Készült a HEFOP-3.3.1-P.-2004-06-0018/1.0 projekt keretében Az információtechnika fizikája XI. Előadás Félvezetők fizikája Törzsanyag Az Európai Szociális.

Slides:



Advertisements
Hasonló előadás
Készítette: Bráz Viktória
Advertisements

ELEKTRONIKAI TECHNOLÓGIA 2.
Kristályrácstípusok MBI®.
Rácstípusok.
SO 2, NO x felbontási hatásfokának vizsgálata korona kisülésben Horváth Miklós – Kiss Endre.
Elektromos alapismeretek
Atomrácsos kristályok
Félvezetők Félvezető eszközök.
E képlet akkor ad pontos eredményt, ha az exponenciális tényező kitevőjében álló >>1 feltétel teljesül. Ha a kitevőben a potenciálfal vastagságát nanométerben,
Félvezető fotodetektorok és napelemek elmélete és gyakorlati megvalósítása 2 dr. Mizsei János, 2006.
Az elektronika félvezető fizikai alapjai
FÉLVEZETŐ-FIZIKAI ÖSSZEFOGLALÓ
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke 1. zárthelyi megoldásai október 18.
Napenergia-hasznosítás
Si egykristály előállítása
CMOS technológia a nanométeres tartományban
A FÉMEK ÁLTALÁNOS JELLEMZÉSE
MIKROELEKTRONIKA 2. - Elektromos vezetés, , hordozók koncentrációja, mozgékonyság, forró elektronok, Gunn effektus, eszközök Adalékolás (növesztésnél,
Félvezető technika.
MIKROELEKTRONIKA 3. 1.Felületek, felületi állapotok. 2.Térvezérlés. 3.Kontakt effektusok a félvezetőkben. 4.MES átmenet, eszközök.
Az anyagok szerkezete.
A fémek és ötvözetek kristályosodása, átalakulása
FÉMES ANYAGOK SZERKETETE
Készült a HEFOP P /1.0 projekt keretében Az információtechnika fizikája IX. Előadás Kvantumstatisztikák Törzsanyag Az Európai Szociális.
Dinamikus klaszterközelítés Átlagtér illetve párközelítés kiterjesztése N játékos egy rácson helyezkedik el (periodikus határfeltétel) szimmetriák: transzlációs,
Ezt a frekvenciát elektron plazmafrekvenciának nevezzük.
1 A napszélben áramló pozitív töltésű részecskék energia spektruma.
Színfémek SZÍNFÉMEK.
Ötvözetek ötvözetek.
4. Félvezetőlézerek Lézerközeg: p-szennyezett és n-szennyezett félvezető anyag közötti határréteg Az elektromos vezetés szilárdtestfizikai alapjai szükségesek.
4. Félvezetőlézerek Lézerközeg: p-szennyezett és n-szennyezett félvezető anyag közötti határréteg Az elektromos vezetés szilárdtest-fizikai alapjai szükségesek.
2. Félvezetőlézerek Lézerközeg: p-szennyezett és n-szennyezett félvezető anyag közötti határréteg Az elektromos vezetés szilárdtest-fizikai alapjai szükségesek.
Elektron transzport - vezetés
A fémrács.
Hőtan.
12. előadás A fémek vezetőképessége A Hall-effektus Kristályok
Poisson egyenlettől az ideális C-V görbéig C V. Poisson egyenlet.
Félvezetők dr. Mizsei János, 2010 Egyedi atom:
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 Integrált mikrorendszerek:
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 Félvezető fizikai alapok.
Egykristályfelületek szerkezete és rekonstrukciói
A félvezetők működése Elmélet
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke 1. zárthelyi megoldásai október 10.
A Van der Waals-gáz molekuláris dinamikai modellezése Készítette: Kómár Péter Témavezető: Dr. Tichy Géza TDK konferencia
Dr. Nagy Erzsébet, Gyenes Anett, Vargáné Molnár Alíz,
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke MIKROELEKTRONIKA, VIEEA306 A pn átmenet működése: Sztatikus.
Atom - és Elektronpályák
Készült a HEFOP P /1.0 projekt keretében
Valószínűségszámítás II.
A kvantum rendszer.
A negyedik halmazállapot: A Plazma halmazállapot
Készült a HEFOP P /1.0 projekt keretében Az információtechnika fizikája XII. Előadás Elektron és lyuk transzport Törzsanyag Az Európai.
Készült a HEFOP P /1.0 projekt keretében Az információtechnika fizikai alapjai XIII. Előadás Nanoáramkör - esettanulmányok Törzsanyag.
Az atommag alapvető tulajdonságai
Készült a HEFOP P /1.0 projekt keretében
Halmazállapotok Gáz Avogadro törvénye: azonos nyomású és hőmérsékletű gázok egyenlő térfogatában – az anyagi minőségtől, molekula méretétől függetlenül.
Készült a HEFOP P /1.0 projekt keretében Az információtechnika fiziája X. Előadás Szilárdtestek fizikája Törzsanyag Az Európai Szociális.
Készült a HEFOP P /1.0 projekt keretében Az információtechnika fizikája III. Előadás Stacionárius és kvázistatcionárius áramkörök Törzsanyag.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke Minőségbiztosítás a mikroelektronikában A monolit technika.
Helyük a periódusos rendszerben Felhasználásuk Közös tulajdonságaik Kivételek Szabadon mozgó elektronfelhő Fémes kötés.
Atomkristályok. Az atomkristály Atomtörzsek rendezett halmaza: benne nem meghatározott számú atomot kovalens kötések rögzítenek.
Kristályok szimmetriái. Mexico Naica barlang Szerkezetek: RÁCS.
Korszerű anyagok és technológiák
1. Dobozba zárt elektron alap energiája 0,6 eV
Atomrácsos kristályok
Félvezető fizikai alapok
A félvezető dióda Segédanyag a Villamosmérnöki Szak Elektronika I. tárgyához Belső használatra! BME Villamosmérnöki és Informatikai Kar Elektronikus Eszközök.
Hőtan.
Előadás másolata:

Készült a HEFOP P /1.0 projekt keretében Az információtechnika fizikája XI. Előadás Félvezetők fizikája Törzsanyag Az Európai Szociális Alap támogatásával

2006 HEFOP P / Félvezetők sávstruktúrái Félvezetők olyan kristályos szilárd anyagok, amelyek vezetőképessége a ‘majdnem szabad’ elektronok jelenlétével kapcsolatos, és ez a vezetőképesség növekvő hőmérséklettel nő; döntő tulajdonságaik a kristály ‘rács-hibáival’ kapcsolatosak. Ezeket a a rácsba céltudatosan beépített idegen atomok, az adalék-anyag atomjai okozzák. A félvezetőkben nagy számú elektron mozog, és az elektronok egymás közötti kölcsönhatása elhanyagolható. Az áramlási jelenségek úgy írhatók le, hogy a vezetési sáv majdnem szabad elektronjai mellett pozitív töltéssel ellátott fiktív részecskék, a lyukak is részt vesznek mint töltéshordozók. A részecskék (elektronok és lyukak) áramlása kétféle: a külső tér hatására vezetési(sodródás) áram jön létre, a töltéshordozók koncentrációjának térbeli változásából adódóan pedig diffúziós áram. Félvezető alapanyagok: NAGY TISZTASÁG ! 10 9 : : 1 Mikroelektronika : méretek nagyobbak 0,1 ÷ 1,0 mikronnál Elektronsokaság azaz elektrongáz  Statisztikus modellek

2006 HEFOP P / Félvezető elemek Siszilícium Gegermánium 2.Félvezető vegyületek (a) IV–IVSi Cszilícumkarbid Si Geszilíciumgermanid Al Palumímiumfoszfid (b) III–VGa Pgalliumfoszfid Ga Asgalliumarzenid Ga Sbgalliumantimonid In Pindiumfoszfid (c) II–VIZn Secinkszelénid Zn Tecinktellurid Cd Skadmiumszulfid 3.Félvezető ötvözetek Al x Ga 1–x As GaAs 1–x P x Al x Ga 1–x As y Sb 1–y Ga x In 1–x As 1–y P y A félvezető eszközök döntő többségében az eszköz működését meghatározó aktív anyagkristályszerkezetű félvezető, mégpedig főként szilícium, germánium és GaAs kristály.

2006 HEFOP P / A Si és Ge kristályszerkezete gyémántrácsú: egy lapközepes köbös rács egyik csúcsában és ezen csúcshoz tartozó mindhárom lap középpontjában lévő atomtól indítunk egy vektort, és az így nyert pontokba is atomot helyezünk. A gyémántrács elemi cellájában ily módon 8 atom helyezkedik el: a lapokon, és 4 a kocka belsejében. a csúcson, A GaAs kristályrácsa ugyancsak köbös, és ugyancsak a lapközepes köbösből a gyémántrácshoz hasonló módon származtatható. A legközelebbi szomszédok száma 4. Si, Ge, GaAs

2006 HEFOP P / A kristályt alkotó atomok atomsúlyából, a rácsállandóból és az Avogadro-számból meghatározhatjuk az anyag sűrűségét, ha ismerjük a rácsszerkezetet. A szilícium rácsállandója: a = 0,543 nm, 8 atom van egy cellában, az atomsúly 28,1 g/mol: g/cm 3. A lapközepes köbös rács, a gyémántrács és a cinkblende rács Brillouin-zónája azonos Szerencsére a legfontosabb tulajdonságok megismeréséhez elegendő az első Brillouin- zóna szimmetriapontjainak ( , , L) és szimmetriatengelyeinek ([111], [100]) környezetében vizsgálódni. A félvezető eszközök működése szempontjából legfontosabbak a legkisebb energiájú vezetési sáv minimumai és a legnagyobb energiájú valenciasáv maximumai. Ennek az az oka, hogy alacsony hőmérsékleteken (a szobahőmérséklet elektronok számára alacsonynak tekinthető) a vezetési sáv minimumánál lényegesen nagyobb energiájú szintek üresek, a valenciasáv maximumánál lényegesen alacsonyabb energiájú szintek pedig elektronokkal telítettek.

2006 HEFOP P / Minden fontos félvezető esetén a legmagasabb valenciasáv maximuma az első Brillouin-zóna  pontjának felel meg. A Si, a Ge, a GaAs és más III–V vegyületek W(k) függvényében a vezetési sáv minimumát a valenciasáv maximumától egy tiltott sáv választja el. A valenciasávok maximuma a  pontban van. Két valenciasáv, degenerált lévén, a  pontban azonos energiájú (a könnyű lyukak és a nehéz lyukak sávja a  -ban találkozik) A harmadik valenciasáv maximuma W S0 -val kisebb energiájú. A vezetési sáv legkisebb energiájú pontja különböző félvezetők esetén a Brillouin-zóna különböző helyein található. Germánium esetén az L pontban (1,1,1), szilíciumban a (k,0,0)  -tengely mentén az X pont (1,0,0) közelében. GaAs-ban a vezetési sáv minimuma is a  (0,0,0) pontban van. Azokat a félvezetőket, amelyekben a vezetési sáv minimuma és a valenciasáv maximuma ugyanahhoz a k hullámszám-vektorhoz tartozik, direkt tiltott sávú félvezetőknek, azokat, amelyekben különböző k-hoz tartoznak, indirekt tiltott sávú félvezetőken nevezik. A Si és a Ge indirekt félvezetők.

2006 HEFOP P / Az elektron megengedett mikroállapotainak eloszlása Betölthető szintek a vezetési sávban Betölthető szintek a valenciasávban Sajátvezetésű (Intrinsic) félvezető anyagok W Termikus egyensúly Töltésneutralitás elve:

2006 HEFOP P /1.10 8

2006 HEFOP P / Intrinsic félvezetők Fermi szintje Sajátvezetésű (intrinsic) félvezezetőben n i =p i, vagyis p i n i =n i 2. A tiltott sáv szélességét W C0 –W V =  W-vel jelölve, a töltéshordozó-sűrűségre az

2006 HEFOP P / Adalékolt félvezetők, n tipus és p tipus

2006 HEFOP P / Intrinsic félvezető adatai: N C0, N V, W C0, W V,  W N C0 NvNv W W C0 WVWV WaWa WdWd WFWF Adalékolás: W d, N d, W a, N a NdNd NaNa

2006 HEFOP P / = Töltésneutralitás:

2006 HEFOP P / Töltésneutralitás: n - típusú félvezető p-típusú félvezető

2006 HEFOP P / Vezetők Fémek Szigetelők (dielectrics) Intrinsicp – tipusún - tipusú félvezetők (semiconductors) W Sommerfeld-féle model W Nincs elektron Nincs lyuk W WW

2006 HEFOP P / Példák 1.Szilicium tiltott sávja: 1.1 eV. Az elektronok átlegos effektiv tömege 0.31xm, ahol m a szabad elektron tömeg. Számitsa ki az elektronok vezetési Sávbeli koncetnrációját szobahőmérsékleten. Tegye fel, hogy a Fermi szint a titlott sáv közepére esik. Intrinsic félvezető

2006 HEFOP P / Szobahőmérséklet

2006 HEFOP P / Szilicium Si lapkát foszforral adalékolunk. A donor adalék szintje eV-al kissebb, mint a vezetési sáv legkisebb energia szintje. 300 K-en, a W F eV-al van fölötte a donor szintnek. Határozza meg (a) az adalék koncentrációt, (b) az ionizált adalék atomok sűrűségét, (c) A vezetési sávbeli elektron, és a (d) valencia sávbeli lyuk koncentrációt! Si esetében a ΔW = 1.1 eV, n – tipusú félvezető

2006 HEFOP P / Fermi szint Donor szint eV eV 1.1 eV

2006 HEFOP P / Többségi töltéshordozók: elektronok a vezetési sávban Kissebségi töltéshordozók: lyukak a valencia sávban