Az előadás letöltése folymat van. Kérjük, várjon

Az előadás letöltése folymat van. Kérjük, várjon

Minőségbiztosítás II_6. előadás 2012.05.03.. NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt KUSZUM-kártya (CUSUM.

Hasonló előadás


Az előadások a következő témára: "Minőségbiztosítás II_6. előadás 2012.05.03.. NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt KUSZUM-kártya (CUSUM."— Előadás másolata:

1 Minőségbiztosítás II_6. előadás

2 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt KUSZUM-kártya (CUSUM – Cumulative Sum) Kuszum-érték: a különbség halmozódó összege. T = célérték (folyamatátlag vagy előírt érték) Nullhipotézis: H 0 : E(x)=T Fennállásakor Q i értéke véletlenszerűen ingadozik 0 körül! Cumulative Sum Subgroup Number Upper CUSUM Lower CUSUM

3 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt KUSZUM-kártya (CUSUM – Cumulative Sum) Grafikus módszer: „V”-maszk formájú ellenőrző határok A V- maszk paramétereinek meghatározása az elsőfajú és másodfajú hiba vállalt szintje alapján: A V-maszk és paraméterei h = δ=Δ/σδ=Δ/σ

4 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt KUSZUM-kártya Példa: μ 0 = 250 g töltés σ 0 = 1,0 g. n=5 A tizedik mintától: μ 1 = 250 g + 0,5g = 250,5g,σ 1 = σ 0

5 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Példa folytatása Az elállítódás jelzése

6 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Működési jelleggörbéről leolvasva OC  β = 0,971- β = 0,03 ; n=5, Δ = 0,5σ esetén Shewart-kártya alkalmazásával, α = 0,0027

7 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Átlagos sorozathossz görbéiről A riasztáshoz szükséges mintavételi szám várható értéke n=5, Δ = 0,5σ esetén

8 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Minőségtartó szabályozás Ellenőrző kártyák minősítéses jellemzőkre Két esete: A termékre vonatkozó adat: - valamely jellemző alapján megfelelő – nem megfelelő: - valamely jellemző alapján megfelelő – nem megfelelő:selejtkártyák - az előforduló hibák száma: - az előforduló hibák száma:hibakártyák

9 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Minőségtartó szabályozás Ellenőrző kártyák minősítéses jellemzőkre Selejtkártyák A sokaság jellemzője: p selejtarány Mintajellemző (n elemű minta): 1. a mintában talált selejtes elemek száma, D: np kártya 2. a mintabeli selejtarány, p i :p kártya Az np kártya csak n=const. esetben alkalmazható! A szabályozás során p = p 0 (p 0 előírás) p = p(minták átlagos selejtaránya) _

10 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Selejtkártyák A mintajellemző (np, p) binomiális eloszlású D a mintában talált selejtes darabok száma

11 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt np-kártya Kártyaparaméterek meghatározása D eloszlásjellemzőiből Várható érték: E(D) = np Variancia: Var(D) = np(1-p)

12 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Selejtkártyák Példa np-kártyára n = 50 átlagos selejtszám (np) = 4,8125 selejtarány: p = (np) /n = 0,0963 __ ___

13 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt p-kártya Kártyaparaméterek meghatározása p i eloszlásjellemzőiből Várható érték: E(p i ) = p; Variancia: Var(p i ) = p(1-p)/n p i =D i /n i

14 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács ZsoltSelejtkártyák Példa p-kártyára, n ≠ const. Ellenőrző határok átlagos mintanagyság alapján Átlagos mintanagyság: ,25 0,20 0,15 0,10 0,05 0

15 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Selejtkártyák Példa p-kártyára, n = const. / Mintanagyság szerint változó ellenőrző határok ,25 0,20 0,15 0,10 0,05 0

16 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Selejtkártyák Példa p-kártyára, n ≠ const. Normalizált változóra meghatározott ellenőrző határok

17 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Hibakártyák Mintajellemző: c i = a mintákban talált hibák száma. Annak valószínűsége, hogy c valamely k értéket vesz fel, Poisson eloszlást követ  – az eloszlás paramétere; =n’p, n’ – hibahelyek száma a mintában p – az előfordulás valószínűsége p – az előfordulás valószínűsége

18 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt c-kártya Kártyaparaméterek meghatározása k eloszlásjellemzőiből Várható érték: E(c) = E(c) = Variancia: Var(c) = Var(c) = ahol m a megvizsgált minták száma

19 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Hibakártyák Példa c-kártyára, a minta mérete konstans. Mintanagyság meghatározása az LCL  1 feltétel alapján Ajtónkénti átlagos hibaszám: 2 ha n=5 ha n=6

20 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Hibakártyák Példa c-kártyára, a minta mérete konstans. Mintanagyság: n=6 ajtó Σ=120

21 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Az átvételi minőség-ellenőrzés alapelvei Szállító:tételt ad át megnevezett minőségi szinttel (selejtaránnyal) Vevő:tételt vesz át a megnevezett minőségi szint feltételezésével Három eset lehetséges:minden darabos vizsgálat vizsgálat nélküli átvétel (SPC dokumentumai alapján) mintavételes ellenőrzés

22 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Az átvételi minőség-ellenőrzés alapelvei NullhipotézisH 0 :p ≤ p 0 EllenhipotézisH 1 :p > p 0 Mintavételes ellenőrzés Szállító kockázata: α elsőfajú hiba (a p < p 0 tételből vett minta alapján a vevő elutasítja a tételt) Vevő kockázata: β másodfajú hiba (a p > p 0 tételből vett minta alapján a vevő elfogadja a tételt) A másodfajú hiba nagysága H1 ellenhipotézishez kötött, egy adott p 1 > p 0 selejtarány fennállására vonatkozik Tétel elemeinek száma N Minta elemeinek száma n N>>n Binomiális eloszlás

23 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet ELLENŐRZÉSI TERV Adott: a tétel elemszáma (N) Keressük: a minta elemszámát (n) és az elfogadási határt (c). n és c felvételéhez ismerni kell: - az első- és másodfajú hiba nagyságát (  és  ), - a tétel p 0 elfogadási selejtarányát, vagyis az átvételi hibaszintet (AQL – Acceptable Quality Level) - az ellenhipotézis szerinti p 1 értéket (amire a  vonatkozik), vagyis az elutasítási szintet (RQL – Rejectable Quality Level; LTPD – Lot Tolerance Percent Defective)

24 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Az átvételi minőség-ellenőrzés statisztikai próbája NullhipotézisH 0 :p 0 = 0,01 EllenhipotézisH 1 :p = 0,05 Példa Ha H 0 fennáll, az n = 80 mintában legnagyobb valószínűséggel n·p 0 = 80 ·0,01 = 0,8  1 selejtes elem fordul elő! Tétel elemeinek száma N = 1000 Minta elemeinek száma n = 80

25 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Az átvételi minőség-ellenőrzés statisztikai próbája Legyen az előírás: c=2átvesszük, ha D kisebb, vagy egyenlő 2-vel;elutasítjuk, ha D nagyobb, mint 2

26 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Az átvételi minőség-ellenőrzés statisztikai próbája Az előírás szerint a tételt akkor utasítjuk el, ha D > 2. a hibás elutasítás valószínűsége a hibás elfogadás valószínűsége.

27 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Az átvételi minőség-ellenőrzés statisztikai próbája Az elfogadás valószínűsége különböző alternatív állapotokra: OC görbe p P a =P(D≤ 2) 0,00 1, ,01 0, ,02 0, ,03 0, ,04 0, ,05 0, ,06 0, ,07 0, ,08 0, ,09 0, ,10 0, ,11 0, ,12 0,00256 AQLLPTD  1-  

28 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Az átvételi minőség-ellenőrzés statisztikai próbája A működési jelleggörbe függ n-től és c-től.

29 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Egylépcsős átvételi terv egypontos eljárással, a szabvány táblázatainak használatával normál szigorítottellenőrzés  értéke szerint. enyhített Az ellenőrzés szigorúsága az elsőfajú hiba nagyságát határozza meg, normális ellenőrzésre ez 0,01és 0,09 között van.

30 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Egylépcsős átvételi terv egypontos eljárással, a szabvány táblázatainak használatával A különböző szigorúságú tervek jelleggörbéi a nullhipotézisnek megfelelő p 0 selejtarány környezetében jelentősen, nagyobb selejtarányoknál pedig alig különböző P a =1-α átvételi valószínűséget adnak meg. p1p1

31 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt Egylépcsős átvételi terv egypontos eljárással, a szabvány táblázatainak használatával Az átvételi tervek különböző ellenőrzési fokozatai: - általános fokozatok: I, II, III, járulékos fokozatok: S-1, S-2, S-3, S-4. Az ellenőrzési fokozatoknál viszont az ellenhipotézis szerinti selejtarányoknál a másodfajú hiba valószínűségében van nagy különbség.

32 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet A táblázatos mintavételi tervek használata Az MSZ (ISO stb.) szabványok táblázatokat adnak a szükséges mintaelemszámra és az elfogadási határértékre. Az átvételi ellenőrzési terv fajtájában és szigorúságában, valamint a mintavételi lépcsők számában és az átvételi hibaszint (AQL) értékében az átadó és az átvevő előre megállapodik. Ezt követően a tétel ellenőrzése a megállapított paramétereknek megfelelő szabványos ellenőrzési terv szerint történik. A táblázatok használata során először a tételnagyság és az ellenőrzési fokozat szerint a kulcsjel-táblázatból egy nagy betűvel jelölt kódot kapunk. (Példánkban az 1000 db-os tétel ellenőrzéséhez a II. fokozatban állapodtunk meg.)

33 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet A táblázatos mintavételi tervek használata Kulcsjel-táblázat

34 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet A táblázatos mintavételi tervek használata Egyszeres mintavételi terv normális vizsgálatra.

35 NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet A táblázatos mintavételi tervek használata Többszörös mintavételi terv normális vizsgálatra.


Letölteni ppt "Minőségbiztosítás II_6. előadás 2012.05.03.. NYME FMK Terméktervezési és Gyártástechnológiai Intézet Minőségtervezés 2006 Kovács Zsolt KUSZUM-kártya (CUSUM."

Hasonló előadás


Google Hirdetések