével határozhatjuk meg a címzést Fém biztosítékok kiégetése Lézer megszakítású poliSi (Bell labor)
Hasonló előadás
© 2024 SlidePlayer.hu Inc.
All rights reserved.