Előadást letölteni
Az előadás letöltése folymat van. Kérjük, várjon
KiadtaJakab Varga Megváltozta több, mint 10 éve
1
Fémezés – vezetékhálózat kialakítása Monolit technika
2
2 Követelmények Ohmikus – ne függjön az áramiránytól Belső elemek összekötése Lehetőség a külvilághoz való kapcsolódáshoz
3
3 Lehetőségek Galvanikus Ohmikus – ne függjön az áramiránytól Schottky – fém-félvezető átmenet egyenirányító Kapacitásos Gate – tranzisztor vezérlő elektródája
4
4 A fémezés jellemzői Soros ellenállás (négyzetes ellenállás, fajlagos ellenállás) Tapadás Köthetőség Ellenálló képesség Zárt áramkör Egyéb kívánalom: –g → ∞ –r → ∞ ideális kontaktus
5
5 MOS tranzisztor felépítése kapacitiv galvanikus
6
Elméleti áttekintés
7
7 Fém – félvezető kontaktusok n ohmikus p nemlineáris
8
8 Fém – félvezető kontaktusok n nem ohmikus p ohmikus
9
9 Alagúthatáson alapuló ohmikus kontaktus működése
10
10 A potenciálgát magassága különböző kontaktusokra TípusFémqΦM (eV)qΦB (eV) nAl4,100,69 pAl0,38 nPtSi5,300,85 pPtSi0,25 nW4,500,65 nAu4,750,79 pAu0,25 Si4,2 - 5,3
11
11 IC gyártásban használt fémek fajlagos ellenállása FémFajlagos ellenállás (μΩcm) Al2,60 Au2,04 Ag1,60 Mo5,7 Ni6,84 Pt9,9 Cu1,67 Ti55 Si1000
12
12 A vezeték hálózat kialakításának technológiai lépései Ablaknyitás – hozzáférés az alsó réteghez, vagy a hordozóhoz Rétegfelvitel – gőzölés, katódporlasztás, CVD (jó lépcsőfedés) A mintázat kialakítása – fotoreziszt, maratás, rétegeltávolítás Hőkezelés – Al-SiO x -Si Al-Si
13
13 A fémréteg felvitele 1.
14
14 A fémréteg felvitele 2. 0,1…0,01μm/perc1 μm/perc
15
15 A fémrétegek marása 1. Korlát a szemcseméret FémMarószerMarási sebesség Mo1 ccHNO 3 1 ccH 2 SO 4 3 H 2 O 38 H 3 PO 4 (85%)0,5 μm/min 15 HNO 3 30 CH 3 COOH 75 H 2 O Pt8 H 2 O0,05 μm/min 7 HCl 85°C 1 HNO 3
16
16 A fémrétegek marása 2. Au4 g KI0,5-1 μm/min 1 g I 40 ml H 2 O Ti9 H 2 O12 μm/min 1 HF 32°CA HF oldat töménységével szabályozható W34 g KH 2 PO 4 0,16 μm/min 13,5 g KOH 33 g K 3 Fe(CN) 6 H 2 O-val 1l-re feltölteni AlH 3 PO 4 buborék! HNO 3 izopropil alkohol
17
17 Material to be EtchedChemicalsRatioComments Molybdenum (Mo)HCl : H 2 O 2 1:1--- Molybdenum (Mo)H 2 SO 4 : HNO 3 : Water1:1:1 --- NichromeH 2 SO 4 ---use at 100 C NichromeHCl : HNO 3 : Water1:1:3--- Nickel (Ni)HCl : HNO 3 5:1 --- Nickel (Ni)HF: HNO 3 1:1 --- Palladium (Pd)HCl : HNO 3 3:1 Aqua Regia; discard after use Platinum (Pt)HCl : HNO 3 : Water3:1:4use at 95 C Platinum (Pt)HCl : HNO 3 8:1 age for 1 hour; use at 70 C Polysilicon (Si)HNO 3 : Water : HF50:20:1 remove oxide first; 540 nm/min @ 25C Polysilicon (Si)HNO 3 : HF3:1 remove oxide first; high etch rate: 4.2 micron/min
18
18 Material to be EtchedChemicalsRatioComments Aluminum (Al) H 3 PO 4 : Water : Acetic Acid : HNO 3 16:2:1:1 PAN Etch; 200 nm/min @ 25 C; 600 nm/min @ 40 C Aluminum (Al)NaOH : Water1:1 may be used at 25 C but etches faster at a higher temperature Aluminum (Al)H 3 PO 4 --- must be heated to 120 C Chromium (Cr)HCl : Water3:1--- Chromium (Cr)HCl:Glycerin1:1--- Copper (Cu)HNO 3 : Water5:1 --- Copper (Cu)Ammonium Persulphate--- Gold (Au)KI : I : Water 115 g : 65 g : 100 ml --- Gold (Au)HCl : HNO 3 3:1 Aqua Regia; discard after use Iron (Fe)HCl : Water1:1--- Iron (Fe)HNO 3 : Water1:1--- Lead (Pb)Acetic Acid : H 2 O 2 1:1 for dissolving solder connections Lead (Pb) Acetic Acid : H 2 O 2 : Water 2:2:5 ---
19
19 A fémezés hibái 1.
20
20 A fémezés hibái 2.
21
21 A fémezés hibái 3.
22
22 Tervezési szabályok kialakulása 1.
23
23 Tervezési szabályok kialakulása 2.
24
24 Tervezési szabályok kialakulása 3.
25
25 A válaszidő függése a gate hosszúságától
26
26 A gate és a hozzávezetések késleltetése a méret függvényében
27
27 A fémezés kialakítása
28
28 A parazita kapacitások méretfüggése 1.
29
29 A parazita kapacitások méretfüggése 2.
30
30 Az órajel függése a csíkszélességtől
31
31 Fémezés készítése
32
32 Dual damascene: egyszerre átvezetés és vezetékek
33
33 Különleges fémezések 1.
34
34 Különleges fémezések 2.
35
35 Különleges fémezések 3.
36
36 Multichip modulok 1.
37
37 Multichip modulok 2.
Hasonló előadás
© 2024 SlidePlayer.hu Inc.
All rights reserved.