Az előadás letöltése folymat van. Kérjük, várjon

Az előadás letöltése folymat van. Kérjük, várjon

Röntgenanalitikai módszerek Kémiai analízis kérdései a mérendő mintáról: –Egynemű-e? Az-e, aminek deklarálták? Ha nem, hány más komponens van benne? (n)

Hasonló előadás


Az előadások a következő témára: "Röntgenanalitikai módszerek Kémiai analízis kérdései a mérendő mintáról: –Egynemű-e? Az-e, aminek deklarálták? Ha nem, hány más komponens van benne? (n)"— Előadás másolata:

1 Röntgenanalitikai módszerek Kémiai analízis kérdései a mérendő mintáról: –Egynemű-e? Az-e, aminek deklarálták? Ha nem, hány más komponens van benne? (n) –Melyek ezek a (kísérő) komponensek? (i=1,..., n): minőségi elemzés –Mekkorák a koncentrációi az egyes alkotóknak? : (c i, i=1,..., n), mennyiségi elemzés –c i (x, t)=? (vonalmenti, felületi, mélységi, időbeli elemzés) Röntgenfluoreszcencia (XRF), Röntgendiffrakció (XRD),...

2 Röntgenanalitikai módszerek Kémiai analízis általános módszere : 0. lépés: Jelképző folyamat keresése M(inta) + R(eagens)  (kölcsönhatás, reakció)  M(inta)’ + R(eagens)’  változás(ok) mérése  …  Analitikai Jel: J = f (c i ) Reagens: anyag avagy elektromágneses hullám. (Röntgensugárzás? R és/vagy R’) 1.lépés: Kalibrációs görbe: J = f (c i, ismert ) kimérése 2.lépés: mérés és visszakövetkeztetés (a kalibrációs görbe inverz használata) c i = f -1 (J), az inverz-függvényképzés akkor és csak akkor lehetséges, ha a kalibrációs görbe szigorúan monoton függvénye a koncentrációknak.

3 A röntgensugárzás, mint analitikai reagens Felfedezése (1895, W. K. Röntgen, katódsugárcső, ZnS-os ernyő, X-[ismeretlen]-sugárzás, X-ray, Röntgen-Strahlung) Elektromágneses, nagy energiájú és nagy áthatoló képességű sugárzás Jellemzői: energiája: E=h =hc/ ekvivalens elektronenergia: E=e - U gy (keV) (0,1 – 1000 keV) Hullámhossza és mértékegysége: 0, Å; 1 Å = 0,1 nm Csoportosítása: folytonos, vonalas, ezek összeadódása, monokromatikus sugárzás

4 A röntgensugárzás kölcsönhatásai az anyaggal, alapjelenségek. 1. Abszorpció 1. Abszorpció (elnyelődés, gyengülés) – x, rétegvastagság, – , sűrűség, –  m, tömegabszorpciós tényező A  m rendszám (Z) és hullámhossz ( ) függése: –N A, Avogadro szám, –A, atomtömeg Keverékekre, vegyületekre: –Az átlagos  m,T : –w i, atomi tömegtörtek

5 Eltérések a  m ~ 3 összefüggéstől: Abszorpciós élek ( =hc/E): K-, L I -, L II -, L III -, M I-V, N I-VII,... sít. –Ugrásszerűen változik a  m. –Belső (atomtörzsi) ionizáció játszódik le. –A lezárt atomhéjak elektronkötési energiájára, energiaszintjeire következtethetünk. Röntgenabszorpciós spektroszkópia: –Ha egy nagy rendszámú elem van jelen kis rendszámú elemekből álló mátrixban; –A nagy rendszámú elem abszorciós éle előtt és után mérni; A röntgensugárzás kölcsönhatásai az anyaggal: Belső ionizáció, abszorpciós élek  m,Pt Hullámhossz, (Å) log  m,Br K L I-III K

6 A belső ionizációt követő stabilizálódási folyamatok típusai: 1.)  E  E=h emissziója Karakterisztikus röntgenvonalak –Nagy rendszámú elemekre jelentős a valószínűsége; – 0 > 1, 2, 3,..., de még röntgensugarak (fluoreszcencia); –A lezárt atomhéjak energiaszintjeinek különbségeire következtethetünk. Röntgenfluoreszcenciás spektroszkópia: –Adott rendszámú elemre jellemző energiájú, ill. hullámhosszúságú röntgenvonalsorozat  minőségi elemanalízis keverékben is; –A vonalak intenzitása a jelenlévő elemek koncencentrációjának monoton függvénye  mennyiségi elemzés; A röntgensugárzás kölcsönhatásai az anyaggal: 2. Fluoreszcens röntgenemisszió 1. Stabilizálódás E i =h i =  E i röntgenfotonsorozat (karakterisztikus röntgensugárzás) kibocsátásával 2. Auger e - -emisszióval E1E1 EE E2E2 E3E3 h 0 h  h  K L M V N

7 A fluoreszcencia (a karakterisztikus röntgensugárzás) hozama

8 A belső ionizációt követő stabilizálódási folyamatok típusai: 2.  E  e Auger emissziója A felület közeléből jellegzetes foto-elektron, ill. Auger-elektron emisszió: –Kis rendszámú elemekre igen jelentős az Auger-elektronkibocsátás a valószínűsége; –Vákuumban a kirepülő elektronok kvantáltan megmaradó kinetikus energiája mérhető meg, –amiből a lezárt atomhéjak energiaszintjeinek különbségeire következtethetünk ismét. Foto-elektron, ill. Auger-elektron spektroszkópia (XPS és AES, ill. együtt ESCA): –Adott rendszámú elemre jellemző energiájú elektronok sora lép ki  minőségi elemzés keverékben is; –A kilépő elektronok intenzitása a jelenlévő elemek koncencentrációjának monoton függvénye  mennyiségi elemzés; A röntgensugárzás kölcsönhatásai az anyaggal: Foto- és Auger-elektronemisszió 1. Belső ionizáció: fotoelektron megjelenése 2. Auger e - -emisszióval E1E1 EE E2E2 E3E3 h 0 h  h  K L M V N e 1 = e foto e 3 = e Auger e2e2 e 1 = e foto

9 Diffrakció (hullámok elhajlása és interferenciája) alapfeltétele: rtg ~d rács A periodikusan ismétlődő, hosszútávú rendet mutató kristályrácson erősítés csak kitűntetett (ún. reflexiós) irányokban jelentkezik (elhajlás), egyéb irányokban teljes kioltás tapasztalható. Az erősítés geometriai feltételét a Bragg-egyenlet adja meg: (az interferáló hullámok útkülönbsége egyezzen meg azok hullámhosszának egészszámú többszörösével)  s=(n) = 2 d sin  –, a diffraktálódó röntgensugarak hullámhossza (Å), – n = 1, 2, 3,..., kis egészszám (ált. n=1-nek tekintjük), – d, az elhajlást okozó síksereg jellegzetes rácssíktávolsága (Å), – , a diffraktáló sík és a röntgensugár szöge, a beesési szög pótszöge A röntgensugárzás kölcsönhatásai az anyaggal: 3. Röntgensugarak diffrakciója kristályokon Bragg-egyenlet:

10 Diffrakció egykristályokon  állandó, ismert hullámhosszúságú monokromatikus sugárzással –Adott kristályra jellemző szubmikroszkópikus rácssíktávolságok d i meghatározhatók az egyes  i,n -k mérésén keresztül: Az összes lehetséges eltérülési irányt, ill. az abban az irányban mérhető eltérülési intenzitást kimérve, matematikai módszerekkel igen pontosan visszakövetkeztethetünk a kristály kristálytani elemi cellájára, ill. az abban jelenlévő atomok minőségére és geometriai elhelyezkedésére  rács-, ill. molekulaszerkezet (atomtávolságok, kötésszögek megadása) megoldása = egykristálydiffrakciós szerkezetmeghatározás –Az eltérülési irányok csak a kristálytani elemi cella méreteitől (a, b, c, , ,  ) és a kristály külső és belső szimmetriáitól (tércsoportjától) függnek; –míg az adott eltérülési irányban észlelhető röntgensugár-intenzitás a jelenlevő atomok minőségétől (f i ~ Z e ) és a rácssíkok közötti helyétől (cos  fg. szerint) függ; A röntgensugárzás kölcsönhatásai az anyaggal: 3a. Röntgendiffrakció egykristályokon

11 Diffrakció adott síkja mentén polírozott nagyméretű kristályokon (ahol d  állandó, ismert) különböző hullámhosszúságú sugárnyalábbal: –Az eltérő hullámhosszúságú röntgensugarak különböző mértékben térülnek el rajta, így az egyes i hullámhosszak szétválaszthatók és meghatározhatók az egyes 2  i -k mérésén keresztül: Felhasználási lehetőségek : –Monokromatikus (egy adott hullámhosszúságú) röntgensugár kiválasztása, előállítása –Adott hullámhosszúságú röntgensugár hullámhosszának számítása (továbbá intenzitásának mérése) A röntgensugárzás kölcsönhatásai az anyaggal: 3b. Röntgendiffrakció ún. analizátorkristályokon

12 Diffrakció véletlenszerűen rendezetlen orientációban elhelyezkedő kristályporon, ill., polikristályos anyagokon adott ( állandó, ismert) hullámhosszúságú (monokromatikus) sugárnyalábbal: –A kristálytanilag azonos síkseregek reflexiói sugárkúpokba rendeződnek, amelyek félkúpszögei éppen 2  i nagyságúak lesznek, segítségükkel az egyes d i jellemző rácstávolságok meghatározhatók az egyes 2  i -k mérésén keresztül (n=1, feltételezésével): Pordiffrakciós kép: d i (2  i ) - I rel (= 100 I i /I 100% ) adatpár-sorozat –A pordiffrakciós kép minden kristályos fázisra egyedileg jellemző (bár hasonló szerkezeteknél hasonlók lehetnek) Az egyes kristályos anyagok (vegyületek, elemek) minőségük szerint azonosíthatók (kristályos fázisok, pl. módosulatok, eltérő oxidációs fokú oxidok, eltérő savanyúságú sók, vesekövek azonosítása); Még kristályaik keverékében is megtartják önálló diffrakciós képüket  röntgendiffrakciós fázisanalízis (XRD), azonosítás szilárd keverékeikben; A röntgensugárzás kölcsönhatásai az anyaggal: 3c. Röntgendiffrakció kristályok finom porán

13 A belső ionizációt, ill. az azt követő stabilizálódási folyamatokat, így a röntgenfotonok  E  E=h emisszióját nagy energiájú bombázó töltött részecskékkel is elérhetjük: Elektrongerjesztéses röntgenanalizis, elektron-mikroszonda (EMP, EPMA): –Adott rendszámú elemre jellemző energiájú, ill. hullámhosszúságú röntgenvonalsorozat helye és intenzitása  minőségi és mennyiségi elemzés; Pozitivan töltött részecske indukálta röntgenemisszió (PIXE): ua. Pl.  (He 2+ ) - APXS (Spirit/Opportunity Mars-szondákon) A röntgensugárzást keltő egyéb kölcsönhatások: Röntgenemisszió bombázó töltött részecskékkel 1. Stabilizálódás E i =h i =  E i röntgenfotonsorozat (karakterisztikus röntgensugárzás) kibocsátásával 2. Auger e - -emisszióval, kis rendszámú elemeknél E1E1 EE E2E2 E3E3 e - ; p + ; D + ( 2 H + );  (He 2+ );... h  h  K L M V N e - ; p + ; D + ( 2 H + );  (He 2+ );...


Letölteni ppt "Röntgenanalitikai módszerek Kémiai analízis kérdései a mérendő mintáról: –Egynemű-e? Az-e, aminek deklarálták? Ha nem, hány más komponens van benne? (n)"

Hasonló előadás


Google Hirdetések