Természetes és Mesterséges Optikai Elemek Munkabeszámoló Bányász István 2007. november 27.

Slides:



Advertisements
Hasonló előadás
Tamás Kincső, OSZK, Analitikus Feldolgozó Osztály, osztályvezető A részdokumentumok szolgáltatása az ELDORADO-ban ELDORADO konferencia a partnerkönyvtárakkal.
Advertisements

„Esélyteremtés és értékalakulás” Konferencia Megyeháza Kaposvár, 2009
Nanométeres oxidáció gyors hőkezeléssel
Számítógépes mérések fizikai kísérletekben Dr. Almási Gábor Pécsi Tudományegyetem Fizikai Intézet Fizikai Informatika Tanszék.
Séta Budapest utcáin.
Egy vonzóbb város: Biharkeresztes
5. GÁZLÉZEREK Lézeranyag: kis nyomású (0, Torr) gáz, vagy gázelegy Lézerátmenet: elektronszintek között (UV és látható lézerek) rezgési szintek.
LED fotobiológia Schanda János és Csuti Péter Pannon Egyetem
Elektromos mennyiségek mérése
Koordináta transzformációk
Koordináta transzformációk
3. Folytonos wavelet transzformáció (CWT)
1 terv (régi szint a szürke): x 4 =  x 1 x 2 x 5 =  x 1 x 3 x 6 =  x 2 x 3 x 7 =x 1 x 2 x 3 1. példa: Ina Tile.
Hullámoptika.
Szoftverfejlesztés és szolgáltatás kiszervezés Folyamatjavítási mérföldkövek a világon és Magyaroszágon Bevezető gondolatok Dr. Biró Miklós.
Elektronikai Áramkörök Tervezése és Megvalósítása
Elektronikai Áramkörök Tervezése és Megvalósítása
A diákat jészítette: Matthew Will
© Gács Iván (BME) 1/36 Energia és környezet Szennyezőanyagok légköri terjedése.
TRIGONOMETRIA Érettségi feladatok
Bevezetés Hegesztő eljárások Fémek hegeszthetősége
Tűrések, illesztések Áll: 34 diából.
Pázmány - híres perek Pázmány híres perek.
Papp Zsolt, Kornis János BME Fizikai Intézet, Fizika Tanszék
6. Előadás Merevítő rendszerek típusok, szerepük a tervezésben
Darupályák tervezésének alapjai
Ma sok mindenre fény derül! (Optika)
1 Kétségek között Göd, November 6-7. dr. Kiss József magánszemély.
STM nanolitográfia Készítette: VARGA Márton,
GINA reflektométer Bottyán László Wigner FK RMI NAO A BNC tudományos-technikai és financiális átvilágítása – március 28.
1 Mikrofluidika Atomi rétegleválasztás (ALD) Készítette: Szemenyei F. Orsolya Témavezető: Baji Zsófia
Mérések ellipszométerrel - Fehérjerétegek vizsgálata
dr. Szalkai István Pannon Egyetem, Veszprém
szakmérnök hallgatók számára
15. A RÖNTGENDIFFRAKCIÓ.
Válogatott fejezetek sejtbiológiából („VFSB”, BSc, biomérnök)
LÉZEREK MŰSZAKI ÉS ORVOSI ALKALMAZÁSAI
Lézerspektroszkópia Előadók: Kubinyi Miklós Grofcsik András
A szemcsehatárok tulajdonságainak tudatos módosítása Szabó Péter János BME Anyagtudomány és Technológia Tanszék Anyagvizsgálat a gyakorlatban (AGY 4) 2008.
A szemcsehatárok tulajdonságainak tudatos módosítása
5. GÁZLÉZEREK Lézeranyag: kis nyomású (0, Torr) gáz, vagy gázelegy Lézerátmenet: elektronszintek között (UV és látható lézerek) rezgési szintek.
Kubinyi Miklós ) Lézerspektroszkópia Kubinyi Miklós )
Auger és fotoelektron spektrumok –az inelasztikus háttér modellezése Egri Sándor Debreceni Egyetem, Kísérleti Fizika Tanszék ATOMKI.
Fázisnövekedés amorf Si – Cu rendszerben; SNMS, XPS, XRD valamint APT technikák kombinált alkalmazása B. PARDITKA 1,2,M. VEREZHAK 1,3, M. IBRAHIM 4 1 Aix-Marseille.
var q = ( from c in dc.Customers where c.City == "London" where c.City == "London" select c).Including( c => c.Orders ); select c).Including(
MFA Nyári Iskola június Ádám Andrea 1 FOTÓLITOGRÁFIA Ádám Andrea Tamási Áron Elméleti Líceum, Székelyudvarhely Témavezetők: Vázsonyi Éva,
Móra Ferenc Gimnázium (Kiskunfélegyháza)
Ellipszométeres mérések Fehérjék és aminosavak leválasztása és optikai modell készítése Kovács Kinga Dóra ELTE Apáczai Csere János Gyakorlógimnázium és.
ZnO réteg adalékolása napelemkontaktus céljára
Maszkkészítés Planár technológia Kvázi-sík felületen
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 Integrált mikrorendszerek:
Érettségi jelentkezések és érettségi eredmények 2008 Tanévnyitó értekezlet Érettségi jelentkezések - érettségi eredmények augusztus 29.
Lesz-e szilíciumon világító dióda?
Megalehetőségek a nanovilágban
IC gyártás Új technológiák. 2 Strained Silicon (laza szilícium)
Csurik Magda Országos Tisztifőorvosi Hivatal
A klinikai transzfúziós tevékenység Ápolás szakmai ellenőrzése
AZ NGC 6871 NYÍLTHALMAZ FOTOMETRIAI VIZSGÁLATA
Anyagvizsgálat optikai és magneto-optikai spektroszkópiával Kézsmárki István, Fizika Tanszék, docens Magneto-optikai csoport.
Kutatóegyetemi stratégia - NNA FELÜLETI NANOSTRUKTÚRÁK Dr. Harsányi Gábor Tanszékvezető egyetemi tanár Budapest november 17. Nanofizika, nanotechnológia.
QualcoDuna interkalibráció Talaj- és levegövizsgálati körmérések évi értékelése (2007.) Dr. Biliczkiné Gaál Piroska VITUKI Kht. Minőségbiztosítási és Ellenőrzési.
Határozatlan integrál
1. Melyik jármű haladhat tovább elsőként az ábrán látható forgalmi helyzetben? a) A "V" jelű villamos. b) Az "M" jelű munkagép. c) Az "R" jelű rendőrségi.
Elektronikus tananyag
Amorf fényérzékeny rétegstruktúrák fotonikai alkalmazásokra
1 Az igazság ideát van? Montskó Éva, mtv. 2 Célcsoport Az alábbi célcsoportokra vonatkozóan mutatjuk be az adatokat: 4-12 évesek,1.
Nanofizika, nanotechnológia és anyagtudomány
Nagyfeloldású Mikroszkópia Dr. Szabó István 9. Litográfia TÁMOP C-12/1/KONV projekt „Ágazati felkészítés a hazai ELI projekttel összefüggő.
Szigetelő anyagok ionnyalábos analízise Fizikus vándorgyűlés, Szeged augusztus Szilágyi Edit, Kótai Endre MTA Wigner FK, Nukleáris Anyagtudományi.
Holográfia Gábor Dénes (Dennis Gabor): a Hungarian electrical engineer and physicist, he invented the holography. He received the 1971 Nobel Prize in Physics.
Előadás másolata:

Természetes és Mesterséges Optikai Elemek Munkabeszámoló Bányász István november 27.

2 Tartalom 1.Bevezetés 2.Ion-implantált optikai elemek 3.Fotorefraktív hologramok LiNbO 3 kristályban 4.Projektek, tervek 5.Publikációk

3 2.Ion-implantált optikai elemek 2.1 Az ion-implantáció optikai hatásai A következő ábrák az „Optical effects of ion implantation” című monográfiából valók. (by Townsend et al, Cambridge University Press, 1994)

4 1. ábra Szilícium-dioxidba implantált különféle 500 keV-es ionok a) mélységbeli eloszlása, b) nukleáris fékeződése c) Elektromos fékeződése a mélység függvényében.

5 2. ábra Mechanikai feszültség kialakulása ion-implantált üvegben.

6 3. ábra A roncsolódás stabilitása He ionokkal implantált kvarcban.

7 4. N + ionokkal implantált kvarc reflexiója a szög függvényében, és a belőle számított törésmutató-profil.

8 Az ion-implantáció hatásai a törésmutatóra 1)Nukleáris fékeződés: ponthibák, klaszterek a behatolási mélységben. 2) Az ionizáció fokozza a nukleáris fékeződés hatását (szinergia). Színcentrumok keltése. Hőkezelődés. 3)A keltett hibák rekombinálódhatnak. 4)A rekombinálódás kevésbé hat az amorf tartományban (a behatolási mélység körül). 5) Szuperlinearitás. A meglevő hibák stabilizálják a további hibákat. Telítésbe menés (S alak). 6)A hűtés csökkenti a hőkezelődést. 7) Új fázisok kialakulása stabilizálhatja a hibákat. 8)Sztöchiometriai és fázis átalakulások hatása (+, - törésmutató). 9)A mechanikai feszültség hatása nagy dózisoknál domináns. 10) A szincentrumok abszorbeálnak, enyhe hőkezelés kellhet (200 Cº).

9 5. ábra Optikai gát effektus 2,2 MeV-es He + ionokkal, 0, x ion/cm 2 dózisokkal implantált kvarc hullámvezetők törésmutató- profiljaiban.

10 6. ábra 2,0 + 2,12 + 2,24 MeV-es He + ionokkal, 4.5 x ion/cm 2 dózissal, implantált hullámvezető törésmutató-profilja és a hozzá illesztett módusgörbe.

11 7. ábra 2 MeV He + ionokkal 300 Kº hőmérsékleten implantált Nd:YAG kristály törésmutató-profilja a következő dózisok esetében: a, 1,5; b, 3,0 és c, 5,0x10 16 ion/cm 2, amely egy ~ 0.3 % -os kezdeti növekedést mutat. A két módusgörbe eltérő meredeksége a hullámvezetők eltérő effektív szélességét tükrözi.

12 8. ábra Két különböző energián implantált LiNbO 3 -ban kialakult egyedi optikai gátak profiljának összehasonlítása az együttes implantálással kialakított profillal, 633 nm-es hullámhosszon mérve.

Ion-implantált hullámvezetők Motiváció: Ritkaföldfém-adalékolt üvegekben a hullámvezetőket aktív elemekkel kellene kombinálni. Viszont ezekben az anyagokban hagyományos mikroelektronikai technológiával nem alakíthatók ki a hullámvezető struktúrák, mert a megmunkálás tönkreteszi a felületüket. Lehetséges megoldás: ion- implantálás maszkon keresztül.

14 Eredmények: Csatorna hullámvezetők Tellurit üveg mintákban meghatároztuk az ion-implantálással készített csatorna-hullámvezetők törésmutató-modulációját, illetve felszíni profilját. (maszkon keresztüli implantálás, interferencia -, fáziskontraszt - és interferencia-kontraszt mikroszkópia és felszíni profilometria) IFAC (Firenze, Olaszország): a hullámvezetők az implantált dózis széles tartományában működnek látható és közeli infravörös tartományban. 980 nm-en megfigyelhető az Er 3+ ionok okozta frekvenciakétszerezés. BGO kristály mintákba is beírtunk csatorna-hullámvezetőket. (Bi12GeO20). E hullámvezetők kevésbé szabályosak mint a tellurit üvegbe írtak. Működésük ellenőrzése jelenleg folyik az IFAC-ban.

15 9. ábra. Hullámvezetők készítése ion-implantálással

ábra. Az implantált N atomok mélységi eloszlása tellurit üveg mintában a SRIM programmal számítva.

ábra 15 µm széles hullámvezető csíkok tellurit üvegben. Implantálás: 1.5 MeV-es N + ionok,0.5, 1,2 és 4 x ion/cm 2 dózis, szilícium membránba mart ablakokon keresztül. IF-Phcontrast

ábra. Frekvenciakétszerezés az Er 3+ ionokkal adalékolt hullámvezetőben. A pumpáló hullámhossz 980 nm, a csatorna hullámvezető 1.0 x ion/cm 2 dózissal lett implantálva.

19 Eredmények Sík hullámvezetők Anyag: Er 3+ - adalékolt tellurit üveg. Implantátum: 1,5 MeV N ábra Sík hullámvezetők implantálása Er 3+ - adalékolt tellurit üvegben

ábra Ion-implantált sík hullámvezető Er 3+ - doppolt tellurit üvegben, Dózis = 8 x ion/cm 2 Interferencia - fáziskontraszt mikroszkóp.

21 D Zóna : Dózis: 8.0*10 16 ion/cm 2 Hullámvezetők effektív törésmutatójának meghatározása a prizmás m-vonalas (dark line spectroscopy) módszerrel. 15. ábra Ionimplantált sík hullámvezetők effektív törésmutatója az implantált dózis függvényében Er 3+ - doppolt tellurit üvegben. Konklúzió: eltemetett gát, szivárgó hullámvezető

22 3.Fotorefraktív hologramok LiNbO 3 kristályban Interferencia mikroszkópia segítségével „quasi in-situ” módszerünkkel meghatároztuk 300 μm vastag Fe:LiNbO 3 kristályba írt fotorefraktív holografikus rácsok törésmutató profilját az expozíció függvényében. ( Λ = 3, 6,5 és 8,8 μm rácsállandók, valamint V = 0,5 és 1,0 interferencia csík – láthatóság). Az interferogrammok kiértékelésére két módszert alkalmaztunk. Saját módszer: MATLAB script, polinom illesztés. FRIINT, Fourier transzformáció

23 Eredmények 16. ábra Hologram kialakulása a LiNbO 3 mintában. a, Λ = 3,0 μm. I 0 = 48.1 mW/cm 2. b, Λ = 6,5 μm. I 0 = 48.0 mW/cm 2. a, b,

ábra Két LiNbO 3 hologram mikro-interferogrammja. a, Λ = 3,0 μm, V = 1,00, E 0 = 3960 mJ/cm 2. b, Λ = 6,5 μm és V = 0,997, E 0 = 6528 mJ/cm 2. a, b,

ábra A FRIINT program egy pillanatképe. Egy 3 μm rácsállandójú hologram mikro-interferogramjának kiértékelése.

ábra A LiNbO 3 - ba írt hologramok törésmutató-modulációja az expozíció és a csíkláthatóság függvényében. a, Λ = 3,0 μm, b, Λ = 6,5 μm. a, b,

27 3.Projektek, tervek 1. Foto- és neutron-refraktív anyagok és jelenségek OTKA T , , (2008. dec. 31-ig meghosszabbítva). Témavezető: Dr. Kovács László, SZFKI Költségvetés: MFt Bányász István résztvevő kutató 2. Aktív és passzív integrált optikai elemek és eszközök tervezése és készítése ionimplantációval Olasz-magyar TéT együttműködés, IT - 15/03, Költségvetés: MFt Magyar témavezető: Bányász István Olasz témavezető: Giancarlo C. Righini, IFAC, CNR Firenze

28 3. Hullámvezetők és diffraktív optikai elemek készítése ion- implantációval OTKA (K), 2007 – 2010 Témavezető: Lohner Tivadar Résztvevők: Bányász István, Fried Miklós, Pászti Ferenc, Watterich Andrea és Major Csaba MFA SZFKI RMKI együttműködés Költségvetés: 16.2 MFt

29 Feladatok 1. Transzmissziós fázisrácsok készítése speciális üvegekben (Pyrex, boroszilikát) He, N implantációval. 2. Reflexiós fázisrácsok készítése CVD-vel SiO2-ben, kisenergiás N, Ne és Ar ionokkal. 3. Reflexiós fázisrácsok készítése többenergiás MeV-es ionokkal és hőkezelésekkel ( LiNbO 3, KTaO 3, Bi 12 GeO 20 (BGO), Gd 3 Ga 5 O 12 (GGG) és zafír). 4. Egyszerű transzmissziós diffraktív optikai elemek készítése többenergiás MeV-es ionokkal. 4. Komplex transzmissziós diffraktív optikai elemek készítése rétegnövesztés és FIB kombinációjával.

30 5. Publikációk Újságcikk: 1.I. Bányász, "Fourier analysis of high spatial frequency holographic phase gratings", J. Mod. Optics, 52, , (2005) 2.I. Bányász, "Higher-order harmonics in bleached silver halide holograms", Optics and Lasers in Engineering, (special issue on Diffractive Optical Elements), 44, , (2006) 3.I. Bányász, "Comparison of the effects of two bleaching agents on the recording of phase holograms in silver halide emulsions", Optics Communications, 267, , (2006) 4.S. Berneschi, G. Nunzi Conti, I. Bányász, A. Watterich, N. Q. Khanh, M. Fried, F. Pászti, M. Brenci, S. Pelli, G. C. Righini “Ion beam irradiated channel waveguides in Er3+-doped tellurite glass”, Applied Physics Letters, 90, , (2007) 5. Bányász I, Mandula G; Application of interference microscopy to the study of hologram build-up in LiNbO 3 crystals, Optics Communications, közlésre elküldve

31 Konferencia proceedings: 1.Bányász I. and Mandula G., "Direct microscopic observation of hologram build- up in photorefractive crystals", presented at the Symposium "Holography 2005", May 2005, Varna, Bulgaria, Proc. SPIE Vol. 6252, pp. O9-1 – 09-6, (2006) 2.I. Bányász and G. Mandula, “Quasi in-situ microscopic study of hologram build- up in LiNbO3 crystal”, presented at the Conference “Practical Holography XXI: Materials and Applications”, Photonics West 2007 Symposium, San Jose, USA, 20 – 27 January 2007,, Proc. SPIE 6488, pp.08-17, (2007) 3.S. Berneschi, M. Brenci, G. Nunzi Conti, S. Pelli, G. C. Righini, I. Bányász, A. Watterich, N. Q. Khanh, M. Fried, “Channel waveguides fabrication in Er 3+ - doped tellurite glass by ion beam irradiation”,presented at the Conference “Integrated Optics: Devices, Materials, and Technologies XI “, Photonics West 2007 Symposium, San Jose, USA, 20 – 27 January 2007, Proc. SPIE 6475, pp (2007) 4.Bányász, I, Berneschi, S, Fried, M, Cacciari, I, Lohner, T, Nunzi-Conti, G, Pászti, F, Pelli, S, Righini, GC, Watterich, A, Zolnai, Z, Petrik, P, “Nitrogen-ion- implanted planar optical waveguides in Er-doped tellurite glass”, accepted for publication at Symposium Photonics West 2008, San Jose, USA, 19 – 24 January 2008, Proc. SPIE 6890, pp. xxx (2008)

32 Köszönöm! Preguntas и замечания