S UGÁRZÁS KÖLCSÖNHATÁSA AZ ANYAGGAL XPS MÓDSZEREK TÍPUSAI ÉS ANALITIKAI ALKALMAZÁSAI C.S. Fadley - X-ray photoelectron spectroscopy: Progess and perspectives,

Az előadások a következő témára: "S UGÁRZÁS KÖLCSÖNHATÁSA AZ ANYAGGAL XPS MÓDSZEREK TÍPUSAI ÉS ANALITIKAI ALKALMAZÁSAI C.S. Fadley - X-ray photoelectron spectroscopy: Progess and perspectives,"— Előadás másolata:

1 S UGÁRZÁS KÖLCSÖNHATÁSA AZ ANYAGGAL XPS MÓDSZEREK TÍPUSAI ÉS ANALITIKAI ALKALMAZÁSAI C.S. Fadley - X-ray photoelectron spectroscopy: Progess and perspectives, J. Electron Spectroscopy and Related Phenomena 178- 179 (2010) 2-32 Készítették: Pásztor Diána Mester Dávid vegyészmérnök MSc

2 XPS ELVI ALAPJAI Fotoionizáció (hυ=1250-4500 eV)

3 F OTOELEKTRON SPEKTRUM

4 A LKALMAZÁS Áttekintő spektrumok felvétele Mg vagy Al Kα Spektrumvonalak intenzitása-atom mennyiségével arányos KvalitatívKvantitatív

5 C ORE LEVEL

6 C ORE LEVEL KÉMIAI ELTOLÓDÁS Legelőször Na 2 S 2 O 3 A két S különböző kémiai állapotban van jelen Felületen lévő helyek kémiai és szerkezeti tulajdonságairól ad egyedi információt

7 T OVÁBBI JELENSÉGEK Core level multiplettek felhasadása Betöltetlen vegyértékhéjú rendszerek emissziójakor Mágneses és egyéb komplex anyagok vegyértékállapota és kémiai kötései Fotoelektron diffrakció és holográfia Fotoelektron emisszió irányát és szögét változtatjuk Különböző atomokból kilépő elektron hullámok komponensei miatt fellépő aniztoróp szórás és interferencia

8 Cirkuláris és lineáris dikroizmus Mindenütt jelen van az XPS-ben

9 S ZÖGFELOLDOTT FOTOEMISSZIÓS SPEKTROSZKÓPIA (ARPES)

10 T OVÁBBI XPS TECHNIKÁK Spinfelbontásos XPS (Spin-resolved XPS, SRXPS) - Detektorok továbbfejlesztése szükséges - Kihasználja a spin-pálya kölcsönhatást - Elektronspin mérhetővé válik - Mágneses anyagoknál nagyon fontos - Nagy mérési idő 

11 T OVÁBBI XPS TECHNIKÁK Kemény röntgensugárzással gerjesztett XPS (XPS with hard X-ray excitation, HXPS) - Korábbi módszerek érzékenységének javítása

12 T OVÁBBI XPS TECHNIKÁK Időfelbontásos XPS (Time-resolved XPS, TRXPS) - Perturbálás után mérjük a mintában lecsengő folyamat időfüggését - min  fs - PH és PD-val alkalmas lehet időfelbontásos atomi szintű képalkotásra

13 R ÖNTGEN FOTOELEKTRON DIFFRAKCIÓ ALKALMAZÁSA - Komplex rendszerekben atomi pozíciók pontos meghatározása

14 K ÖSZÖNJÜK A FIGYELMET !