Az előadás letöltése folymat van. Kérjük, várjon

Az előadás letöltése folymat van. Kérjük, várjon

Anyagtudományi vizsgálati módszerek Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA)

Hasonló előadás


Az előadások a következő témára: "Anyagtudományi vizsgálati módszerek Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA)"— Előadás másolata:

1 Anyagtudományi vizsgálati módszerek Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA)

2

3 Mikroszkópos leképezési technikák összehasonlítása

4 E = h· E = h· E = m·c 2 c = λ· c = λ· Az U feszültséggel gyorsított elektron kinetikus energiája: A c sebességű, m mozgási tömegű részecske hullámhossza: de Broglie ½ m·v 2 = e· U Az elektron hullámhossza: A 20 kV feszültséggel gyorsított elektron hullámhossza:

5 A pásztázó elektronmikroszkóp (SEM) felépítése

6 A Wehnelt termoemissziós katód felépítése

7

8 Elektromosan nem vezető minták bevonása, a vezető réteg vastagságának hatása a kép minőségére

9 Szekunder elektronok Visszaszórt elektronok Abszorbeált elektronok Karakterisztikus röntgensugárzás Folytonos röntgensugárzás Fényemisszió Elektronsugár indukálta áram Az e - sugárzás keltette jelenségek a mintában

10 Szekunder ill. visszaszórt e - keletkezése

11 A röntgen- ill. elektronsugárzás által kiváltott jelenségek

12 Everhart-Thornley detektor (szekunder(SE) és visszaszórt(BSE) elektronok detektálására)

13 Félvezető detektor (visszaszórt elektronok (BSE) detektálására)

14 A világos terület főleg réz (Cu) a sötétebb pedig főleg alumínium (Al) Félvezető detektorok kapcsolása

15 EDSEDS Az elektronsugaras mikroanalízis detektálási lehetőségei WDS EDS

16 Detektorok Környezetszimuláló szekunder elektron-kép (LVSE) Szekunder elektron-kép (SEI) Visszaszórt elektron-kép (BEI) Energiadiszperzív analizátor (EDS)

17 Technikai jellemzők Termoemissziós volfrám katód Gyorsítófeszültség: 0,5 – 30kV Nagyítás: x 18 – x Felbontás: 3,5nm (SEI) ill. 5,0nm (BEI) Munkatávolság: 5 és 48 mm között Mikroanalízis: spektrum, pontanalízis, vonalanalízis, röntgentérkép (szénnél nagyobb rendszámú elemek)

18 Mintaelőkészítés mintatartó: réz műanyag bevonat:Au/Pd szén

19 Optikai vizsgálatok Hőmérséklet- programozó Fűthető tárgyasztal Digitális kamera Megvilágítás: alsó felső

20

21

22 Haj morfológiai vizsgálata Novák Csaba

23 Kristálymorfológia vizsgálata Novák Csaba Kodein acetát Kodein bázis Kodein foszfát Kodein hidroklorid

24 Polimerek vizsgálata Márton Andrea, Marosi György

25 Polimerek vizsgálata Pozsgay Tünde, Pozsgay András, Pukánszky Béla

26 Aktív szenek vizsgálata László Krisztina polietilén tereftalát 6 óra szobahőmérsékleten3 óra forrponton

27 Aktív szenek vizsgálata László Krisztina kezeletlen minta SEI kezeletlen minta BEI

28 Aktív szenek vizsgálata László Krisztina


Letölteni ppt "Anyagtudományi vizsgálati módszerek Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) Elektronsugaras mikroanalízis (EPMA)"

Hasonló előadás


Google Hirdetések